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一種基于掃描電子顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺及實現虛擬力覺交互的方法，涉及一種基于顯微鏡的虛擬力反饋遙納操作平臺及方法。它解決了目前國內外普遍采用的納米操作系統對納米粒子或構件進行操作缺乏操作過程實時的圖像信息，系統的操作效率低、靈活性差...
該專利屬于哈爾濱工業大學所有，僅供學習研究參考，未經過哈爾濱工業大學授權不得商用。

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