本實用新型專利技術涉及光學檢測技術領域，提供一種光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，包括進氣管、電磁閥Ⅰ、電磁閥Ⅱ、干燥劑腔、吸收劑腔和吸氣泵，所述進氣管分為兩路，一路通過電磁閥Ⅰ、吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一路通過電磁閥Ⅱ與干燥劑腔連通，所述吸氣泵與干燥劑腔連通，可根據檢測氣體的不同，切換不同的氣路，對采樣氣體進行過濾，有效去除雜質，提高光干涉氣體檢測裝置的檢測精度。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及光學檢測
，尤其涉及光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置。
技術介紹
現有的光干涉甲烷檢測設備都是采用50年代日本理研設計的氣路、光路和機械結構，其原理為雅敏干涉。這種結構測量范圍寬、有一定測量精度、維護工作量小，可參見授權公告號為CN201984032U的中國技術專利，其中的自動過濾采樣裝置結構簡單，不能有效過濾采樣氣體中的雜質，容易造成測量誤差。
技術實現思路
·有鑒于此，本技術目的在提供一種光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，通過結構上的改進，得到更好的過濾效果，有效消除雜質，使光干涉氣體檢測裝置得到更加理想的測量精度。本技術的目的是通過以下技術方案來實現的光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，包括進氣管、電磁閥組件、干燥劑腔、吸收劑腔和吸氣泵，所述進氣管通過電磁閥組件后分為兩路，一路通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一路通過與干燥劑腔連通，所述吸氣泵與干燥劑腔連通。進一步，所述電磁閥組件包括電磁閥I和電磁閥II，所述進氣管分別與電磁閥I和電磁閥II的進氣口連通，所述電磁閥I的出氣口通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，電磁閥II的出氣口與干燥劑腔連通。進一步，所述電磁閥I、電磁閥II為常閉電磁閥。進一步，所述電磁閥組件為三通電磁閥，所述三通電磁閥的進氣口與進氣管連通，三通電磁閥的兩個出氣口中的一路通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一個與干燥劑腔連通。進一步，還包括過濾腔，所述過濾腔所述進氣管上。進一步，所述過濾腔設置于氣路中電磁閥組件之前。本技術的光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置由干燥劑腔、吸收劑腔、電磁閥等構成，可根據檢測氣體的不同，切換不同的氣路，對采樣氣體進行過濾，有效去除雜質，提聞光干涉氣體檢測裝置的檢測精度。本技術的其他優點、目標和特征在某種程度上將在隨后的說明書中進行闡述，并且在某種程度上，基于對下文的考察研究對本領域技術人員而言將是顯而易見的，或者可以從本技術的實踐中得到教導。本技術的目標和其他優點可以通過下面的說明書和權利要求書來實現和獲得。附圖說明圖I本技術光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置的氣路結構示意圖。具體實施方式以下將對本技術的優選實施例進行詳細的描述。應當理解，優選實施例僅為了說明本技術，而不是為了限制本技術的保護范圍。光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，所述光干涉氣體檢測裝置主要用于井下甲烷和二氧化碳氣體濃度檢測，光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，包括進氣管、過濾腔、電磁閥組件、干燥劑腔、吸收劑腔和吸氣泵，所述進氣管通過過濾腔，所述進氣管通過電磁閥組件后分為兩路，一路通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一路通過與干燥劑腔連通，所述吸氣泵與干燥劑腔連通。所述電磁閥組件包括電磁閥I和電磁閥II,所述進氣管分別與電磁閥I和電磁閥II的進氣口連通，所述電磁閥I的出氣口通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，電磁閥II的出氣口與干燥劑腔連通。所述電磁閥I、電磁閥II為常閉電磁閥。當檢測甲烷時，開啟電磁閥I，當檢測二氧化碳時，開啟電磁閥II。作為另一種實施方式，所述電磁閥組件也可以采用三通電磁閥，所述三通電磁閥的進氣口與進氣管連通，三通電磁閥的兩個出氣口中的一路通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一個與干燥劑腔連通。所述過濾腔中填充過濾材料，用于過濾采樣氣體中的顆粒雜質，所述吸收劑腔中可填充所需的吸收劑，如需要吸附二氧化碳時，填充鈉石灰，所述干燥劑腔中填充固體干燥齊U，用于吸附采樣氣體中的水分。過濾腔設置于電磁閥I、電磁閥II及吸收劑腔之前，可以防止電磁閥I、電磁閥II堵塞，也可提高鈉石灰、干燥劑的使用壽命。最后說明的是，以上實施例僅用以說明本技術的技術方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本技術進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本技術的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本技術方案的宗旨和范圍，其均應涵蓋在本技術的權利要求范圍當中。權利要求1.光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，其特征在于包括進氣管、電磁閥組件、干燥劑腔、吸收劑腔和吸氣泵，所述進氣管通過電磁閥組件后分為兩路，一路通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一路通過與干燥劑腔連通，所述吸氣泵與干燥劑腔連通。2.根據權利要求I所述的光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，其特征在于所述電磁閥組件包括電磁閥I和電磁閥II，所述進氣管分別與電磁閥I和電磁閥II的進氣口連通，所述電磁閥I的出氣口通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，電磁閥II的出氣口與干燥劑腔連通。3.根據權利要求2所述的光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，其特征在于所述電磁閥I、電磁閥II為常閉電磁閥。4.根據權利要求2所述的光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，其特征在于所述電磁閥組件為三通電磁閥，所述三通電磁閥的進氣口與進氣管連通，三通電磁閥的兩個出氣口中的一路通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一個與干燥劑腔連通。5.根據權利要求1-4中任一項所述的光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，其特征在于還包括過濾腔，所述過濾腔所述進氣管上。6.根據權利要求5所述的光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，其特征在于所述過濾腔設置于氣路中電磁閥組件之前。專利摘要本技術涉及光學檢測
，提供一種光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，包括進氣管、電磁閥Ⅰ、電磁閥Ⅱ、干燥劑腔、吸收劑腔和吸氣泵，所述進氣管分為兩路，一路通過電磁閥Ⅰ、吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一路通過電磁閥Ⅱ與干燥劑腔連通，所述吸氣泵與干燥劑腔連通，可根據檢測氣體的不同，切換不同的氣路，對采樣氣體進行過濾，有效去除雜質，提高光干涉氣體檢測裝置的檢測精度。文檔編號G01N1/34GK202676521SQ201220255598公開日2013年1月16日 申請日期2012年5月31日 優先權日2012年5月31日專利技術者張晶, 張小平, 劉佳 申請人:重慶同博測控儀器有限公司本文檔來自技高網...
【技術保護點】
光干涉氣體檢測裝置的氣體采樣過濾裝置，其特征在于：包括進氣管、電磁閥組件、干燥劑腔、吸收劑腔和吸氣泵，所述進氣管通過電磁閥組件后分為兩路，一路通過吸收劑腔與干燥劑腔連通，另一路通過與干燥劑腔連通，所述吸氣泵與干燥劑腔連通。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：張晶，張小平，劉佳，
申請(專利權)人：重慶同博測控儀器有限公司，
類型：實用新型
國別省市：
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