本發(fā)明專利技術(shù)涉及一種適合于X熒光多元素分析儀測(cè)量的密封膜片滲漏測(cè)量裝置及方法。該裝置采用雙層膜片對(duì)探測(cè)腔體內(nèi)部空間進(jìn)行密封保護(hù)，并在內(nèi)膜片與外膜片之間用安裝有用絕緣圈間隔開(kāi)的二塊銅板，利用二極管的反向截止和水的導(dǎo)電性，來(lái)判斷外銅板與內(nèi)銅板之間是否因接觸到礦漿而形成導(dǎo)通，進(jìn)而判斷外膜片4的密封是否發(fā)生滲漏。一旦檢測(cè)到外膜片滲漏或線路連接故障，可通過(guò)繼電器發(fā)出報(bào)警信號(hào)，使儀器啟動(dòng)保護(hù)措施。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及一種針對(duì)密封膜片滲漏測(cè)量的裝置及方法，具體說(shuō)是涉及一種適合于X熒光多元素分析儀測(cè)量的密封膜片滲漏測(cè)量裝置及方法。
技術(shù)介紹
我國(guó)冶金、有色金屬、礦山、建材等眾多領(lǐng)域的生產(chǎn)過(guò)程中，原料中各種元素的配比對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量起著關(guān)鍵的作用。目前基于專利技術(shù)“在流檢測(cè)多元素分析裝置及方法”(專利號(hào):200710010105.5)的在流X熒光多元素分析儀器已經(jīng)很好的實(shí)現(xiàn)了對(duì)料流的各組成元素含量的實(shí)時(shí)檢測(cè)，擺脫了人工取樣后再進(jìn)行化學(xué)分析的煩瑣程序，大大提高了生產(chǎn)效率。儀器在對(duì)礦漿進(jìn)行測(cè)量時(shí)，需要將探測(cè)器及射線源浸入到礦漿內(nèi)，為了保護(hù)探測(cè)器，目前采取的辦法是將探測(cè)器和射線源安裝在探測(cè)腔體中，然后在探測(cè)腔體上開(kāi)有用耐磨耐腐蝕的高分子薄膜密封的窗口，便于對(duì)礦漿的分析檢測(cè)。但是由于長(zhǎng)時(shí)間的使用以及礦漿中的雜質(zhì)復(fù)雜，高分子薄膜還是會(huì)被磨漏、劃破，甚至由于不同材質(zhì)的熱膨脹系數(shù)不同導(dǎo)致熱脹冷縮后密封效果變差產(chǎn)生滲漏。并且儀器在工作時(shí)是將探測(cè)腔體的頭部浸入到礦漿的液面以下的，靠?jī)x表的維護(hù)人員根本無(wú)法及時(shí)觀測(cè)到高分子薄膜是否已經(jīng)發(fā)生滲漏，導(dǎo)致即便膜片開(kāi)始僅是微量的滲漏但也無(wú)法得到及時(shí)有效處理，最終使得大量的礦漿進(jìn)入到探測(cè)腔體內(nèi)部，對(duì)探測(cè)器帶來(lái)?yè)p傷。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)針對(duì)現(xiàn)有在流X熒光多元素分析儀器在應(yīng)用中所存在的缺陷，提出一種針對(duì)工業(yè)在流X熒光多元素分析儀器在應(yīng)用中能夠?qū)γ芊饽てM(jìn)行滲漏測(cè)量的裝置及方法。本專利技術(shù)所采用的技術(shù)方案是: 如圖1所示，腔體殼3及前端蓋I由耐磨、耐腐蝕、質(zhì)地較硬、絕緣的高分子材料制成，在腔體殼3的前端開(kāi)有窗口，并制有圓形凹臺(tái)，腔體殼3的凹臺(tái)底部開(kāi)有一個(gè)環(huán)形凹槽，凹槽中裝有內(nèi)密封O型圈13，在腔體殼3的凹臺(tái)底部開(kāi)有四個(gè)螺孔，在凹臺(tái)中由內(nèi)向外依次置有內(nèi)膜片8、內(nèi)銅板7、絕緣圈6、外銅板5、外膜片4，在腔體殼3及外膜片4的外側(cè)壓有前端蓋I ； 在內(nèi)銅板7的中間制有圓洞，在內(nèi)銅板7的邊緣制有四個(gè)螺孔，其中靠近內(nèi)銅板7圓心的二個(gè)螺孔的內(nèi)徑比腔體殼I凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑大4毫米，另外二個(gè)螺孔的內(nèi)徑與腔體殼I凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑相同； 在外銅板5的中間制有圓洞，在外銅板5的邊緣制有四個(gè)螺孔，其中靠近外銅板5圓心的二個(gè)螺孔的內(nèi)徑與腔體殼I凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑相同，另外二個(gè)螺孔的內(nèi)徑比腔體殼I凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑大4毫米； 在前端蓋I的朝向腔體殼I 一面制有二道環(huán)形凹槽，凹槽中分別裝有前密封O型圈2和外密封O型圈12 ； 通過(guò)金屬材質(zhì)的螺栓A91、螺栓B92、螺栓C93、螺栓D94將腔體殼3、內(nèi)膜片8、內(nèi)銅板7、絕緣圈6、外銅板5、外膜片4、前端蓋I固定在一起，相互壓緊并保證螺栓A91與內(nèi)銅板7導(dǎo)通但不與外銅板5接觸，螺栓B92與外銅板5導(dǎo)通但不與內(nèi)銅板7接觸，螺栓C93與外銅板5導(dǎo)通但不與內(nèi)銅板7接觸，螺栓D94與內(nèi)銅板7導(dǎo)通但不與外銅板5接觸； 螺栓A91接有接線柱A111，在接線柱Alll與腔體殼3之間壓有螺栓膠墊AlOl ； 螺栓B92接有接線柱BI 12，在接線柱BI 12與腔體殼3之間壓有螺栓膠墊B102 ； 螺栓C93接有接線柱Cl 13，在接線柱Cl 13與腔體殼3之間壓有螺栓膠墊C103 ； 螺栓D94接有接線柱Dl 14，在接線柱Dl 14與腔體殼3之間壓有螺栓膠墊D104 ；接線柱A111、接線柱B112、接線柱C113、接線柱D114分別通過(guò)導(dǎo)線與檢測(cè)電路18聯(lián)接；在腔體殼3的后端制有帶螺紋的凸臺(tái)，通過(guò)螺紋與后端蓋15連接，在腔體殼3與后端蓋15之間通過(guò)后密封膠墊14進(jìn)行密封； 檢測(cè)電路18的構(gòu)成包括單片機(jī)系統(tǒng)、狀態(tài)檢測(cè)電路、報(bào)警電路、電極電路。檢測(cè)電路18的電路原理圖如圖8所示:其中單片機(jī)系統(tǒng)主要由STC12C2052組成，狀態(tài)檢測(cè)電路主要由光耦繼電器和比較器組成，報(bào)警電路主要由繼電器組成，電極電路主要由二個(gè)串聯(lián)的二極管IN4148組成。單片機(jī)的I/O 口 Pl.3、Pl.2為檢測(cè)控制信號(hào)的輸出端，分別與狀態(tài)檢測(cè)電路的正向控制端(D+KG0UT)和反向控制端(D-KGOUT)相連；單片機(jī)的Pl.1為狀態(tài)檢測(cè)信號(hào)的輸入端，與比較器輸出(WIN_IN)連接；單片機(jī)的Pl.0為報(bào)警電路控制信號(hào)的輸出端，與報(bào)警電路的輸入端(BEEP)連接；電極電路的正極1、正極2、負(fù)極1、負(fù)極2分別與接線柱C113、接線柱B112、接線柱D114、接線柱Alll連接。本專利技術(shù)的原理是利用二極管的反向截止和水的導(dǎo)電性，來(lái)判斷外銅板5與內(nèi)銅板7之間是否因接觸到礦漿而形成導(dǎo)通，進(jìn)而判斷外膜片4的密封是否發(fā)生滲漏。本專利技術(shù)的具體檢測(cè)及應(yīng)用方法是: 當(dāng)檢測(cè)系統(tǒng)開(kāi)始工作時(shí)，單片機(jī)系統(tǒng)會(huì)控制狀態(tài)檢測(cè)電路對(duì)外銅板5與內(nèi)銅板7之間的串聯(lián)二極管施加電壓。正常情況下，當(dāng)施加正向電壓時(shí)，二極管處于正向?qū)顟B(tài)，外銅板5與內(nèi)銅板7之間電勢(shì)差較小；而當(dāng)施加反向電壓時(shí)，二極管處于反向截止?fàn)顟B(tài)，外銅板5與內(nèi)銅板7之間電勢(shì)差較大。而當(dāng)施加正向電壓時(shí)，若外銅板5與內(nèi)銅板7之間電勢(shì)差較大，則說(shuō)明電路處于開(kāi)路狀態(tài)，即線路沒(méi)有連接好；而一旦當(dāng)外膜片4發(fā)生滲漏后，外銅板5與內(nèi)銅板7之間由于有水的導(dǎo)電性起作用，則即使在施加反向電壓時(shí)，外銅板5與內(nèi)銅板7之間的電勢(shì)差也較小。單片機(jī)系統(tǒng)根據(jù)施加的是正向還是反向電壓，以及外銅板5與內(nèi)銅板7之間的電勢(shì)差高低，即可判斷出電路是否正常工作，以及外銅板5與內(nèi)銅板7之間是否有水導(dǎo)通。單片機(jī)系統(tǒng)根據(jù)判斷結(jié)果，控制繼電器的斷開(kāi)或吸合，啟動(dòng)多元素分析儀的自動(dòng)保護(hù)。本專利技術(shù)的有益效果是:該裝置及方法不僅能夠?qū)ν饽て欠癜l(fā)生滲漏進(jìn)行檢測(cè)，而且還能對(duì)線路的連接狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)，杜絕了若外膜片發(fā)生滲漏但因?yàn)榫€路連接故障而無(wú)法報(bào)警的情況發(fā)生。另外在外膜片發(fā)生滲漏后，還有內(nèi)膜片可以繼續(xù)保護(hù)腔體內(nèi)的探測(cè)器、射線源等精密貴重設(shè)施。而在腔體后端設(shè)有可旋下的后端蓋，便于對(duì)腔體前部設(shè)施的裝配、調(diào)試等操作。附圖說(shuō)明圖1是本專利技術(shù)的裝置結(jié)構(gòu)示意圖 圖2是本專利技術(shù)中的前端蓋I的結(jié)構(gòu)示意圖 圖3是本專利技術(shù)中的外銅板5的結(jié)構(gòu)示意圖 圖4是本專利技術(shù)中的內(nèi)銅板7的結(jié)構(gòu)示意圖 圖5是本專利技術(shù)中的絕緣圈6的結(jié)構(gòu)示意圖 圖6是本專利技術(shù)中的外膜片4的結(jié)構(gòu)示意圖 圖7是本專利技術(shù)中的內(nèi)膜片8的結(jié)構(gòu)示意圖 圖8是本專利技術(shù)中的的檢測(cè)電路18電路原理圖 圖9是本專利技術(shù)的單片機(jī)判斷程序流程圖 圖中:1前端蓋，2前密封O型圈，3腔體殼，4外膜片，5外銅板，6絕緣圈，7內(nèi)銅板，8內(nèi)膜片，12外密封O型圈，13內(nèi)密封O型圈，14后密封膠墊，15后端蓋，16 X射線源，17探測(cè)器，18檢測(cè)電路，91螺栓A，92螺栓B，93螺栓C，94螺栓D，101螺栓膠墊A，102螺栓膠墊B，103螺栓膠墊C，104螺栓膠墊D，111接線柱A，112接線柱B，113接線柱C，114接線柱D。具體實(shí)施例方式結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本專利技術(shù)的裝置結(jié)構(gòu)和使用方法。如圖1所示，腔體殼3由耐磨、耐腐蝕、質(zhì)地較硬、絕緣的高分子材料制成，在腔體殼3的前端開(kāi)有窗口，并制有圓形凹臺(tái)，腔體殼3的凹臺(tái)底部開(kāi)有一個(gè)環(huán)形凹槽，凹槽中裝有內(nèi)密封O型圈13，在腔體殼3的凹臺(tái)底部開(kāi)有四個(gè)M6的螺孔，在凹臺(tái)中由內(nèi)向外依次置有內(nèi)膜片8、內(nèi)銅板7、絕緣圈6、外銅板5、外膜片4，內(nèi)膜片8、內(nèi)銅板7、絕緣圈6、外銅板5、外膜片4的總厚度與凹臺(tái)的深度相本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種適合于X熒光多元素分析儀測(cè)量的密封膜片滲漏測(cè)量裝置，其特征是：腔體殼3及前端蓋1由耐磨、耐腐蝕、質(zhì)地較硬、絕緣的高分子材料制成，在腔體殼3的前端開(kāi)有窗口，并制有圓形凹臺(tái)，腔體殼3的凹臺(tái)底部開(kāi)有一個(gè)環(huán)形凹槽，凹槽中裝有內(nèi)密封O型圈13，在腔體殼3的凹臺(tái)底部開(kāi)有四個(gè)螺孔，在凹臺(tái)中由內(nèi)向外依次置有內(nèi)膜片8、內(nèi)銅板7、絕緣圈6、外銅板5、外膜片4，在腔體殼3及外膜片4的外側(cè)壓有前端蓋1；在內(nèi)銅板7的中間制有圓洞，在內(nèi)銅板7的邊緣制有四個(gè)螺孔，其中靠近內(nèi)銅板7圓心的二個(gè)螺孔的內(nèi)徑比腔體殼1凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑大4毫米，另外二個(gè)螺孔的內(nèi)徑與腔體殼1凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑相同；在外銅板5的中間制有圓洞，在外銅板5的邊緣制有四個(gè)螺孔，其中靠近外銅板5圓心的二個(gè)螺孔的內(nèi)徑與腔體殼1凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑相同，另外二個(gè)螺孔的內(nèi)徑比腔體殼1凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑大4毫米；在前端蓋1的朝向腔體殼1一面制有二道環(huán)形凹槽，凹槽中分別裝有前密封O型圈2和外密封O型圈12；通過(guò)金屬材質(zhì)的螺栓A91、螺栓B92、螺栓C93、螺栓D94將腔體殼3、內(nèi)膜片8、內(nèi)銅板7、絕緣圈6、外銅板5、外膜片4、前端蓋1固定在一起，相互壓緊并保證螺栓A91與內(nèi)銅板7導(dǎo)通但不與外銅板5接觸，螺栓B92與外銅板5導(dǎo)通但不與內(nèi)銅板7接觸，螺栓C93與外銅板5導(dǎo)通但不與內(nèi)銅板7接觸，螺栓D94與內(nèi)銅板7導(dǎo)通但不與外銅板5接觸；螺栓A91接有接線柱A111，在接線柱A111與腔體殼3之間壓有螺栓膠墊A101；螺栓B92接有接線柱B112，在接線柱B112與腔體殼3之間壓有螺栓膠墊B102；螺栓C93接有接線柱C113，在接線柱C113與腔體殼3之間壓有螺栓膠墊C103；螺栓D94接有接線柱D114，在接線柱D114與腔體殼3之間壓有螺栓膠墊D104；接線柱A111、接線柱B112、接線柱C113、接線柱D114分別通過(guò)導(dǎo)線與檢測(cè)電路18聯(lián)接；在腔體殼3的后端制有帶螺紋的凸臺(tái)，通過(guò)螺紋與后端蓋15連接，在腔體殼3與后端蓋15之間通過(guò)后密封膠墊14進(jìn)行密封。...
【技術(shù)特征摘要】
1.一種適合于X熒光多元素分析儀測(cè)量的密封膜片滲漏測(cè)量裝置，其特征是: 腔體殼3及前端蓋I由耐磨、耐腐蝕、質(zhì)地較硬、絕緣的高分子材料制成，在腔體殼3的前端開(kāi)有窗口，并制有圓形凹臺(tái)，腔體殼3的凹臺(tái)底部開(kāi)有一個(gè)環(huán)形凹槽，凹槽中裝有內(nèi)密封O型圈13，在腔體殼3的凹臺(tái)底部開(kāi)有四個(gè)螺孔，在凹臺(tái)中由內(nèi)向外依次置有內(nèi)膜片8、內(nèi)銅板7、絕緣圈6、外銅板5、外膜片4，在腔體殼3及外膜片4的外側(cè)壓有前端蓋I ; 在內(nèi)銅板7的中間制有圓洞，在內(nèi)銅板7的邊緣制有四個(gè)螺孔，其中靠近內(nèi)銅板7圓心的二個(gè)螺孔的內(nèi)徑比腔體殼I凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑大4毫米，另外二個(gè)螺孔的內(nèi)徑與腔體殼I凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑相同； 在外銅板5的中間制有圓洞，在外銅板5的邊緣制有四個(gè)螺孔，其中靠近外銅板5圓心的二個(gè)螺孔的內(nèi)徑與腔體殼I凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑相同，另外二個(gè)螺孔的內(nèi)徑比腔體殼I凹臺(tái)底部螺孔的內(nèi)徑大4毫米； 在前端蓋I的朝向腔體殼I 一面制有二道環(huán)形凹槽，凹槽中分別裝有前密封O型圈2和外密封O型圈12 ； 通過(guò)金屬材質(zhì)的螺栓A91、螺栓B92、螺栓C93、螺栓D94將腔體殼3、內(nèi)膜片8、內(nèi)銅板7、絕緣圈6、外銅板5、外膜片4、前端蓋I固定在一起，相互壓緊并保證螺栓A91與內(nèi)銅板7導(dǎo)通但不與外銅板5接觸，螺栓B92與外銅板5導(dǎo)通但不與內(nèi)銅板7接觸，螺栓C93與外銅板5導(dǎo)通但...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張偉，佟超，于海明，龔亞林，尹兆余，陳樹(shù)軍，周洪軍，金鑫，李劍鋒，王政，梁宏偉，夏遠(yuǎn)恒，曲寶劍，溫曉光，劉家勇，畢然，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：丹東東方測(cè)控技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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