一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法技術

本發明專利技術屬于穩定平臺自動跟蹤系統控制電路檢測技術領域，具體涉及一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法。目的是提供一種不依賴外部儀器，減少人工操作的快速檢測方法。包含如下步驟：步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號，將讀取的數據求平均作為ADC的零位數據A0；步驟2、將DAC的輸出與ADC的輸入相連，使DAC輸出零值，ADC將讀到的信號取平均減去上一步獲得的ADC零位數據A0，即得到DAC的零位數據D0；步驟3、DAC輸出變化信號，使用ADC進行讀取，通過讀取的數據與輸出的數據進行比對。優點是：使用工裝將電路本身的DAC和ADC閉環聯結，通過測試程序使DAC輸出測試用模擬信號，對電路上ADC進行檢測。ADC通過讀取的模擬信號對電路上DAC進行檢測。完成閉環測試。

【技術實現步驟摘要】
—種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法
本專利技術屬于穩定平臺自動跟蹤系統控制電路檢測
，涉及一種電路快速檢 測技術。
技術介紹
穩定平臺自動跟蹤系統在軍事上獲得了廣泛的應用，要獲得良好的穩定跟蹤性 能，采集穩定平臺上傳感器信息的ADC和控制穩定平臺運動的DAC都需要較高精度。為了 提高精度和使控制電路具備通用性。需要對每塊電路板上ADC和DAC進行詳細的測試，并 對電路的初始零位進行測試并進行補償。人工對每塊電路進行測試需要專用的儀器(高精度信號發生器和高精度數字示 波器)和一定的專業技能，并需要較長時間。
技術實現思路
本專利技術的目的是在于提供一種對包含ADC和DAC的電路的不依賴外部儀器，減少 人工操作的快速檢測方法。本專利技術是這樣實現的一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法，其中，包含 如下步驟步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號，將讀取的數據求平均作為ADC的 零位數據AO，用于校準ADC讀數；步驟2、將DAC的輸出與ADC的輸入相連，使DAC輸出零值，ADC將讀到的信號取平 均減去上一步獲得的ADC零位數據A0，即得到DAC的零位數據D0，用于校準DAC的輸出；步驟3、DAC輸出變化信號，信號幅度為DAC的上下極限輸出值，每一次的變化幅度 為最低數據位，使用ADC進行讀取，通過讀取的數據與輸出的數據進行比對，此時的數據均 通過步驟I和步驟2中得到的零位數據進行修正；如果步驟I和步驟2的零位數據滿足預定的要求，并且步驟3中DAC輸出信號和 ADC讀取信號一致，則被檢測件通過檢測；否則，被檢測件沒有通過檢測。如上所述的一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法，其中，在步驟3中通過 檢測之后，將測的零位數據AO和DO記錄到板上的存儲器件中。本專利技術的優點是使用工裝將電路本身的DAC和ADC閉環聯結，通過測試程序使DAC 輸出測試用模擬信號，對電路上ADC進行檢測。ADC通過讀取的模擬信號對電路上DAC進行 檢測。完成閉環測試。電路再將測得的零位信號記錄到板上的存儲器件中，從而在使用過程中使用此參 數對DAC和ADC進行自動校準。測試過程不依賴于外部儀器，人工操作少，能快速準確的進行測試過程。具體實施方式下面結合具體實施例對本專利技術做進一步的說明一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法，包括如下步驟步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號，讀取的數據個數可以是一個也可 以是多個，一般讀取多個，將讀取的數據求平均作為ADC的零位數據A0，用于校準ADC讀數。步驟2、然后將DAC的輸出與ADC的輸入相連，通過程序使DAC輸出零值，ADC將讀 到的信號取平均減去上一步獲得的ADC零位數據，即得到DAC的零位數據D0，用于校準DAC 的輸出。上述兩個步驟可以判斷出ADC和DAC零位是否正常，如果ADC和DAC零位數據與 設定值差別過大，則進行記錄，用于本專利技術之后，使用高精度的儀器進行進一步的檢測。如 果ADC和DAC零位正常，繼續進行步驟3。步驟3、DAC輸出慢變的三角波信號，信號幅度為DAC的上下極限輸出值，變化幅度 為最低數據位，信號長度可以是一條斜線(從最小值到最大值或者從最大值到最小值)，也 可以是一個或者多個周期，ADC進行讀取，通過讀取的數據與輸出的數據(此時的數據均通 過步驟I和步驟2中得到的零位數據進行修正)進行比對，一致的話說明DAC和ADC的功 能和性能正常。本實施例中，DAC輸出數據的和ADC讀取數據的頻率保持一致，每個更新周期均輸 出不同的值，如此，能夠得到三角波的圖形。也可以DAC輸出數據時，每個值均保持多個周期，這樣得到的是帶有臺階的三角 波信號，可以進一步的了解在每個不同的值處，DAC和ADC的性能。進一步的，本實施例中，使用專用工裝實現上述電路的連接，能夠進一步加快測試 速度。測試過程使用編寫的軟件程序自動完成。如有異常還可根據讀取的數據對故障進行初步定位。用于本專利技術之后，使用高精 度的儀器進行進一步的檢測。雖然本專利技術所述的方法，對故障情況定位后，之后的檢測還需要使用高精度的外 部儀器進行，但是，在電路質量合格率很高的情況下，合格電路能夠通過所述方法，快速的 通過檢測，進而直接使用。如此，極大的減小了人工的工作量，減小了對外部高精度儀器的依賴。本專利技術以穩定平臺自動跟蹤系統為例進行了說明，但是實施范圍不限于此，所有 設置有DAC輸出電路和ADC輸入電路的電路系統均可以適用。權利要求1.一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法，其特征在于包含如下步驟 步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號，將讀取的數據求平均作為ADC的零位數據AO，用于校準ADC讀數； 步驟2、將DAC的輸出與ADC的輸入相連，使DAC輸出零值，ADC將讀到的信號取平均減去上一步獲得的ADC零位數據A0，即得到DAC的零位數據D0，用于校準DAC的輸出； 步驟3、DAC輸出變化信號，信號幅度為DAC的上下極限輸出值，每一次的變化幅度為最低數據位，使用ADC進行讀取，通過讀取的數據與輸出的數據進行比對，此時的數據均通過步驟I和步驟2中得到的零位數據進行修正； 如果步驟I和步驟2的零位數據滿足預定的要求，并且步驟3中DAC輸出信號和ADC讀取信號一致，則被檢測件通過檢測； 否則，被檢測件沒有通過檢測。2.如權利要求1所述的一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法，其特征在于 在步驟3中通過檢測之后，將測的零位數據AO和DO記錄到板上的存儲器件中。全文摘要本專利技術屬于穩定平臺自動跟蹤系統控制電路檢測
，具體涉及一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法。目的是提供一種不依賴外部儀器，減少人工操作的快速檢測方法。包含如下步驟步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號，將讀取的數據求平均作為ADC的零位數據A0；步驟2、將DAC的輸出與ADC的輸入相連，使DAC輸出零值，ADC將讀到的信號取平均減去上一步獲得的ADC零位數據A0，即得到DAC的零位數據D0；步驟3、DAC輸出變化信號，使用ADC進行讀取，通過讀取的數據與輸出的數據進行比對。優點是使用工裝將電路本身的DAC和ADC閉環聯結，通過測試程序使DAC輸出測試用模擬信號，對電路上ADC進行檢測。ADC通過讀取的模擬信號對電路上DAC進行檢測。完成閉環測試。文檔編號G01R31/28GK102998611SQ20111026600公開日2013年3月27日 申請日期2011年9月9日 優先權日2011年9月9日專利技術者張瑞 申請人:中國航天科工集團第三研究院第八三五八研究所本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種對包含ADC和DAC的電路的快速檢測方法，其特征在于：包含如下步驟：步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號，將讀取的數據求平均作為ADC的零位數據A0，用于校準ADC讀數；步驟2、將DAC的輸出與ADC的輸入相連，使DAC輸出零值，ADC將讀到的信號取平均減去上一步獲得的ADC零位數據A0，即得到DAC的零位數據D0，用于校準DAC的輸出；步驟3、DAC輸出變化信號，信號幅度為DAC的上下極限輸出值，每一次的變化幅度為最低數據位，使用ADC進行讀取，通過讀取的數據與輸出的數據進行比對，此時的數據均通過步驟1和步驟2中得到的零位數據進行修正；如果步驟1和步驟2的零位數據滿足預定的要求，并且步驟3中DAC輸出信號和ADC讀取信號一致，則被檢測件通過檢測；否則，被檢測件沒有通過檢測。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：張瑞，
申請(專利權)人：中國航天科工集團第三研究院第八三五八研究所，
類型：發明
國別省市：