本實用新型專利技術涉及光學技術領域，尤其涉及光干涉氣體檢測裝置的光源系統，目的在提供一種光干涉氣體檢測裝置的光源系統，通過結構上的改進，得到更好的準直效果，有效消除雜光，使光干涉甲烷檢測裝置得到更加理想的干涉成像條紋即測量精度。本實用新型專利技術的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，包括光源和準直光路，所述準直光路設置于光源的發射方向上；進一步，所述準直光路沿光線發射方向，依次包括聚光鏡和準直鏡，所述準直鏡設置于聚光鏡的焦點外。本實用新型專利技術的光源系統為兩級透鏡組成，可提高成像清晰度，提高檢測精度，尤其適合使用面陣式圖像傳感器的光干涉甲烷檢測裝置。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及光學
，尤其涉及光干涉氣體檢測裝置的光源系統。
技術介紹
現有的光干涉甲烷檢測設備都是采用50年代日本理研設計的光路和機械結構，其原理為雅敏干涉，它由光源、聚光鏡、平面鏡、氣室、折光棱鏡、物鏡、反射棱鏡、負透鏡等組成。這種結構測量范圍寬、有一定測量精度、維護工作量小，但因光學系統的成像光程較長和光學機械組合結構件較多，產品體積較大。這種結構由于光源沒有準直，有雜光，從而容易產生零點漂移和測量誤差
技術實現思路
有鑒于此，本技術目的在提供一種光干涉氣體檢測裝置的光源系統，通過結構上的改進，得到更好的準直效果，有效消除雜光，使光干涉甲烷檢測裝置得到更加理想的干涉成像條紋即測量精度。本技術的目的是通過以下技術方案來實現的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，包括光源和準直光路，所述準直光路設置于光源的發射方向上。進一步，所述準直光路沿光線發射方向，依次包括聚光鏡和準直鏡，所述準直鏡設置于聚光鏡的焦點外。進一步，所述聚光鏡為凸透鏡，所述準直鏡也為凸透鏡。進一步，所述準直鏡為膠合透鏡，所述膠合透鏡由一面凸透鏡和一面凹透鏡組成。進一步，所述準直鏡光心與聚光鏡光心的距離為聚光鏡的焦距加上準直鏡的焦距。進一步，所述聚光鏡和準直鏡之間還設置有光欄，所述光欄設置于聚光鏡的焦點內。進一步，所述光干涉氣體檢測裝置的光源系統封裝為一體。本技術的光干涉氣體檢測裝置的光源系統為兩級透鏡組成，準直效果好，可提高成像清晰度，提高檢測精度，尤其適合使用面陣式圖像傳感器的光干涉甲烷檢測裝置；結構緊湊，使儀器便攜成為可能。本技術的其他優點、目標和特征在某種程度上將在隨后的說明書中進行闡述，并且在某種程度上，基于對下文的考察研究對本領域技術人員而言將是顯而易見的，或者可以從本技術的實踐中得到教導。本技術的目標和其他優點可以通過下面的說明書和權利要求書來實現和獲得。附圖說明圖I本技術光干涉氣體檢測裝置的光源系統的光路結構示意圖。具體實施方式以下將對本技術的優選實施例進行詳細的描述。應當理解，優選實施例僅為了說明本技術，而不是為了限制本技術的保護范圍。本實施例的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，光干涉氣體檢測裝置的光源系統，包括光源I和準直光路，所述準直光路設置于光源I的發射方向上。所述準直光路沿光線發射方向，依次包括聚光鏡2、光欄3和準直鏡4，所述光欄3設置于聚光鏡2的焦點內，所述準直鏡4設置于聚光鏡2的焦點外。所述聚光鏡2優選為凸透鏡，所述準直鏡4也未凸透鏡，優選為膠合透鏡，所述膠合透鏡由一面凸透鏡和一面凹透鏡組成，準直鏡4光心與聚光鏡2光心的距離為聚光鏡2的焦距I加上膠合透鏡的焦距f。所述光源I發射出光線，聚光鏡2將光源I發出的光纖會聚后發散，在此過程中，光欄3可將雜光去除，準直鏡4則對接收的光線進行準直，試透射出的光線為水平光線。所述光干涉氣體檢測裝置的光源系統中的光源I、聚光鏡2、光欄3和準直鏡4可封裝為一體。最后說明的是，以上實施例僅用以說明本技術的技術方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本技術進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本技術的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本技術方案的宗旨和范圍，其均應涵蓋在本技術的權利要求范圍當中。權利要求1.光干涉氣體檢測裝置的光源系統，其特征在于包括光源和準直光路，所述準直光路設置于光源的發射方向上。2.根據權利要求I所述的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，其特征在于所述準直光路沿光線發射方向，依次包括聚光鏡和準直鏡，所述準直鏡設置于聚光鏡的焦點外。3.根據權利要求2所述的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，其特征在于所述聚光鏡為凸透鏡，所述準直鏡也為凸透鏡。4.根據權利要求3所述的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，其特征在于所述準直鏡為膠合透鏡，所述膠合透鏡由一面凸透鏡和一面凹透鏡組成。5.根據權利要求2所述的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，其特征在于所述準直鏡光心與聚光鏡光心的距離為聚光鏡的焦距加上準直鏡的焦距。6.根據權利要求1-5中任一項所述的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，其特征在于所述聚光鏡和準直鏡之間還設置有光欄，所述光欄設置于聚光鏡的焦點內。7.根據權利要求6所述的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，其特征在于所述光干涉氣體檢測裝置的光源系統封裝為一體。專利摘要本技術涉及光學
，尤其涉及光干涉氣體檢測裝置的光源系統，目的在提供一種光干涉氣體檢測裝置的光源系統，通過結構上的改進，得到更好的準直效果，有效消除雜光，使光干涉甲烷檢測裝置得到更加理想的干涉成像條紋即測量精度。本技術的光干涉氣體檢測裝置的光源系統，包括光源和準直光路，所述準直光路設置于光源的發射方向上；進一步，所述準直光路沿光線發射方向，依次包括聚光鏡和準直鏡，所述準直鏡設置于聚光鏡的焦點外。本技術的光源系統為兩級透鏡組成，可提高成像清晰度，提高檢測精度，尤其適合使用面陣式圖像傳感器的光干涉甲烷檢測裝置。文檔編號G01N21/01GK202676583SQ20122025440公開日2013年1月16日 申請日期2012年5月31日 優先權日2012年5月31日專利技術者張晶, 張小平, 劉佳 申請人:重慶同博測控儀器有限公司本文檔來自技高網...
【技術保護點】
光干涉氣體檢測裝置的光源系統，其特征在于：包括光源和準直光路，所述準直光路設置于光源的發射方向上。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：張晶，張小平，劉佳，
申請(專利權)人：重慶同博測控儀器有限公司，
類型：實用新型
國別省市：
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