本發明專利技術提供了一種柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的檢測方法，由完整性檢測、平整性檢測、透光率檢測、反光率檢測、耐磨性檢測、導電性檢測、耐敲擊檢測、缺陷位置及類型標志等8個步驟組成，其特征在于：檢測是在柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的生產中同步進行的，是在正常的氣壓、室溫及濕度中進行的，所有檢測結果可由計算機進行識別并自動標志缺陷位置。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及，具體地說是經過8道工序，應用計算機進行數據處理的，對柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的完整性、平整性、透光性、反光性、耐磨性、耐敲擊、導電性進行檢測，并對缺陷的位置及其類型進行標志的一種方法。
技術介紹
近些年來，隨著手機、平板電腦等電子產品的發展，觸摸屏應用越來越廣。柔性 CuCNT復合納米透明導電薄膜是制作觸摸屏的一種新型的部件，其具有柔性及彎曲性能好， 色調好，制備成本低、基材選用自由度高，壽命長等優點。等這種器件由于剛剛出現，生產中的檢測等環節一直未實現完整的計算機檢測方法，器件的多種性能檢測目前還主要由人工進行單項檢測。
技術實現思路
針對上述不足，本專利技術提供了。本專利技術是通過以下技術實現的， 由完整性檢測、平整性檢測、透光率檢測、反光率檢測、耐磨性檢測、導電性檢測、耐敲擊檢測、缺陷位置及類型標志等8個步驟組成，其特征在于檢測是在柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的生產中同步進行的，是在正常的氣壓、室溫及濕度中進行的，所有檢測結果可由計算機 進行識別并自動標志缺陷位置。本專利技術將柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的檢測實現了在線的多性能完整計算機檢測，并將檢測結果進行標志，實現了該器件檢測的自動化。附圖說明附圖為本專利技術的步驟圖。步驟(I)完整性檢測；步驟⑵平整性檢測；步驟⑶透光性檢測；步驟⑷反光性檢測；步驟(5)耐磨性檢測；步驟(6)耐敲擊檢測；步驟(7)導電性檢測；步驟⑶缺陷位置及類型標志具體實施方式步驟(I):完整性檢測，主要進行柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的完整性檢測，通過一排密布的發光管發出光束，在發光管的對面安裝有成排的接收管，通過對光的有無進行薄膜是否有小孔的檢測；步驟(2):平整性檢測，主要采用CXD攝像并進行圖像分析的方法，對柔性CuCNT 復合納米透明導電薄膜的平整性進行檢測。置于運動薄膜的上方兩側分別布置有掃描的激光刀及對稱布置的CCD鏡頭，激光刀按一定的時序進行掃描，CCD接收薄膜上的圖像，若CCD 接收到的圖像為一條條的直線，表明薄膜具有良好的平整性；步驟(3):透光性檢測，主要采用布置在運動薄膜上面的高功率燈管和布置在運動薄膜下面的模擬感光管組成，感光管的上面安裝有小縫隙，薄膜上面的燈管的光透光薄膜和縫隙被最下面的模擬感光管接收，若接收到的光強一致，且在一定的范圍內，表明薄膜具有合格的透光性，反之，則薄膜的透光性不合格；步驟(4):反光性檢測，主要采用CXD攝像并進行圖像分析的方法，對柔性CuCNT 復合納米透明導電薄膜的反光性檢測。置于運動薄膜的上方兩側分別布置有黑白塊的調制光投影及對稱布置的CXD鏡頭，CXD接收投射在薄膜上的黑白方塊圖像，若CXD接收到的圖像的黑白塊具有均勻的灰度，表明薄膜具有合格的反光性；步驟(5):耐磨性檢測，采用安裝在運動薄膜上面的纏有軟布的滾輪進行檢測。在薄膜的運動中，滾輪會按一定的設定與其下面的薄膜相接觸，然后應用CCD接收該處的反射圖像，并對圖像進行分析，以檢驗被磨擦處的表面狀態；步驟￠):耐敲擊檢測，采用高頻率的小質量光滑的金屬塊對運動中的薄膜進行規定次數的敲擊，然后應用CCD進行圖像識別，以檢驗被敲擊處的表面狀態；步驟(7):導電性檢測，采用多個兩兩成組的電極，頻繁接觸運動的薄膜，并按一定時序設備各組電極的通斷電情況，然后通過對接收電極的電壓進行Α/D轉換，分析其數據，以判斷薄膜上不同距離間的導電性能； 步驟⑶通過上述檢測和計算機數據、圖像處理，將有缺陷的位置及缺陷類型進行標志，以便進行人工干預處理。本專利技術具有如下有益效果1.檢測在常溫、常壓、常濕度下進行，對檢測的環境要求比較低；2.分工序應用計算機數據和圖像分析的方法，將柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜進行規定內容的檢測，并將檢測結果的缺陷位置和缺陷類型進行標志，有利于人工工藝干預；該檢測促進了柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的自動化生產權利要求1. 一種，包括按以下次序的步驟進行 步驟⑴完整性檢測； 步驟(2):平整性檢測； 步驟⑶透光性檢測； 步驟⑷反光性檢測； 步驟(5):耐磨性檢測； 步驟(6):耐敲擊檢測； 步驟(7):導電性檢測； 步驟(8):缺陷位置及類型標志； 其特征在于檢測是在柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的生產中同步進行的，是在正常的氣壓、室溫及濕度中進行的，所有檢測結果可由計算機進行識別并自動標志缺陷類型及位置。全文摘要本專利技術提供了一種，由完整性檢測、平整性檢測、透光率檢測、反光率檢測、耐磨性檢測、導電性檢測、耐敲擊檢測、缺陷位置及類型標志等8個步驟組成，其特征在于檢測是在柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的生產中同步進行的，是在正常的氣壓、室溫及濕度中進行的，所有檢測結果可由計算機進行識別并自動標志缺陷位置。文檔編號G01N35/00GK102998471SQ201210084720公開日2013年3月27日 申請日期2012年3月28日 優先權日2012年3月28日專利技術者楊陽, 于復生, 魯成巖, 楊俊法, 王海涵, 趙建軍 申請人:楊陽本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的檢測方法，包括按以下次序的步驟進行：步驟(1)：完整性檢測；步驟(2)：平整性檢測；步驟(3)：透光性檢測；步驟(4)：反光性檢測；步驟(5)：耐磨性檢測；步驟(6)：耐敲擊檢測；步驟(7)：導電性檢測；步驟(8)：缺陷位置及類型標志；其特征在于：檢測是在柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的生產中同步進行的，是在正常的氣壓、室溫及濕度中進行的，所有檢測結果可由計算機進行識別并自動標志缺陷類型及位置。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：楊陽，于復生，魯成巖，楊俊法，王海涵，趙建軍，
申請(專利權)人：楊陽，
類型：發明
國別省市：
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