一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架制造技術

本實用新型專利技術公開了一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架，該支架包括底座(1)、轉軸(2)、圓拱形的第一拱襯(31)、圓拱形的第二拱襯(32)、第一測試桿(41)、第二測試桿(42)、第一旋鈕(51)、第二旋鈕(52)、第一探頭固定裝置(61)和第二探頭固定裝置(62)。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統中采用所述支架時，所述支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調節探頭的位置和角度。所述支架對探頭的位置和角度的調節精度高。所述支架制作成本低，使用方便。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種支撐裝置，特別涉及一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架。
技術介紹
用于校準瞬變電磁場的場均勻性的系統通常需要測試多個位置。校準瞬變電磁場的場均勻性時，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調節測試探頭的位置和角度。具體地，校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要通過調節支架來改變固定有探頭的測試桿的角度和長度，甚至需要通過調節支架實現測試桿繞固定軸的轉動。現有技術中的支架都不能直接實現上述功能，因此在用于校準瞬變電磁場的場均勻性時非常不便。目前，非常需要一種能夠用于校準瞬變電磁場的場均勻性的支架。·
技術實現思路
本技術的目的是提供一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架。本技術提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架包括底座、轉軸、圓拱形的第一拱襯、圓拱形的第二拱襯、第一測試桿、第二測試桿、第一旋鈕、第二旋鈕、第一探頭固定裝置和第二探頭固定裝置；所述底座的上表面設有凸起，所述轉軸固定于所述凸起上，所述第一拱襯和所述第二拱襯設于所述底座的上表面，且所述凸起和所述轉軸穿過所述第一拱襯和所述第二拱襯的中空部分，所述第一拱襯所在的平面和所述第二拱襯所在的平面分別與所述底座的上表面垂直；所述第一測試桿和所述第二測試桿的底端分別呈“h”字形，所述第一測試桿和所述第二測試桿的底端分別與所述轉軸鉸接，且所述第一測試桿和所述第二測試桿分別能夠繞所述轉軸轉動，所述第一拱襯被設置為穿過所述第一測試桿的底端的缺口，所述第二拱襯被設置為穿過所述第二測試桿的底端的缺口；所述第一拱襯上設有圓拱形的第一凹槽，所述第一旋鈕上設有螺紋，所述第一測試桿底端的第二側板上設有與所述第一旋鈕配合的螺紋，所述第一旋鈕穿過所述第一測試桿底端的第一側板和所述第一凹槽與所述第一測試桿底端的第二側板配合，通過旋緊所述第一旋鈕能夠使所述第一測試桿的位置固定；所述第二拱襯上設有圓拱形的第二凹槽，所述第二旋鈕上設有螺紋，所述第二測試桿底端的第四側板上設有與所述第二旋鈕配合的螺紋，所述第二旋鈕穿過所述第二測試桿底端的第三側板和所述第二凹槽與所述第二測試桿底端的第四側板配合，通過旋緊所述第二旋鈕能夠使所述第二測試桿的位置固定；所述第一探頭固定裝置設于所述第一測試桿上；所述第二探頭固定裝置設于所述第二測試桿上，所述第一探頭固定裝置能夠沿所述第一測試桿自由滑動，所述第二探頭固定裝置能夠沿所述第二測試桿自由滑動，所述第一探頭固定裝置上設有第三旋鈕，所述第二探頭固定裝置上設有第四旋鈕，通過旋緊所述第三旋鈕能夠使所述第一探頭固定裝置的位置固定，通過旋緊所述第四旋鈕能夠使所述第二探頭固定裝置的位置固定。優選地，所述第一拱襯和所述第二拱襯上分別設有角度刻度。優選地，所述第一測試桿的底端設有第一角度觀察窗，所述第二測試桿的底端設有第二角度觀察窗。優選地，所述第一測試桿和所述第二測試桿上分別設有長度刻度。優選地，所述第一探頭固定裝置上設有第一長度觀察窗，所述第二探頭固定裝置上設有第二長度觀察窗。優選地，所述凸起呈圓拱形。本技術具有如下有益效果(I)當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統中采用所述支架時，所述支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調節探頭的位置和角度；(2)所述支架對探頭的位置和角度的調節精度高；(3)所述支架制作成本低，使用方便。附圖說明圖I為本技術實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架的示意圖；圖2為本技術實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架的第一拱襯的不意圖；圖3為本技術實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架的第二拱襯的不意圖；圖4為本技術實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架的第一測試桿的側視圖；圖5為本技術實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架的第一測試桿的正視圖；圖6為本技術實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架的第二測試桿的側視圖；圖7為本技術實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架的第二測試桿的正視圖。具體實施方式以下結合附圖及實施例對本技術的內容作進一步的描述。本實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架包括底座I、轉軸2、圓拱形的第一拱襯31、圓拱形的第二拱襯32、第一測試桿41、第二測試桿42、第一旋鈕51、第二旋鈕52、第一探頭固定裝置61和第二探頭固定裝置62，如圖I所示。底座I的上表面設有凸起7，轉軸2固定于凸起7上，如圖I所示。在本實施例中，凸起7呈例如圓拱形。第一拱襯31和第二拱襯32設于底座I的上表面，且凸起7和轉軸2穿過第一拱襯31和第二拱襯32的中空部分，第一拱襯31所在的平面和第二拱襯32所在的平面分別與底座I的上表面垂直。第一測試桿41和第二測試桿42的底端分別呈“h”字形，如圖4和圖6所示。第一測試桿41和第二測試桿42的底端分別與轉軸2鉸接，且第一測試桿41和第二測試桿42分別能夠繞轉軸2轉動。第一拱襯31被設置為穿過例如第一測試桿41的底端的缺口 412 ;第二拱襯32被設置為穿過例如第二測試桿42的底端的缺口422。第一拱襯31上設有圓拱形的第一凹槽311，如圖I和圖2所示。第一旋鈕51上設有螺紋，第一測試桿41底端的第二側板414上設有與第一旋鈕51配合的螺紋。第一旋鈕51穿過第一測試桿41底 端的第一側板413和第一凹槽311與第一測試桿41底端的第二側板414配合，通過旋緊第一旋鈕51能夠使第一測試桿41的位置固定。第二拱襯32上設有圓拱形的第二凹槽321，如圖I和圖3所示。第二旋鈕52上設有螺紋，第二測試桿42底端的第四側板424上設有與第二旋鈕52配合的螺紋。第二旋鈕52穿過第二測試桿42底端的第三側板423和第二凹槽321與第二測試桿42底端的第四側板424配合，通過旋緊第二旋鈕52能夠使第二測試桿42的位置固定。第一探頭固定裝置61設于第一測試桿41上；第二探頭固定裝置62設于第二測試桿42上，如圖I所示。第一探頭固定裝置61能夠沿第一測試桿41自由滑動；第二探頭固定裝置62能夠沿第二測試桿42自由滑動。第一探頭固定裝置61上設有例如第三旋鈕611 ;第二探頭固定裝置62上設有例如第四旋鈕621，如圖5和圖7所示。通過旋緊第三旋鈕611能夠使第一探頭固定裝置61的位置固定；通過旋緊第四旋鈕621能夠使第二探頭固定裝置62的位置固定。在本實施例中，第一探頭固定裝置61用于固定例如測試探頭81，第二探頭固定裝置62用于固定例如參考探頭82。在本實施例中，第一拱襯31和第二拱襯32上分別設有角度刻度。如圖5和圖7所不，第一測試桿41的底端設有例如第一角度觀察窗411,第二測試桿42的底端設有例如第二角度觀察窗421，用于觀察角度刻度值。第一測試桿41和第二測試桿42上分別設有長度刻度。第一探頭固定裝置61上設有第一長度觀察窗612，第二探頭固定裝置62上設有第二長度觀察窗622，用于觀察長度刻度。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統中采用所述支架時，所述支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調節探頭的位置和角度。所述支架對探頭的位置和角度的調節精度高。所述支架制作成本低，使用方便。應當理解，以上借助優選實施例對本技術的技術方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領域的普通技術人本文檔來自技高網...

【技術保護點】
用于校準瞬變電磁場場均勻性的支架，其特征在于，該支架包括底座(1)、轉軸(2)、圓拱形的第一拱襯(31)、圓拱形的第二拱襯(32)、第一測試桿(41)、第二測試桿(42)、第一旋鈕(51)、第二旋鈕(52)、第一探頭固定裝置(61)和第二探頭固定裝置(62)；所述底座(1)的上表面設有凸起(7)，所述轉軸(2)固定于所述凸起(7)上，所述第一拱襯(31)和所述第二拱襯(32)設于所述底座(1)的上表面，且所述凸起(7)和所述轉軸(2)穿過所述第一拱襯(31)和所述第二拱襯(32)的中空部分，所述第一拱襯(31)所在的平面和所述第二拱襯(32)所在的平面分別與所述底座(1)的上表面垂直；所述第一測試桿(41)和所述第二測試桿(42)的底端分別呈“h”字形，所述第一測試桿(41)和所述第二測試桿(42)的底端分別與所述轉軸(2)鉸接，且所述第一測試桿(41)和所述第二測試桿(42)分別能夠繞所述轉軸(2)轉動，所述第一拱襯(31)被設置為穿過所述第一測試桿(41)的底端的缺口(412)，所述第二拱襯(32)被設置為穿過所述第二測試桿(42)的底端的缺口(422)；所述第一拱襯(31)上設有圓拱形的第一凹槽(311)，所述第一旋鈕(51)上設有螺紋，所述第一測試桿(41)底端的第二側板(414)上設有與所述第一旋鈕(51)配合的螺紋，所述第一旋鈕(51)穿過所述第一測試桿(41)底端的第一側板(413)和所述第一凹槽(311)與所述第一測試桿(41)底端的第二側板(414)配合，通過旋緊所述第一旋鈕(51)能夠使所述第一測試桿(41)的位置固定；所述第二拱襯(32)上設有圓拱形的第二凹槽(321)，所述第二旋鈕(52)上設有螺紋，所述第二測試桿(42)底端的第四側板(424)上設有與所述第二旋鈕(52)配合的螺紋，所述第二旋鈕(52)穿過所述第二測試桿(42)底端的第三側板(423)和所述第二凹槽(321)與所述第二測試桿(42)底端的第四側板(424)配合，通過旋緊所述第二旋鈕(52)能夠使所述第二測試桿(42)的位置固定；所述第一探頭固定裝置(61)設于所述第一測試桿(41)上；所述第二探頭固定裝置(62)設于所述第二測試桿(42)上，所述第一探頭固定裝置(61)能夠沿所述第一測試桿(41)自由滑動，所述第二探頭固定裝置(62)能夠沿所述第二測試 桿(42)自由滑動，所述第一探頭固定裝置(61)上設有第三旋鈕(611)，所述第二探頭固定裝置(62)上設有第四旋鈕(621)，通過旋緊所述第三旋鈕(611)能夠使所述第一探頭固定裝置(61)的位置固定，通過旋緊所述第四旋鈕(621)能夠使所述第二探頭固定裝置(62)的位置固定。...

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：姚利軍，沈濤，黃建領，
申請(專利權)人：北京無線電計量測試研究所，
類型：實用新型
國別省市：