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本發(fā)明涉及一種動態(tài)存儲器的測試裝置及測試方法。動態(tài)存儲器測試裝置包括系統(tǒng)整合式芯片，用以耦接至動態(tài)存儲器。系統(tǒng)整合式芯片包括控制單元以及內(nèi)嵌式存儲裝置。控制單元耦接至動態(tài)存儲器。內(nèi)嵌式存儲裝置儲存存儲器測試程序碼，其中，控制單元讀取存儲器測...該專利屬于力晶科技股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過力晶科技股份有限公司授權(quán)不得商用。