【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種基于顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺及方法,屬于遙納操作
技術介紹
近幾十年來,隨著微/納米技術的快速發展和對微系統產品的結構微型化、功能集成化的不斷需求,高效、靈敏、適應性強的納米操作系統具有廣闊的應用前景。但傳統的操作方式由于受到納米尺度的尺寸效應等因素的影響使得傳統操作方式難以適應納米尺度構件操作技術的發展需求,具有虛擬現實功能的遙納操作逐漸走上舞臺。目前國內外對納米操作的研究,基于原子力顯微鏡(AFM)的操作系統最為成熟,但是由于缺乏操作過程的實時圖像信息使得系統具有操作效率低、靈活性差等缺點;基于SEM的操作系統具有實時的操作圖像反饋信息,并且操作對象不受樣品臺影響等優點,因此基于SEM的納米操作系統是功能較為完善的系統,是很有發展前途的一項技術。但在該方面的研究剛剛開始,目前還處于探索階段。到目前為止,在納米尺度的操作還沒有找到兼顧效率、靈活性、準確性和成功率等綜合性能的有效的操作方法。
技術實現思路
本專利技術的目的是針對目前國內外普遍采用的納米操作系統對納米粒子或構件進行操作缺乏操作過程實時的圖像信息,系統的操作效率低、靈活性差的問題,提供。一種基于掃描電子顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺,它包括掃描電子顯微鏡、納米定位器、操作探針、樣品臺、觸覺主手、納米定位控制器、上位機和樣本腔體,所述樣本腔體內設置有納米定位器,納米定位器位于樣本腔體的底部;所述納米定位器上設置有操作探針,操作探針的末端與樣品臺的臺面相接觸;所述樣品臺固定安裝在樣本腔體的內側壁上;該樣品臺用于放置納米線;所述掃描電子顯微鏡固定安裝在樣本腔體上方居中 ...
【技術保護點】
一種基于掃描電子顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺,其特征在于:它包括掃描電子顯微鏡(1)、納米定位器(2)、操作探針(3)、樣品臺(4)、觸覺主手(5)、納米定位控制器(6)、上位機(7)和樣本腔體(8),所述樣本腔體(8)內設置有納米定位器(2),納米定位器(2)位于樣本腔體(8)的底部;所述納米定位器(2)上設置有操作探針(3),操作探針(3)的末端與樣品臺(4)的臺面相接觸;所述樣品臺(4)固定安裝在樣本腔體(8)的內側壁上;該樣品臺(4)用于放置納米線;所述掃描電子顯微鏡(1)固定安裝在樣本腔體(8)上方居中的位置上,該掃描電子顯微鏡(1)的鏡頭朝向樣本腔體(8)內,該掃描電子顯微鏡(1)用于采集操作探針(3)針尖所在區域的圖像;所述觸覺主手(5)通過USB接口與上位機(7)連接,上位機(7)通過串口與納米定位控制器(6)連接;納米定位控制器(6)通過通訊線與樣本腔體(8)內的納米定位器(2)連接;掃描電子顯微鏡(1)的圖像信息輸出端連接上位機(7)的圖像信息輸入端;上位機(7)將圖像信息處理后發送位置與力控制信息至觸覺主手(5);觸覺主手(5)的主手位置信息信號輸出端連接上位機 ...
【技術特征摘要】
1.一種基于掃描電子顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺,其特征在于:它包括掃描電子顯微鏡(1)、納米定位器(2)、操作探針(3)、樣品臺(4)、觸覺主手(5)、納米定位控制器(6)、上位機(7)和樣本腔體(8), 所述樣本腔體(8)內設置有 納米定位器(2),納米定位器(2)位于樣本腔體(8)的底部; 所述納米定位器(2)上設置有操作探針(3),操作探針(3)的末端與樣品臺(4)的臺面相接觸;所述樣品臺(4)固定安裝在樣本腔體(8)的內側壁上;該樣品臺(4)用于放置納米線.所述掃描電子顯微鏡(I)固定安裝在樣本腔體(8)上方居中的位置上,該掃描電子顯微鏡(I)的鏡頭朝向樣本腔體(8 )內,該掃描電子顯微鏡(I)用于采集操作探針(3 )針尖所在區域的圖像; 所述觸覺主手(5 )通過USB接口與上位機(7 )連接,上位機(7 )通過串口與納米定位控制器(6)連接;納米定位控制器(6)通過通訊線與樣本腔體(8)內的納米定位器(2)連接;掃描電子顯微鏡1)的圖像信息輸出端連接上位機(7)的圖像信息輸入端; 上位機(7)將圖像信息處理后發送位置與力控制信息至觸覺主手(5); 觸覺主手(5)的主手位置信息信號輸出端連接上位機(7)的主手位置信息信號輸入端; 上位機(7)的位置控制指令信號輸出端連接納米定位控制器(6)的位置控制指令信號輸入端; 納米定位控制器(6)的位置信號輸出端連接納米定位器(2)的位置信號輸入端。2.根據權利要求1所述的一種基于掃描電子顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺的操作方法,其特征在于:所述納米定位器(2)是采用Attocube實現的。3.根據權利要求1所述的一種基于掃描電子顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺的操作方法,其特征在于:所述納米定位控制器(6)是采用ANC150實現的。4.關于權利要求1所述的一種基于掃描電子顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺實現虛擬力覺交互的方法,其特征在于:該控制方法為: 步驟一、在上位機(7)上,在VC++2008環境下,利用觸覺主手(5)的配套二次開發軟件Chia3d,聯合3DsMAX和OpenGL開發虛擬三維納米操作環境; 步驟二、將納米線放置在樣品臺(4)上,然后通過碰撞檢測算法對虛擬環境中的操作探針(3)的位置和其所在的虛擬環境進行碰撞檢測: 首先應用層次包圍盒法在操作探針(3)外設置包圍盒,若操作探針(3)的包圍盒未與納米線和樣品臺(4)未發生碰撞則不做判斷; 若操作探針(3)的包圍盒發生碰撞,則開始進入碰撞檢測: 碰撞檢測分為:操作探針(3)與樣品臺(4)之間的納米操作碰撞檢測、納米線與樣品臺(4)之間的納米操作碰撞檢測及操作探針(3)與納米線之間的納米操作碰撞檢測三部分;...
【專利技術屬性】
技術研發人員:榮偉彬,李東潔,鄒宇,肖萬哲,孫立寧,
申請(專利權)人:哈爾濱工業大學,
類型:發明
國別省市:
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。