本發(fā)明專利技術(shù)涉及一種動態(tài)存儲器的測試裝置及測試方法。動態(tài)存儲器測試裝置包括系統(tǒng)整合式芯片，用以耦接至動態(tài)存儲器。系統(tǒng)整合式芯片包括控制單元以及內(nèi)嵌式存儲裝置。控制單元耦接至動態(tài)存儲器。內(nèi)嵌式存儲裝置儲存存儲器測試程序碼，其中，控制單元讀取存儲器測試程序碼并借助執(zhí)行存儲器測試程序碼以對動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及一種動態(tài)存儲器測試裝置及測試方法，且特別是涉及一種利用系統(tǒng)整合式芯片進行外部動態(tài)存儲器測試的測試裝置及測試方法。
技術(shù)介紹
請參見圖1，圖1繪示公知技術(shù)的動態(tài)存儲器測試裝置的方塊。在圖1中，控制器110耦接至動態(tài)存儲器120，并針對動態(tài)存儲器120執(zhí)行測試操作。控制器110是系統(tǒng)整合式芯片。在此架構(gòu)下，當控制器110針對外部的動態(tài)存儲器進行測試時，控制器110會由動態(tài)存儲器120來讀取測試程序碼121，并通過執(zhí)行測試程序碼121來對動態(tài)存儲器120進行測試操作。由上述的說明可以得知，圖1繪示的公知技術(shù)的動態(tài)存儲器測試裝置中，由于測試程序碼121被儲存在動態(tài)存儲裝置120，因此，動態(tài)存儲器120中用來儲存測試程序碼121的存儲區(qū)塊的內(nèi)容不可以被破壞，也因此，要針對儲存測試程序碼121的存儲區(qū)塊進行測試是不可能的。也就是說，這樣的架構(gòu)并無法針對動態(tài)存儲器120進行完整的測試操作。再者，在動態(tài)存儲裝置120儲存測試程序碼121的存儲區(qū)塊無法被測試的前提下，一旦儲存測試程序碼121的存儲區(qū)塊有損壞的現(xiàn)象發(fā)生時，所儲存的測試程序碼121也必然是不正確的數(shù)據(jù)。當控制器110執(zhí)行錯誤的測試程序碼121時，將無法有效執(zhí)行測試操作，嚴重的還可能會造成系統(tǒng)死機或是重新開機的可能。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)提供一種動態(tài)存儲器測試裝置及測試方法，可提升動態(tài)存儲器的測試效能。本專利技術(shù)的動態(tài)存儲器測試裝置包括系統(tǒng)整合式芯片，用以耦接至動態(tài)存儲器。系統(tǒng)整合式芯片包括控制單元以及內(nèi)嵌式存儲裝置。控制單元耦接至動態(tài)存儲器。內(nèi)嵌式存儲裝置儲存存儲器測試程序碼，其中，控制單元讀取存儲器測試程序碼并借助執(zhí)行存儲器測試程序碼以對動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。在本專利技術(shù)的一實施例中，動態(tài)存儲器測試裝置還包括連接接口。連接接口耦接至內(nèi)嵌式存儲裝置，其中，內(nèi)嵌式存儲裝置借助連接接口耦接外部儲存單元，并由外部儲存單元讀取存儲器測試程序碼。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的連接接口包括內(nèi)部系統(tǒng)總線接口及通用串行總線接口的至少其中之一。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的控制單元包括中央處理單元以及動態(tài)存儲器控制器。動態(tài)存儲器控制器耦接中央處理單元，其中，中央處理單元執(zhí)行存儲器測試程序碼以通過動態(tài)存儲器控制器對動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的內(nèi)嵌式存儲裝置包括靜態(tài)存儲器以及靜態(tài)存儲器控制器。靜態(tài)存儲器用以儲存存儲器測試程序碼。靜態(tài)存儲器控制器耦接靜態(tài)存儲器，靜態(tài)存儲器控制器接收存儲器測試程序碼，并將存儲器測試程序碼儲存于靜態(tài)存儲器中，并由靜態(tài)存儲器讀取存儲器測試程序碼以提供存儲器測試程序碼至中央處理單元。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的靜態(tài)存儲器還包括儲存動態(tài)存儲器的初始化信息以及動態(tài)存儲器的測試模式啟動信息。本專利技術(shù)提出的動態(tài)存儲器的測試方法，包括：提供系統(tǒng)整合式芯片，并使存儲器測試程序碼儲存于系統(tǒng)整合式芯片的內(nèi)嵌式存儲裝置中；由內(nèi)嵌式存儲裝置讀取存儲器測試程序；以及，執(zhí)行存儲器測試程序以對動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。基于上述，本專利技術(shù)將測試程序碼放置在受測的動態(tài)存儲器的外部，如此一來，動態(tài)存儲器可以完整的被測試，且系統(tǒng)整合式芯片所執(zhí)行的測試程序碼也不會有可能發(fā)生錯誤的狀態(tài)，使動態(tài)存儲器的測試操作，可以無風險地有效被執(zhí)行。為讓本專利技術(shù)的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文列舉實施例，并配合附圖做詳細說明如下。附圖說明圖1繪示的公知技術(shù)的動態(tài)存儲器測試裝置。圖2繪示本專利技術(shù)一實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的示意圖。圖3繪示本專利技術(shù)另一實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的示意圖。圖4繪示本專利技術(shù)實施例的系統(tǒng)式整合芯片400的一實施方式。圖5繪示本專利技術(shù)實施例中靜態(tài)存儲器的儲存內(nèi)容的示意圖。圖6繪示本專利技術(shù)實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的邏輯地址配置的示意圖。圖7繪示本專利技術(shù)一實施例的動態(tài)存儲器測試的流程圖。附圖符號說明110：控制器120：動態(tài)存儲器121：測試程序碼200：動態(tài)存儲器測試裝置300：動態(tài)存儲器測試裝置210：系統(tǒng)整合式芯片310：系統(tǒng)整合式芯片400：系統(tǒng)整合式芯片220、320：動態(tài)存儲器211、311、410：控制單元TCODE：存儲器測試程序碼D3：存儲器測試程序碼212：內(nèi)嵌式存儲裝置312：內(nèi)嵌式存儲裝置313：連接接口330：外部儲存單元411：中央處理單元412：動態(tài)存儲器控制器420：內(nèi)嵌式存儲裝置422：靜態(tài)存儲器D1：初始化信息D2：測試模式啟動信息S710～S730：存儲器測試步驟具體實施方式請參照圖2，圖2繪示本專利技術(shù)一實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的示意圖。動態(tài)存儲器測試裝置200包括系統(tǒng)整合式芯片210。其中，系統(tǒng)整合式芯片210耦接動態(tài)存儲器220并可對動態(tài)存儲器220進行測試操作。動態(tài)存儲器220可以是動態(tài)隨機存儲器(DynamicRandomAccessMemory,DRAM)。系統(tǒng)整合式芯片210包括控制單元211以及內(nèi)嵌式存儲裝置212。控制單元211耦接至動態(tài)存儲器220，內(nèi)嵌式存儲裝置212則耦接至控制單元211。其中，關(guān)于動態(tài)存儲器220的測試方面，內(nèi)嵌式存儲裝置212可儲存存儲器測試程序碼TCODE，而當動態(tài)存儲器220的測試操作要進行時，控制單元211可由內(nèi)嵌式存儲裝置212讀取其所儲存的存儲器測試程序碼TCODE，并通過執(zhí)行存儲器測試程序碼TCODE來進行對動態(tài)存儲器220的測試操作。在本實施例中，存儲器測試程序碼TCODE可以由系統(tǒng)整合式芯片210外部的元件來提供，其中，內(nèi)嵌式存儲裝置212可以由外部元件來接收存儲器測試程序碼TCODE，并將其儲存在內(nèi)嵌式存儲裝置212中。當控制單元211要執(zhí)行動態(tài)存儲器220的測試操作時，內(nèi)嵌式存儲裝置212則可提供其所儲存的存儲器測試程序碼TCODE至控制單元211以供控制單元211執(zhí)行相對應的動態(tài)存儲器220的測試操作。值得注意的是，本專利技術(shù)實施例存儲器測試程序碼TCODE并非由受測的動態(tài)存儲器220所提供。也就是說，存儲器測試程序碼TCODE并不會占去動態(tài)存儲器220的部分存儲區(qū)域。當控制單元211對動態(tài)存儲器220進行測試操作時，可以完整地對動態(tài)存儲器220的所有的存儲區(qū)域進行測試。另外，本專利技術(shù)實施例存儲器測試程序碼TCODE可以由可靠本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護點】
一種動態(tài)存儲器測試裝置，包括：一系統(tǒng)整合式芯片，耦接至該動態(tài)存儲器，包括：一控制單元，耦接至該動態(tài)存儲器；以及一內(nèi)嵌式存儲裝置，儲存一存儲器測試程序碼，其中，該控制單元讀取該存儲器測試程序碼并借助執(zhí)行該存儲器測試程序碼以對該動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。
【技術(shù)特征摘要】
2014.12.24 TW 1031452231.一種動態(tài)存儲器測試裝置，包括：
一系統(tǒng)整合式芯片，耦接至該動態(tài)存儲器，包括：
一控制單元，耦接至該動態(tài)存儲器；以及
一內(nèi)嵌式存儲裝置，儲存一存儲器測試程序碼，
其中，該控制單元讀取該存儲器測試程序碼并借助執(zhí)行該存儲器測試程
序碼以對該動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。
2.如權(quán)利要求1所述的動態(tài)存儲器測試裝置，還包括：
一連接接口，耦接至該內(nèi)嵌式存儲裝置，
其中，該內(nèi)嵌式存儲裝置借助該連接接口耦接一外部儲存單元，并由該
外部儲存單元讀取該存儲器測試程序碼。
3.如權(quán)利要求2所述的動態(tài)存儲器測試裝置，其中該連接接口包括內(nèi)
部系統(tǒng)總線接口及通用串行總線接口的至少其中之一。
4.如權(quán)利要求1所述的動態(tài)存儲器測試裝置，其中該控制單元包括：
一中央處理單元；以及
一動態(tài)存儲器控制器，耦接該中央處理單元，
其中，該中央處理單元執(zhí)行該存儲器測試程序碼以通過該動態(tài)存儲器控
制器對該動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。
5.如權(quán)利要求1所述的動態(tài)存儲器測試裝置，其中該內(nèi)嵌式存儲裝置
包括...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：蕭啟維，
申請(專利權(quán))人：力晶科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：中國臺灣;71
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