電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置制造方法及圖紙

本實(shí)用新型專利技術(shù)關(guān)于一種電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置，其設(shè)置于一電子元件外觀檢查機(jī)上且設(shè)有一正光源組及一背光源組，該正光源組設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)上且設(shè)有一環(huán)形框，其中該環(huán)形框在其前側(cè)面環(huán)形朝內(nèi)凹設(shè)有一環(huán)槽，在該環(huán)槽的內(nèi)表面上設(shè)有多個(gè)間隔排列的第一正光源，該背光源組設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)且呈直線排列地與該正光源組相面對(duì)，該背光源組設(shè)有一與該電子元件外觀檢查機(jī)相結(jié)合的基座以及多個(gè)設(shè)置于該基座上且朝向該正光源組的背光源，以此提供一光源充足的電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置。（*該技術(shù)在2023年保護(hù)過(guò)期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本技術(shù)涉及一種電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置，特別涉及一種光源充足的電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置。
技術(shù)介紹
隨著科技的日新月異及蓬勃發(fā)展，電子元件也趨向微小化及精密化，因此，無(wú)法再通過(guò)肉眼的方式進(jìn)行檢測(cè)，因此，目前業(yè)界已發(fā)展出一用以檢測(cè)電子元件的外形輪廓(是否有瑕疵或毀損)及尺寸(包含長(zhǎng)、寬及高，用以定位使用)的電子元件外觀檢查機(jī)，現(xiàn)有電子元件外觀檢查機(jī)主要是在一平臺(tái)上設(shè)置有一影像擷取器、一光源及一轉(zhuǎn)盤，該光源與該影像擷取器相結(jié)合，以此提供該影像擷取器一正向光源，而該轉(zhuǎn)盤可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)于該平臺(tái)上且伸設(shè)至該光源的前方；現(xiàn)有電子元件外觀檢查機(jī)在操作時(shí)是將一待測(cè)的電子元件置放于該轉(zhuǎn)盤上，通過(guò)該轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)的方式將該待測(cè)電子元件移動(dòng)至該光源的前方，即可使該影像擷取器擷取到該待測(cè)電子元件的外觀影像，然而，現(xiàn)有電子元件外觀檢查機(jī)雖可對(duì)于電子元件進(jìn)行影像擷取及檢測(cè)，但因僅在該電子元件的前側(cè)面提供一正光源的方式，所擷取到的電子元件影像如附件一所示，該電子元件的影像容易因光源死角以及不同景深具有不同亮度的影響，容易使所取得的電子元件影像無(wú)法清楚地顯示出其外觀輪廓及相關(guān)尺寸，進(jìn)而無(wú)法檢測(cè)出電子元件是否有瑕疵以及尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)，不僅會(huì)影響現(xiàn)有電子元件外觀檢查機(jī)的檢測(cè)效率，且無(wú)法準(zhǔn)確地檢測(cè)出不良尺寸或有瑕疵的電子元件，相對(duì)影響電子元件的品質(zhì)，實(shí)有加以改進(jìn)之處。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
因此，本技術(shù)有鑒于現(xiàn)有電子元件外觀檢查機(jī)在檢測(cè)與操作的缺失與不足，特經(jīng)過(guò)不斷的試驗(yàn)與研究，終于發(fā)展出一種能改進(jìn)現(xiàn)有缺失的本技術(shù)。本技術(shù)主要在于提供一種電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置，其可同時(shí)提供待測(cè)電子元件兩種不同方向的光源，進(jìn)而讓該影像擷取器可取得該待測(cè)電子元件的清楚影像，以此達(dá)到提供一光源充足的電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置的目的。基于上述目的，本技術(shù)的主要技術(shù)手段在于提供一種電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置，其設(shè)置于一電子元件外觀檢查機(jī)上且設(shè)有一正光源組及一背光源組，其中:該正光源組設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)上且設(shè)有一環(huán)形框，其中該環(huán)形框于前側(cè)面環(huán)形朝內(nèi)凹設(shè)有一環(huán)槽，在該環(huán)槽的內(nèi)表面上設(shè)有多個(gè)間隔排列的第一正光源；以及該背光源組設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)且呈直線排列地與該正光源組相面對(duì)，該背光源組設(shè)有一與該電子元件外觀檢查機(jī)相結(jié)合的基座以及多個(gè)設(shè)置于該基座上且朝向該正光源組的背光源。進(jìn)一步，該正光源組設(shè)有一結(jié)合板，該結(jié)合板設(shè)置在該環(huán)形框異于該背光源組的后側(cè)面，該結(jié)合板朝向該環(huán)形框的前側(cè)面上間隔排列設(shè)有多個(gè)第二正光源。再進(jìn)一步，該各正光源為一發(fā)光二極管。優(yōu)選地，該各背光源為一發(fā)光二極管。通過(guò)上述的技術(shù)手段，當(dāng)電子元件外觀檢查機(jī)通過(guò)本技術(shù)的光源裝置進(jìn)行電子元件的檢測(cè)時(shí)，可通過(guò)位于該環(huán)形框上的各第一正光源、該結(jié)合板上的各第二正光源以及該基座上各背光源照射于該待測(cè)的電子元件的方式，讓該電子元件可同時(shí)受到兩種不同方向的光源，進(jìn)而使該影像擷取器通過(guò)該反射鏡取得該待測(cè)電子元件的影像時(shí)，其所擷取的影像外形輪廓清晰，且不會(huì)因景深的關(guān)系而有不同亮度的現(xiàn)象，并可顯示該電子元件各部位的結(jié)構(gòu)關(guān)系，進(jìn)而準(zhǔn)確檢測(cè)出電子元件是否有瑕疵以及尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)，不僅可大幅提高電子元件外觀檢查機(jī)的檢測(cè)效率，且可檢測(cè)出不良尺寸或有瑕疵的電子元件，有效改善電子元件的品質(zhì)問(wèn)題，以此構(gòu)成一光源充足的電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置。附圖說(shuō)明圖1是本技術(shù)設(shè)置于一電子元件外觀檢查機(jī)上的立體外觀示意圖。圖2是本技術(shù)設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)的側(cè)視示意圖。圖3是本技術(shù)設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)的另一側(cè)視示意圖。圖4是本技術(shù)設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)的剖面?zhèn)纫暿疽鈭D。圖5是本技術(shù)用于檢測(cè)電子元件的操作側(cè)視示意圖。附件一為現(xiàn)有電子元件外觀檢查機(jī)所取得的電子元件影像圖。附件二為使用本技術(shù)光源裝置的電子元件外觀檢查機(jī)所取得的電子元件影像圖。附圖標(biāo)號(hào)說(shuō)明:10正光源組11環(huán)形框111環(huán)槽112第一正光源12結(jié)合板121第二正光源20背光源組21基座22背光源30電子元件40電子元件外觀檢查機(jī) 41平臺(tái)42影像擷取組421架體422影像擷取器423反射鏡424支撐架43轉(zhuǎn)盤具體實(shí)施方式以下配合附圖及本技術(shù)的優(yōu)選實(shí)施例，進(jìn)一步闡述本技術(shù)為達(dá)成預(yù)定技術(shù)目的所采取的技術(shù)手段。請(qǐng)參閱如圖1至4所示，本技術(shù)的電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置設(shè)置于一電子元件外觀檢查機(jī)40上，其中該電子元件外觀檢查機(jī)40在一平臺(tái)41上設(shè)置有一影像擷取組42及一轉(zhuǎn)盤43，該影像擷取組42設(shè)有一與該平臺(tái)41相結(jié)合的架體421、一與該架體421相結(jié)合的影像擷取器422及一與該架體421相結(jié)合且位于該影像擷取器422下方處的反射鏡423，該架體421在其中段處橫向延伸設(shè)有一支撐架424，而該轉(zhuǎn)盤43可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)于該平臺(tái)41上且伸設(shè)于該支撐架424中；本技術(shù)電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置設(shè)置于該影像擷取組42上且設(shè)有一正光源組10及一背光源組20，其中:該正光源組10設(shè)置于該架體421的支撐架424上且位于該轉(zhuǎn)盤43及該反射鏡423之間，該正光源組10設(shè)有一環(huán)形框11及一結(jié)合板12，其中該環(huán)形框11可移動(dòng)調(diào)整地設(shè)于該支撐架424上而位于該反射鏡423及該轉(zhuǎn)盤43之間，該環(huán)形框11在朝向該轉(zhuǎn)盤43的前側(cè)面環(huán)形朝內(nèi)凹設(shè)有一環(huán)槽111，在該環(huán)槽111的內(nèi)表面上設(shè)有多個(gè)間隔排列的第一正光源112，而該結(jié)合板12設(shè)置于該支撐架424上而位于該反射鏡423及該環(huán)形框11之間，該結(jié)合板12朝向該環(huán)形框11的前側(cè)面上間隔排列設(shè)有多個(gè)第二正光源121，優(yōu)選地，各正光源 112，121 可為一發(fā)光二極管(Light-Emitting Diode ；LED);以及該背光源組20設(shè)置于該支撐架424上且位于該轉(zhuǎn)盤43的上方處，使該背光源組20呈直線排列地與該正光源組10相面對(duì)，該背光源組20設(shè)有一與該支撐架424相結(jié)合的基座21以及多個(gè)設(shè)置于該基座21上且朝向該正光源組10的背光源22，優(yōu)選地，各背光源22可為一發(fā)光二極管(LED)。當(dāng)電子元件外觀檢查機(jī)40通過(guò)本技術(shù)的光源裝置進(jìn)行電子元件30的檢測(cè)時(shí)，請(qǐng)配合參看如圖5所示，將一待測(cè)的電子元件30置放于該轉(zhuǎn)盤43上，隨著該轉(zhuǎn)盤43相對(duì)該平臺(tái)41轉(zhuǎn)動(dòng)的方式，該待測(cè)的電子元件30會(huì)移動(dòng)至該支撐架424中而位于該正光源組10及該背光源組20之間，此時(shí)，通過(guò)位于該環(huán)形框11上的各第一正光源112、該結(jié)合板12上的各第二正光源121以及該基座21上各背光源22照射于該待測(cè)的電子元件30上，讓該電子元件30可同時(shí)受到兩種不同方向的光源，進(jìn)而使該影像擷取器422通過(guò)該反射鏡423取得該待測(cè)電子元件30的影像時(shí)，其所擷取到的影像可如附件二所示，該擷取到的電子元件30影像其外形輪廓清晰，且不會(huì)因景深的關(guān)系而有不同亮度的現(xiàn)象，并可顯示該電子元件各部位的結(jié)構(gòu)關(guān)系，進(jìn)而準(zhǔn)確檢測(cè)出電子元件30是否有瑕疵以及尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)，不僅可大幅提高電子元件外觀檢查機(jī)40的檢測(cè)效率，且可檢測(cè)出不良尺寸或有瑕疵的電子元件30，有效改善電子元件的品質(zhì)問(wèn)題，以此構(gòu)成一光源充足的電子元件外觀檢查機(jī)40的光源裝置。再者，通過(guò)本技術(shù)的光源裝置，可讓使用者根據(jù)需要或電子元件30結(jié)構(gòu)特征的不同，可同時(shí)開(kāi)啟該正光源組1本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種電子元件外觀檢查機(jī)的光源裝置，設(shè)置于一電子元件外觀檢查機(jī)上且其特征在于設(shè)有一正光源組及一背光源組，其中：該正光源組設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)上且設(shè)有一環(huán)形框，其中該環(huán)形框于前側(cè)面環(huán)形朝內(nèi)凹設(shè)有一環(huán)槽，在該環(huán)槽的內(nèi)表面上設(shè)有多個(gè)間隔排列的第一正光源；以及該背光源組設(shè)置于該電子元件外觀檢查機(jī)且呈直線排列地與該正光源組相面對(duì)，該背光源組設(shè)有一與該電子元件外觀檢查機(jī)相結(jié)合的基座以及多個(gè)設(shè)置于該基座上且朝向該正光源組的背光源。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：廖連亨，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：廖連亨，
類型：實(shí)用新型
國(guó)別省市：