本發明專利技術提供一種探針檢測裝置，包括絕緣座、固定在絕緣座內的探針、設置在絕緣座上方的扳手及靠近扳手的元件插口，檢測時，向下按壓扳手自由端，被檢測元件插入元件插口內，松開扳手自由端，此時被檢測元件與探針前端電性接觸，通過探針后端所連接的設備可以檢測被檢測元件的相應指標。所述絕緣座靠近扳手自由端處適當下沉，從而為扳手的下壓提供了避位功能，減少操作難度，縮短操作工時，提升生產效率。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種探針檢測裝置，尤其涉及一種具有扳手避位槽的探針檢測裝置。技術背景電子探針(Electron Microprobe),全名為電子探針X射線顯微分析儀,又名微區 X射線譜分析儀。可對試樣進行微小區域成分分析。除H、He、L1、Be等幾個較輕元素外，都 可進行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中某 一微小區域，使其發出特征X射線，測定該X射線的波長和強度，即可對該微區的元素作定 性或定量分析。將掃描電子顯微鏡和電子探針結合，在顯微鏡下把觀察到的顯微組織和元 素成分聯系起來，解決材料顯微不均勻性的問題，成為研究亞微觀結構的有力工具。電子探針有三種基本工作方式點分析用于選定點的全譜定性分析或定量分析， 以及對其中所含元素進行定量分析；線分析用于顯示元素沿選定直線方向上的濃度變化； 面分析用于觀察元素在選定微區內濃度分布。電子探針又稱微區X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的 高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發出特征X射線，按其波長及強度對固體表 面微區進行定性及定量化學分析。電子探針主要用來分析固體物質表面的細小顆粒或微小區域，最小范圍直徑為 Iym左右。分析元素從原子序數3(鋰)至92(鈾)。絕對感量可達10-14至10_15g。近 年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯合裝置，可在觀察微區形貌的同時逐點分析試樣的化 學成分及結構。由于具有以上特點及優點，電子探針廣泛應用于冶金、地質、電子材料、生物、醫 學、考古以及其它領域中得到日益廣泛地應用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工 具。同時，電子探針在產品的裝配檢測方面也發揮了重要作用。請參閱圖1所示，圖1 為現有用于USB連接器的探針檢測裝置的立體圖，所述探針檢測裝置9包括絕緣座91、固定 在絕緣座內的探針92、設置在絕緣座上的扳手93及開設在絕緣座前端的元件插口 94。檢 測時，向下按壓扳手自由端930，被檢測元件可以插入元件插口內，此時被檢測元件與探針 前端電性接觸，通過探針后端所連接的設備可以檢測被檢測元件的相應指標。然而，現有探 針檢測裝置的弊端是顯而易見的扳手93自由端的操作空間不足，導致按壓操作難度大， 操作工時長，生產效率低下。因此，如何克服扳手93自由端操作空間不足以便于操作，進而 提高生產效率，便成為業界急需解決的問題。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種具有扳手避位槽的探針檢測裝置。為實現上述專利技術目的，本專利技術的探針檢測裝置，包括絕緣座、固定在絕緣座內的探針、設置在絕緣座上的扳手及開設在絕緣座前端的元件插口，所述絕緣座上設有扳手避 位槽，檢測時，所述避位槽的存在可以保證很容易地向下按壓扳手自由端，以使被檢測元件 插入元件插口內，此時被檢測元件與探針前端電性接觸，通過探針后端所連接的設備可以 檢測被檢測元件的相應指標。作為本專利技術的進一步改進，所述扳手避位槽設置于扳手自由端的下方。作為本專利技術的進一步改進，所述扳手避位槽系由絕緣座后端的上表面下沉而成。作為本專利技術的進一步改進，所述避位槽沿絕緣座長度方向貫穿絕緣座后端。作為本專利技術的進一步改進，所述扳手的自由端延伸至避位槽上方以便于按壓。作為本專利技術的進一步改進，所述扳手的自由端不超過避位槽的長度。作為本專利技術的進一步改進，所述扳手的材質為鋁合金。作為本專利技術的進一步改進，所述扳手的材質為黃銅。與現有技術相比，本專利技術的有益效果是所述絕緣座靠近扳手自由端處設有避位 槽，從而為扳手的下壓提供了操作空間，可以減少操作難度、縮短操作工時、提升生產效率。附圖說明圖1為現有的探針檢測裝置的立體圖2為本專利技術的探針檢測裝置的立體圖3為本專利技術的探針檢測裝置另一角度的立體圖4為本專利技術的探針檢測裝置的扳手的平面圖。具體實施方式下面結合附圖所示的各實施方式對本專利技術進行詳細說明，但應當說明的是，這些 實施方式并非對本專利技術的限制，本領域普通技術人員根據這些實施方式所作的功能、方法、 或者結構上的等效變換或替代，均屬于本專利技術的保護范圍之內。參閱圖2所示，本專利技術的探針檢測裝置100的探針11，包括前端的接觸部12及與 接觸部相連的固定部13，其中接觸部12用來接觸被檢測裝置的電連接部分，而固定部13可 以將探針11固定在所述探針檢測裝置100內，探針11的后端可以通過相應的數據線連接 至相關的儀器，從而對被檢測產品進行相應的數據分析。請進一步參閱圖3及圖4所示，本專利技術的探針檢測裝置100還包括絕緣座2、設置 在絕緣座2上的扳手3，及開設在絕緣座2前端的元件插口 211，檢測時，向下按壓扳手3的 自由端，被檢測元件(未圖示)可以插入元件插口 211內，松開扳手3的自由端，探針11的 后端連接相應的數據線至相關的儀器，從而對被檢測產品進行相應的數據分析。所述絕緣座2整體上為一長方體結構，且由前端21及后端22分別成型后組裝在 一起。前端21呈方形，其中心部位開設有元件插口 211，用來插入被檢測的元件，所述元件 插口 211的形狀與被檢測的產品端口形狀相一致。所述絕緣座2后端22遠離前端21的一 面設有筒狀結構221。另，絕緣座2前端21的上部開設有供扳手3活動的長條形的活動槽212,且該活動 槽212前端與元件插口 211上部相貫通。所述扳手3呈長條狀，包括靠近元件插口 211的 旋轉部31，及靠近絕緣座2后端22的自由端32。所述旋轉部31系通過軸連接方式固定在絕緣座2前端21的活動槽212內。所述絕緣座2后端22上表面中部下沉形成一扳手避位槽222，該避位槽222在絕 緣座2長度方向上貫穿絕緣座2后端22的上部，所述扳手3自由端32懸置于所述避位槽 222上方，并與避位槽222底面有一定距離，以便于向下按壓扳手3自由端32。組裝時，將絕緣座2的前后端21、21組裝在一起，然后將探針11插入絕緣座2內， 使其前端的接觸部12進入所述絕緣座2前端21的元件插口 211內，以便與插入的元件接 觸部進行電連接。所述探針11的固定部13卡持在絕緣座2內相應位置，以確保探針11穩 固固定在絕緣座2內，不會在運輸及檢測過程中發生松動的問題。測試時，手動向下按壓扳手3的自由端32，使其進入絕緣座2后端22的避位槽222 內，扳手3的旋轉部31進行軸向旋轉，其前端向上翹起，此時，將被測試的元件(未圖示) 插入絕緣座2前端21的元件插口 211內，再將扳手3自由端32放開，扳手3旋轉部31回 復原狀，其前端緊密扣持在被測試元件接觸部的上表面上。如此，被測試元件被牢牢固定在 絕緣座2前端21的元件插口 211內，方便進行下一步的檢測工作。在此過程中，避位槽222 為扳手3自由端32提供了一個避位操作的功能，使操作者可以容易地向下按壓扳手3自由 端32，而避免了現有檢測裝置中扳手自由端按壓空間小，不易操作的問題。進一步的，為了延長扳手3的使用壽命，本專利技術所涉及的探針檢測裝置的扳手的 材質可以為鋁合金。進一步的，為了延長扳手3的使用壽命，本專利技術所涉及的探針檢測裝置的扳手的 材質可以為黃銅。與現有技術相比，本專利技術的有益效果是所述絕緣座2后端22靠近扳手3自由端 32處設有避位槽222，檢測時，操作者可以很容易地向下按壓扳手3自由端32，所述避位槽 222為扳手3自本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種探針檢測裝置，包括：絕緣座、固定在絕緣座內的探針、設置在絕緣座上的扳手及開設在絕緣座前端的元件插口，檢測時，向下按壓扳手自由端，被檢測元件插入元件插口內，松開扳手自由端，此時被檢測元件與探針前端電性接觸，通過探針后端所連接的設備可以檢測被檢測元件的相應指標，其特征在于：所述絕緣座上設有扳手避位槽。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：嚴定文，
申請(專利權)人：昆山諾瑞信機械設備有限公司，
類型：發明
國別省市：
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