本發明專利技術公開了一種液晶顯示裝置的測試電路，包括：多條掃描電極線和至少兩個掃描電極測試塊，其中，所述多條掃描電極線的相鄰掃描電極線分別電連接不同的掃描電極測試塊。本發明專利技術提供的液晶顯示裝置的測試電路不僅可以檢測每條掃描電極線能否正常工作，還可以檢測出多條掃描電極線之間可能存在的短路問題，也即此種測試電路可以提高液晶顯示裝置檢測的準確性，及時剔除不合格產品，避免掃描電極線之間存在短路的不合格的液晶顯示裝置進入下一生產環節，避免生產浪費。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于液晶顯示
，尤其涉及。
技術介紹
液晶屏(Liquid Crystal Display,簡稱LCD)也稱液晶面板,為超薄的平面顯示設備，它由一定數量的彩色或黑白像素組成，放置于光源或者反射面前方，是液晶顯示器的最主要部件。采用IXD技術制造的顯示器相比于CRT (陰極射線管)顯示器，具有體積更小、更輕薄、輻射低、功耗低等優點。液晶顯示器通常采用兩個加工過程加工成成品，包括前玻璃基板工藝過程和薄膜基板工藝過程。前玻璃基板工藝過程形成液晶面板的前玻璃基板；薄膜基板工藝過程形成液晶面板的包括薄膜晶體管(Thin Film Transistor，簡稱TFT)的液晶陣列基板以及顯示器像素電極和其所使用的其他電子元件。然后再將兩個基板進行組裝，并在中間注入液晶材料，形成液晶顯示裝置。最后，在液晶顯示裝置組裝背光及驅動電子元件，制作出TFT-LCD模塊。其中，在將液晶顯示裝置組裝成TFT-LCD模塊之前，需要通過液晶顯示裝置的測試電路對液晶顯示裝置進行測試。但是現有的液晶顯示裝置的測試電路和測試方法不能檢測出液晶顯示裝置的掃描電極線之間可能存在的短路現象，會使得不合格的液晶顯示裝置流轉進入下一生產環節，造成生產浪費。
技術實現思路
有鑒于此，本專利技術提供，此種液晶顯示裝置的測試電路及測試方法能檢測出掃描電極線之間可能存在的短路現象，及時剔除不合格的液晶顯示裝置，避免造成生產浪費。為實現上述目的，本專利技術實施例提供了如下技術方案:—種液晶顯示裝置的測試電路，包括:多條掃描電極線和至少兩個掃描電極測試±夾，其中，所述多條掃描電極線的相鄰掃描電極線分別電連接不同的掃描電極測試塊。優選的，所述測試電路包括第一掃描電極測試塊和第二掃描電極測試塊。優選的，所述多條掃描電極線的相鄰掃描電極線分別電連接第一掃描電極測試塊和第二掃描電極測試塊。優選的，所述第一掃描電極測試塊和所述第二掃描電極測試塊位于所述液晶顯示裝置的同一側。優選的，所述第一掃描電極測試塊位于所述液晶顯示裝置的一側，所述第二掃描電極測試塊位于所述液晶顯示裝置的另一側。一種液晶顯示裝置的測試方法，包括:將液晶顯示裝置的多條掃描電極線分為多個掃描電極線組，并且保證相鄰的掃描電極線分別屬于不同的掃描電極線組；設置多個掃描電極測試塊，所述掃描電極測試塊的個數與所述掃描電極線組的個數相同，并保證每個掃描電極測試塊都電連接一個不同的掃描電極線組；依次對多個掃描電極測試塊加電壓，并且保證每次測試過程都只對一個掃描電極測試塊加電壓，測試該掃描電極測試塊對應的掃描電極線組內的多條掃描電極線。優選的，所述測試方法包括:將液晶顯示裝置的多條掃描電極線分為第一掃描電極線組和第二掃描電極線組，并且保證相鄰的掃描電極線分別屬于不同的掃描電極線組；設置第一掃描電極測試塊和第二掃描電極測試塊，將第一掃描電極線組與第一掃描電極測試塊電連接，將第二掃描電極線組與第二掃描電極測試塊電連接；通過第一掃描電極測試塊對第一掃描電極線組內的掃描電極線加電壓，測試第一掃描電極線組內的掃描電極線；消除第一掃描電極測試塊對第一掃描電極線組內的掃描電極線的電壓；通過第二掃描電極測試塊對第二掃描電極線組內的掃描電極線加電壓，測試第二掃描電極線組內的掃描電極線。與現有技術相比，上述技術方案具有以下優點:本專利技術提供的液晶顯示裝置包括多條掃描電極線和至少兩個掃描電極測試塊，并將相鄰的待測試的多條掃描電極線分別電連接不同的掃描電極測試塊。在測試過程中，分別對每個掃描電極測試塊加電壓，測試與其對應的掃描電極線，由于每個掃描電極測試塊對應的掃描電極線不相鄰，使得在待測試的掃描電極線加電壓時，不會存在相鄰的掃描電極線同時加電壓的情況。那么，當對某一個掃描電極測試塊加電壓時，若液晶顯示裝置只有與該掃描電極測試塊包括的掃描電極線對應的像素行正常顯示，就證明該液晶顯示裝置的與此掃描電極測試塊對應的掃描電極線沒有問題；若液晶顯示裝置的與該掃描電極測試塊包括的掃描電極線對應的像素行未能全部正常顯示，就證明該液晶顯示裝置的與未顯示處的像素對應的掃描電極線存在電接觸不良等問題；若液晶顯示裝置除顯示與該掃描電極測試塊包括的掃描電極線對應的像素行外，還顯示了與其他掃描電極測試塊包括的掃描電極線對應的像素行，就證明該液晶顯示裝置的與此掃描電極測試塊對應的掃描電極線與其他掃描電極線之間存在短路的問題。也即本專利技術提供的液晶顯示裝置不僅可以檢測每條掃描電極線的電接觸問題，還可以檢測出液晶顯示裝置的相鄰的掃描電極線之間可能存在的短路現象，提高液晶顯示裝置檢測的準確性，及時剔除不合格產品，避免掃描電極線之間存在短路問題的不合格液晶顯示裝置進入下一生產環節，避免生產浪費。附圖說明通過附圖所示，本專利技術的上述及其它目的、特征和優勢將更加清晰。在全部附圖中相同的附圖標記指示相同的部分。并未刻意按實際尺寸等比例縮放繪制附圖，重點在于示出本專利技術的主旨。圖1是現有的液晶顯示裝置的測試電路；圖2是現有的液晶顯示裝置的測試電路的區域放大圖；圖3是本專利技術提供的一種液晶顯示裝置測試方法的流程圖；圖4是本專利技術提供的一種液晶顯示裝置測試電路的電路圖5是本專利技術提供的另一種液晶顯示裝置測試電路的電路圖；圖6是本專利技術提供的一種液晶顯示裝置測試電路；圖7是本專利技術提供的一種液晶顯示裝置測試電路的區域放大圖；圖8是本專利技術提供的一種液晶顯示裝置測試方法在測試過程中的一種可能故障的顯示效果；圖9是本專利技術提供的一種液晶顯示裝置測試方法在測試過程中的另一種可能故障的顯示效果。具體實施例方式正如
技術介紹
部分所述，現有的液晶顯示裝置的測試電路和測試方法不能檢測掃描電極線之間可能存在的短路現象，使得不合格的液晶顯示裝置流轉進入下一生產環節，造成生產浪費。專利技術人研究發現，如圖1所示，現有的液晶顯示裝置的測試電路除電壓VGG外，只存在一個掃描電極測試塊G-L，而且，圖1的方框C處的放大圖如圖2所示，根據圖2可知，現有的液晶顯示裝置將所有掃描電極線均電連接在同一個掃描電極測試塊上，也即應用現有的測試電路測試液晶顯示裝置的掃描電極線時，需要應用唯一的掃描電極測試塊對所有的掃描電極線同時施加電壓，同時應用該掃描電極測試塊對所有掃描電極線進行測試。此時，如果相鄰的掃描電極線出現短路現象，將無法判斷每條掃描電線是通過自身的電壓工作的，還是因為與相鄰的掃描電極線短路，通過相鄰的掃描電極線上的電壓工作的，故，此種測試電路不能檢測出相鄰的掃描電極線之間可能存在的短路現象，從而可能導致不合格的液晶顯示裝置進入下一生產環節，造成生產浪費。基于上述原因，本專利技術實施例提供了一種液晶顯示裝置的測試電路，包括:多條掃描電極線和至少兩個掃描電極測試塊，其中，所述多條掃描電極線的相鄰電極線分別電連接不同的掃描電極測試塊。本專利技術實施例還提供了一種液晶顯示裝置的測試方法，如圖3所示，包括以下步驟:步驟S301:將液晶顯示裝置的多條掃描電極線分為多個掃描電極線組，并且保證相鄰的掃描電極線分別屬于不同的掃描電極線組。步驟S302:設置多個掃描電極測試塊，所述掃描電極測試塊的個數與所述掃描電極線組的個數相同，并保證每個掃描電極測試塊都電連接一個不同的掃描電極線組。步驟S303:依次對多個掃描電極測試塊加電壓，并且保證每次測試過程都只對一本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種液晶顯示裝置的測試電路，其特征在于，包括：多條掃描電極線和至少兩個掃描電極測試塊，其中，所述多條掃描電極線的相鄰掃描電極線分別電連接不同的掃描電極測試塊。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：林建偉，何基強，胡君文，李林，洪勝寶，張澤鵬，陳天佑，梅新東，卓勝鏡，
申請(專利權)人：信利半導體有限公司，
類型：發明
國別省市：
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