【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
石英晶體諧振器真空檢漏裝置
本技術(shù)涉及一種石英晶體諧振器檢漏裝置，具體地說(shuō)是一種石英晶體諧振器真空檢漏裝置。
技術(shù)介紹
晶體封裝后是否漏氣，是晶體產(chǎn)品可靠性的重要指標(biāo)之一。目前，檢測(cè)石英晶體諧振器產(chǎn)品是否漏氣的方法主要是液體加壓法和壓差法。液體加壓法的方法是:先將產(chǎn)品放入加壓罐，再向加壓罐內(nèi)注入酒精，然后向加壓罐內(nèi)加空壓氣，使加壓罐內(nèi)的壓力保持在5kg的壓力，時(shí)間為30分鐘；將產(chǎn)品取出，同時(shí)用毛巾將產(chǎn)品的表面的酒精擦干后再對(duì)其進(jìn)行頻率電性能測(cè)試。如果產(chǎn)品密封性不好，酒精會(huì)通過(guò)產(chǎn)品的縫隙進(jìn)行產(chǎn)品內(nèi)，測(cè)得的電性能會(huì)發(fā)生改變，因此，可以判斷該件產(chǎn)品漏氣，不合格。這種檢漏方法由于通過(guò)晶體的參數(shù)來(lái)判斷，優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備投資少，缺點(diǎn)是:一是每次加壓需半小時(shí)，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)；二是酒精易揮發(fā)，對(duì)于容腔小的產(chǎn)品比如SMD產(chǎn)品，容易產(chǎn)生漏判；三是可能會(huì)發(fā)生誤判，晶體的本身不良也會(huì)導(dǎo)致晶體電性能改變；四是檢測(cè)具有破壞性，漏氣產(chǎn)品由于酒精滲入導(dǎo)致晶體污染而無(wú)法再次封裝修復(fù)，導(dǎo)致廢品率增加而使生產(chǎn)成本上升。壓差法是將產(chǎn)品與合格的樣件分別放置在兩個(gè)容積相同的容器內(nèi)，分別同時(shí)抽氣至兩個(gè)容積相同的儲(chǔ)氣室內(nèi)，測(cè)量?jī)蓚€(gè)儲(chǔ)氣室的壓力，根據(jù)壓力是否有差別來(lái)判斷產(chǎn)品是否漏氣。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)不具有破壞性，漏氣產(chǎn)品可重新封裝修復(fù)，可以提高產(chǎn)品合格率，降低生產(chǎn)成本。缺點(diǎn)是:設(shè)備價(jià)格昂貴，單臺(tái)檢測(cè)設(shè)備價(jià)格達(dá)80萬(wàn)元以上；其次，要求產(chǎn)品與樣件外觀完全一致，否則會(huì)因外觀體積誤差而導(dǎo)致誤判。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種石英晶體諧振器真空檢漏裝置，不僅檢測(cè)不具備破壞性，漏氣產(chǎn)品可修復(fù)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
石英晶體諧振器真空檢漏裝置，其特征是：包括一臺(tái)用來(lái)檢測(cè)晶體諧振電阻R的儀器本體，所述儀器本體具有執(zhí)行部分(7)和用來(lái)發(fā)送指令和并示結(jié)果的控制部分(5)；一個(gè)真空罩(1)，罩體上設(shè)有可以打開(kāi)的密封蓋(2)，儀器本體的執(zhí)行部分(7)設(shè)置在真空罩(1)內(nèi)；一臺(tái)真空泵(4)，用來(lái)對(duì)真空罩(1)抽真空；所述儀器本體的控制部分(5)設(shè)置在真空罩(1)外，通過(guò)電纜(6)與設(shè)置在真空罩(1)內(nèi)的執(zhí)行部分(7)電連接。
【技術(shù)特征摘要】
1.石英晶體諧振器真空檢漏裝置，其特征是: 包括一臺(tái)用來(lái)檢測(cè)晶體諧振電阻R的儀器本體，所述儀器本體具有執(zhí)行部分(7)和用來(lái)發(fā)送指令和并示結(jié)果的控制部分(5)； 一個(gè)真空罩(I)，罩體上設(shè)有可以打開(kāi)的密封蓋(2)，儀器本體的執(zhí)行部分(7)設(shè)置在真空罩(I)內(nèi)； ...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：鄭善發(fā)，張建國(guó)，謝興明，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：銅陵市晶賽電子有限責(zé)任公司，
類型：實(shí)用新型
國(guó)別省市：
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