芯片測試系統技術方案

本實用新型專利技術涉及一種芯片測試系統，與外部測試芯片連接，包括上位機、測試板、IIC總線；上位機內設測試軟件并通過USB接口與測試板連接,用于生成測試數據并通過USB接口傳遞給測試板；測試板接收測試數據并進行USB協議與IIC協議轉換，通過ICC總線與外部測試芯片連接。能夠可視化的查看修改寄存器的數據，得到的返回值可以直觀的顯示在PC端，以及批量讀取Memory、Flash中的數據，便宜測試人員的對芯片內部數據有一個直觀的了解。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及芯片測試領域，尤其涉及芯片測試系統。
技術介紹
數字集成電路設計(IC設計)一般有以下流程I.系統功能設計階段設計人員產品的應用場合，設定一些諸如功能、操作速度、接口規格、環境溫度及消耗功率等規格，以做為將來電路設計時的依據。更可進一步規劃軟件模塊及硬件模塊該如何劃分。2.設計描述和行為級驗證系統功能設計完成后，可以依據功能將SOC劃分為若干功能模塊，并決定實現這些功能將要使用的IP核。此階段將接影響了 SOC內部的架構及各模塊間互動的信號，及未來產品的可靠性。決定模塊之后，可以用VHDL或Verilog等硬件描述語言實現各模塊的設計。接著，利用VHDL或Verilog的電路仿真器,對設計進行功能驗證。3.邏輯綜合確定設計描述正確后,可以使用邏輯綜合工具(synthesizer)進行綜合。4.門級驗證門級功能驗證是寄存器傳輸級驗證。主要的工作是要確認經綜合后的電路是否符合功能需求，該工作一般利用門電路級驗證工具完成。5.布局和布線布局指將設計好的功能模塊合理地安排在芯片上，規劃好它們的位置。布線則指完成各模塊之間互連的連線。6.流片測試通過半導體工藝制造出所設計的芯片，用以測試。7.大規模量產。
技術實現思路
本技術應用于芯片流片成功后的板級測試階段，在芯片大規模生產之前一般需要對其進行“試生產”也就是流片，對流片后的樣品進行檢測驗證，用以檢測集成電路設計是否成功，功能是否滿足要求等，為達到上述目的，本技術采用的技術方案是一種芯片測試系統，與外部測試芯片連接，其特征在于包括上位機、測試板、IIC總線；所述的上位機通過USB接口與測試板連接，用于生成測試數據并通過USB接口傳遞給測試板；所述的測試板接收測試數據并進行USB協議與IIC協議轉換，通過ICC總線與外部測試芯片連接。本技術的第一優選方案為，所述的USB接口為USB2. O接口。本技術的第二優選方案為，所述的USB協議為USB2. O協議。本技術的第三優選方案為，所述的內設測試軟件為可視化界面。本技術的第四優選方案為，所述的測試板包括芯片Cy68013。本技術的技術優勢在于能夠可視化的查看修改寄存器的數據，得到的返回值可以直觀的顯示在PC端，以及批量讀取Memory、Flash中的數據，便宜測試人員的對芯片內部數據有一個直觀的了解。以下結合附圖和具體實施方式對技術做進一步說明。附圖說明圖I為本實施例結構示意圖。具體實施方式參考圖1，芯片測試系統，與外部測試芯片連接，包括上位機、測試板、IIC總線；上位機內設測試軟件并通過USB接口與測試板連接，用于生成測試數據并通過USB接口傳遞給測試板；測試板接收測試數據并進行USB協議與IIC協議轉換，通過ICC總線與外部測試芯片連接。USB接口為USB2. O接口。USB協議為USB2. O協議。內設測試軟件為可視化界面。測試板包括芯片Cy68013。具體實現方法包括以下步驟(I)操作者通過可視化界面把數據輸入上位機，上位機內部軟件把數據格式化成USB2. O協議的數據，然后通過USB接口把數據發送出去；(2)上位機軟件發送來的數據通過USB2. O接口進入到板級芯片Cy68013中，在Cy68013中完成USB2. O到IIC協議轉化，最后IIC總線把數據發送出去。(3) IIC總線根據扇區地址把數據配送到各個寄存器、Memory等接口中。(4)各個接口、寄存器的接收數據，經過芯片功能邏輯運算后，再通過這個鏈路返回到PC端，顯示。上位機軟件上位機內部軟件包括read按鈕、write按鈕、對話框、根據芯片的模塊劃分成不同的功能頁，功能頁內包涵著對應的寄存器，使用寄存器ID對其進行排序，每個寄存器有讀寫兩種操作，點擊read按鈕可以讀取寄存器內的數據，并且返回到相應的窗體上；點擊write按鈕，可以把相應對話框中的數據寫到寄存器中，如果讀寫正常會有相應的提示。在最下端有記錄操作的對話框。b) USB到IIC協議轉換在測試版中搭載了 Cypress公司的Cy68013芯片，芯片連接到PC機的USB接口端可以接受PC傳輸過來的數據，在Cy68013芯片中集成了 8051單片機，使用8051的兩個普通I/O 口可的模擬出IIC總線協議，數據通過IIC總線發送出去。c) IIC總線到芯片端在IIC總線搭載的數據中包含了各個寄存器的扇區地址，各個寄存器通過扇區地址尋址找到相應的數據，數據進入相應的寄存器經過邏輯運算后重新返回IIC總線，根據原鏈路反送回去。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種芯片測試系統，與外部測試芯片連接，其特征在于：包括上位機、測試板、IIC總線；所述的上位機通過USB接口與測試板連接,用于生成測試數據并通過USB接口傳遞給測試板；所述的測試板接收測試數據并進行USB協議與IIC協議轉換，通過ICC總線與外部測試芯片連接。

【技術特征摘要】
1.一種芯片測試系統，與外部測試芯片連接，其特征在于包括上位機、測試板、IIC總線. 所述的上位機通過USB接口與測試板連接，用于生成測試數據并通過USB接口傳遞給測試板； 所述的測試板接收測試數據并進行USB協議...

【專利技術屬性】
技術研發人員：王茂海，
申請(專利權)人：無錫華大國奇科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：