一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架制造技術

本實用新型專利技術公開了一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架，該支架包括支撐桿(1)、安裝座(2)、旋轉環(3)、定位環(4)、旋轉盤(5)、旋鈕(6)和測試桿(7)，安裝座(2)設于支撐桿(1)的頂端，定位環(4)的一側設有第一凸緣(41)，第一凸緣(41)穿過旋轉環(3)與安裝座(2)固接，定位環(4)的內周側設有多個凹槽(42)，其中心設有至少一個連接鍵(43)，每個連接鍵(43)的一端與旋鈕(6)固接，其另一端與定位鍵(44)鉸接，旋轉盤(5)的一側設有第二凸緣(51)，第二凸緣(51)上設有缺口(52)，旋轉盤(5)的中心設有轉軸(53)，第二凸緣(51)穿進定位環(4)，旋鈕(6)安裝于轉軸(53)上，旋鈕(6)能繞轉軸(53)轉動，旋轉環(3)與旋轉盤(5)固接，測試桿(7)與旋轉盤(5)固接。所述支架能夠使校準瞬變電磁場的場均勻性的速度明顯加快。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種支撐裝置，特別涉及一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架。
技術介紹
校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要應用校準系統來測試多個位置點。校準瞬變電磁場的場均勻性時，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調節測試探頭的位置。具體地，校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要通過調節支架來改變探頭的高度，甚至需要通過移動支架實現探頭位置的改變。現有技術中的支架在用于校準瞬變電磁場的場均勻性時非常不便，校準速度緩慢。目前，非常需要一種用于快速校準瞬變電磁場的場均勻性的支架。·
技術實現思路
本技術的目的是提供一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架。本技術提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架包括支撐桿、安裝座、旋轉環、定位環、旋轉盤、旋鈕和測試桿，所述安裝座設于所述支撐桿的頂端，所述定位環的一側設有第一凸緣，所述第一凸緣的外徑與所述旋轉環的內徑匹配，使得所述第一凸緣能夠穿過所述旋轉環與所述安裝座固接，所述定位環的內周側設有多個凹槽，所述定位環的中心設有至少一個連接鍵，每個所述連接鍵的一端與所述旋鈕固接，每個所述連接鍵的另一端與定位鍵鉸接，所述旋轉盤的一側設有外徑小于所述定位環內徑的第二凸緣，所述第二凸緣上設有與所述定位鍵配合的缺口，所述旋轉盤的設有所述第二凸緣的一側的中心設有轉軸，所述第二凸緣從所述定位環的與所述第一凸緣相對的一側穿進所述定位環，且所述定位鍵能夠穿過所述缺口，所述旋鈕安裝于所述轉軸上，且所述旋鈕能夠繞所述轉軸轉動，所述旋轉環與所述旋轉盤固接，所述測試桿固接于所述旋轉盤的與所述第二凸緣相對的一側，所述測試桿上設有至少一個探頭固定裝置。優選地，所述安裝座呈圓環形且設有多個第一螺孔，所述第一凸緣上設有多個與所述第一螺孔配合的第二螺孔，所述定位環通過所述第一螺孔和所述第二螺孔與所述安裝座固接。優選地，所述旋轉環設有多個第三螺孔，所述旋轉盤上設有多個與所述第三螺孔配合的第四螺孔，所述旋轉盤通過所述第三螺孔和所述第四螺孔與所述旋轉環固接。優選地，每個所述連接鍵的一端設有第五螺孔，所述旋鈕上設有至少一個與所述第五螺孔配合的第六螺孔，所述連接鍵通過所述第五螺孔和所述第六螺孔與所述旋鈕固接。優選地，每個所述連接鍵的另一端設有不帶螺紋的通孔，所述連接鍵通過所述通孔與所述定位鍵鉸接。優選地，所述支架還包括與支撐桿的底端固接的底座。優選地，所述支撐桿的高度可調。優選地，所述測試桿的長度可調。優選地，所述探頭固定裝置設于所述測試桿的末端或中間。本技術具有如下有益效果(I)當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統中采用所述支架時，能夠使校準速度明顯加快；(2)所述支架對探頭的位置和角度的調節精度高；(3)所述支架制作成本低，使用方便。附圖說明圖I為本技術實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架的示意圖；圖2為本技術實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架的安裝座2、旋轉環3、定位環4、旋轉盤5和旋鈕6的連接示意圖；圖3為旋鈕6被沿逆時針方向旋轉時定位環4的俯視圖；圖4為停止旋轉旋鈕6且測試桿7的位置固定時定位環4的俯視圖。具體實施方式以下結合附圖及實施例對本技術的內容作進一步的描述。本技術提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架包括支撐桿I、安裝座2、旋轉環3、定位環4、旋轉盤5、旋鈕6、測試桿7和底座8，如圖I所示。安裝座2設于支撐桿I的頂端。支撐桿I的底端與底座8固接。定位環4的一側設有第一凸緣41,第一凸緣41的外徑與旋轉環3的內徑匹配，使得第一凸緣41能夠穿過旋轉環3與安裝座2固接，如圖2所示。在本實施例中，安裝座2呈例如圓環形且設有例如多個第一螺孔21，第一凸緣41上設有例如多個與第一螺孔21配合的第二螺孔45，定位環4通過第一螺孔21和第二螺孔45與安裝座2固接，如圖2所示。定位環4的內周側設有多個凹槽42，定位環4的中心設有至少一個連接鍵43，每個連接鍵43的一端與旋鈕6固接，每個連接鍵43的另一端與定位鍵44鉸接，如圖2所示。在本實施例中，定位環4的中心設有例如對稱分布的四個連接鍵43。旋轉盤5的一側設有外徑小于定位環4內徑的第二凸緣51，第二凸緣51上設有與定位鍵44配合的缺口 52。旋轉盤5的設有第二凸緣51的一側的中心設有轉軸53。第二凸緣51從定位環4的與第一凸緣41相對的一側穿進定位環4，且定位鍵44能夠穿過缺口 52，旋鈕6安裝于轉軸53上，且旋鈕6能夠繞轉軸53轉動，旋轉環3與旋轉盤5固接。測試桿7固接于旋轉盤5的與第二凸緣51相對的一側，測試桿7上設有至少一個探頭固定裝置71。在本實施例中，旋轉環3設有例如多個第三螺孔31，旋轉盤5上設有多個與第三螺孔31配合的例如第四螺孔54，旋轉盤5通過第三螺孔31和第四螺孔54與旋轉環3固接。每個連接鍵43的一端設有例如第五螺孔431，旋鈕6上設有至少一個與第五螺孔431配合的例如第六螺孔61，連接鍵43通過第五螺孔431和第六螺孔61與旋鈕6固接。每個連接鍵43的另一端設有例如不帶螺紋的通孔432，連接鍵43通過通孔432與定位鍵44鉸接。探頭固定裝置71設于測試桿7的中間或末端，用于固定探頭。在本實施例中，測試桿7的末端設有例如一個探頭固定裝置71。在本實施例中，支撐桿I的高度例如可調，測試桿7的長度例如可調。如圖3所示，當旋鈕6被沿例如逆時針方向旋轉時,旋鈕6帶動連接鍵43沿逆時針方向轉動，連接鍵43進而帶動定位鍵44從凹槽42內脫出并向靠近定位環4中心的方向穿過旋轉盤5的缺口 52,之后,旋鈕6帶動旋轉盤5沿逆時針方向轉動,旋轉盤5進而帶動測試桿7沿逆時針方向轉動。旋鈕6也可以被沿順時針方向旋轉。旋鈕6被沿順時針方向旋轉時的情況與旋鈕6被沿逆時針方向旋轉時的情況類似。當通過旋轉旋鈕6使測試桿7到達測試位置時，停止旋轉旋鈕6，定位鍵44向遠離定位環4中心的方向穿過旋轉盤5的缺口 52進入凹槽42內，且定位鍵44與連接鍵43成一條直線，旋轉盤5的位置被定位鍵44固定，進而使得測試桿7的位置被固定。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統中采用所述支架時，能夠使校準速度明顯加快。所述支架對探頭的位置和角度的調節精度高。所述支架制作成本低，使用方便。 應當理解，以上借助優選實施例對本技術的技術方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領域的普通技術人員在閱讀本技術說明書的基礎上可以對各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本技術各實施例技術方案的精神和范圍。權利要求1.用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，該支架包括支撐桿(I)、安裝座(2)、旋轉環(3)、定位環(4)、旋轉盤(5)、旋鈕(6)和測試桿(7)，所述安裝座(2)設于所述支撐桿(I)的頂端，所述定位環(4)的一側設有第一凸緣(41)，所述第一凸緣(41)的外徑與所述旋轉環(3)的內徑匹配，使得所述第一凸緣(41)能夠穿過所述旋轉環(3)與所述安裝座⑵固接，所述定位環⑷的內周側設有多個凹槽(42)，所述定位環(4)的中心設有至少一個連接鍵(43)，每個所述連接鍵(43)的一端與所述旋鈕(6)固接，每個所述連接鍵本文檔來自技高網...

【技術保護點】
用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，該支架包括支撐桿(1)、安裝座(2)、旋轉環(3)、定位環(4)、旋轉盤(5)、旋鈕(6)和測試桿(7)，所述安裝座(2)設于所述支撐桿(1)的頂端，所述定位環(4)的一側設有第一凸緣(41)，所述第一凸緣(41)的外徑與所述旋轉環(3)的內徑匹配，使得所述第一凸緣(41)能夠穿過所述旋轉環(3)與所述安裝座(2)固接，所述定位環(4)的內周側設有多個凹槽(42)，所述定位環(4)的中心設有至少一個連接鍵(43)，每個所述連接鍵(43)的一端與所述旋鈕(6)固接，每個所述連接鍵(43)的另一端與定位鍵(44)鉸接，所述旋轉盤(5)的一側設有外徑小于所述定位環(4)內徑的第二凸緣(51)，所述第二凸緣(51)上設有與所述定位鍵(44)配合的缺口(52)，所述旋轉盤(5)的設有所述第二凸緣(51)的一側的中心設有轉軸(53)，所述第二凸緣(51)從所述定位環(4)的與所述第一凸緣(41)相對的一側穿進所述定位環(4)，且所述定位鍵(44)能夠穿過所述缺口(52)，所述旋鈕(6)安裝于所述轉軸(53)上，且所述旋鈕(6)能夠繞所述轉軸(53)轉動，所述旋轉環(3)與所述旋轉盤(5)固接，所述測試桿(7)固接于所述旋轉盤(5)的與所述第二凸緣(51)相對的一側，所述測試桿(7)上設有至少一個探頭固定裝置(71)。...

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：姚利軍，沈濤，黃建領，
申請(專利權)人：北京無線電計量測試研究所，
類型：實用新型
國別省市：