使用分析物和過程控制信號的單次讀取確定而鑒定含分析物的樣品的方法和設備技術

本發明專利技術公開了用于檢測含內控的反應混合物中的分析物的設備和方法。使用核酸的擴增和檢測闡述了本發明專利技術，其中擴增反應包含外源性內控。檢測信號的幅度用作鑒定無效試驗、鑒定分析物陰性的有效試驗以及鑒定分析物陽性的試驗的變量。對表明探針雜交的信號進行檢測可用于在只使用單個可檢測標記物的驗證反應中指定分析物核酸的存在與否，并且不用區分由內控探針結合和分析物探針結合所貢獻的信號的比例。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】使用分析物和過程控制信號的單次讀取確定而鑒定含分析物的樣品的方法和設備相關申請案本申請要求于2010年6月30日提交的美國臨時申請No. 61/360，296的權益。此在先申請的全部公開內容據此以引用方式并入。專利
本專利技術涉及關于診斷測定法的生物技術子領域。更具體地講，本專利技術涉及在包括內控的測定法中進行分析物檢測，其中使用不同的探針檢測分析物和內控。在一個高度優選的實施方案中，使用具有相同可檢測標記物的不同雜交探針檢測單一混合物中的核酸分析物。_4] 專利技術背景檢測分析物(如核酸、蛋白質、脂質、碳水化合物等)的存在的現代測定法依賴于使用陽性對照來確認過程可靠性。例如，測定法可能力圖使用核酸擴增和隨后通過探針雜交和檢測來測定靶核酸。經過擴增的樣品可包含與分析物核酸共擴增的內控(下文稱為“1C”) 核酸。擴增產物可有利地具有可使用不同的雜交探針檢測的非相同序列。檢測IC擴增產物將確認測定程序的擴增和檢測組成部分的完整性。該信息在未能檢出分析物擴增產物時很有用。在這種情況下檢出IC信號可驗證分析物陰性結果。分析物擴增子及IC擴增子的特異性雜交探針通常通過它們所具有的標記物或通過空間分離而區分。包括內部過程控制的基于探針的測定法(包括蛋白和核酸測定法)對于IC和分析物的檢測通常有以下區別之一 (I)獨立于分析物來檢測IC ;以及⑵獨立于分析物加IC 的組合來檢測分析物。美國專利No. 6，586，234使用檢測IC和分析物核酸的兩次讀取系統闡述了這兩種可能性。當獨立于IC加分析物的組合來檢測分析物核酸時，可針對所產生的分析物雜交信號落在陽性評分所需的閾值截止值之下的樣品而評估后者的雜交信號。例如，低于分析物檢測的閾值截止值的信號作為另外一種選擇可表明不存在分析物或測定法失效。如果在代表IC加分析物的組合的第二次讀取中檢出信號，則將該結果解釋為驗證分析物陰性結果。換句話講，檢出IC加分析物的足夠信號表明必須已經檢出1C，并因此可驗證分析物陰性結果。應當顯而易見的是，這樣的系統要獲得成功取決于從代表IC和分析物的雜交信號的組合中分離分析物雜交信號的能力。在分析物檢測領域中遇到的一個難題涉及當不同探針(例如，流體連通且在溶液中游離而非固定的不同探針)之間無空間分離而進行檢測時，分析多重反應所需的不同標記物的數量。這可以在共擴增IC核酸和兩種不同的靶核酸的測定法的背景下加以理解。通過具有一個標記物的IC探針，用于檢測其余兩個靶標的一套探針可用第二標記物進行標記。第二標記物的陽性檢測信號表明存在兩種分析物之一，但不能將一者與另一者進行區分。隨著分析物數量的增加，解析反應性物質所需的再次測試的次數也相似地增加。換句話說，在陽性評分多重測定法中用于鑒定反應性物質的再次測試負擔是不利的，尤其是當陽性樣品所占的分數變得很大時。本專利技術解決了對簡化的分析物鑒定系統的需求。專利技術概沭在一個方面，本專利技術涉及通過過程控制確定包含內控的樣品中第一分析物存在與否的設備。一般而言，本專利技術的設備包括(a)被構造成容納樣品的支架；(b)被布置成當樣品容納在支架中時接收來自樣品的光學信號的光學檢測機構；以及(C)與光學檢測機構通信的處理器(如計算機)，該處理器被編程為執行確定多種情形中的哪一種情形適用的步驟。根據本專利技術，除了內控外，樣品進一步包含在接觸內控后生成內控信號的內控探針； 如果第一分析物存在于樣品中，則在接觸第一分析物后生成第一分析物信號的第一分析物探針；以及任選地如果第二分析物存在于樣品中，則在接觸第二分析物后生成第二分析物信號的第二分析物探針。進一步根據本專利技術，光學檢測機構被構造成測量內控探針和分析物探針所產生的組合信號而不用區分內控信號與分析物信號。光學檢測機構任選地被構造成測量第二分析物探針所產生的第二分析物信號。再進一步根據本專利技術，處理器被編程為確定以下哪一情形適用(i)樣品不含第一分析物，條件是組合信號的幅度小于第一分析物截止值并且(I)組合信號的幅度大于或等于有效性截止值或者(2)第二分析物探針包含在樣品中，光學檢測機構被構造成測量第二分析物信號，且第二分析物信號的幅度大于或等于第二分析物截止值，從而確立樣品包含第二分析物；(ii)樣品包含第一分析物，條件是組合信號的幅度大于或等于第一分析物截止值；以及(iii)無法確定樣品是否包含第一分析物，條件是組合信號的幅度小于第一分析物截止值且小于有效性截止值，并且如果第二分析物探針包含在反應混合物中，且光學檢測機構被構造成測量第二分析物信號，第二分析物信號小于第二分析物截止值。一般來講，第一分析物截止值的信號量大于有效性截止值的信號量，并且內控信號的可檢測最大值不能超過第一分析物截止值。根據通過過程控制確定包含內控的樣品中第一分析物存在與否的一般描述的設備的第一高度優選實施方案，光學檢測機構被構造成測量通過第二分析物探針生成的第二分析物信號。這樣的話，優選地，支架基本上不改變光學檢測機構測量組合信號的運行過程中的溫度；第一分析物、第二分析物和內控各自都包含核酸；且光學檢測機構不測量第一分析物信號，也不測量內控信號。作為另外一種選擇，優選地，光學檢測機構不測量第一分析物信號，也不測量內控信號；并且設備進一步包括輸出裝置，其產生由處理器執行的確定步驟的有形記錄(如，打印的記錄或存儲在計算機可讀介質上的電子記錄)。更優選地，支架基本上不改變光學檢測機構測量組合信號的運行過程中的溫度；第一分析物、第二分析物和內控各自都包含核酸；且光學檢測機構不測量第一分析物信號，也不測量內控信號。這樣的話，優選地，樣品在光學檢測機構測量組合信號的運行過程中保持基本上恒定的溫度。這可(例如)涉及使用溫控培養箱。作為另外一種選擇，優選地，光學檢測機構包括選自光度計和熒光計的檢測器。更優選地，檢測器為光度計。根據通過過程控制確定包含內控的樣品中第一分析物存在與否的一般描述的設備的第二高度優選實施方案，光學檢測機構不被構造成測量通過第二分析物探針生成的第二分析物信號。這樣的話，優選地，支架基本上不改變光學檢測機構測量組合信號的運行過程中的溫度；第一分析物和內控各自都包含核酸；且光學檢測機構不測量第一分析物信號，也不測量內控信號。作為另外一種選擇，光學檢測機構不測量第一分析物信號，也不測量內控信號；并且設備進一步包括輸出裝置，其產生由處理器執行的確定步驟的有形記錄。更優選地，支架基本上不改變光學檢測機構測量組合信號的運行過程中的溫度；第一分析物和內控各自都包含核酸；且光學檢測機構不測量第一分析物信號，也不測量內控信號。這樣的話，優選地，樣品在光學檢測機構測量組合信號的運行過程中保持基本上恒定的溫度。 作為另外一種選擇，優選地，光學檢測機構包括選自光度計和熒光計的檢測器。更優選地， 檢測器為光度計。除了一般描述的設備的前述高度優選實施方案外，還存在許多可用來改變本專利技術的設備的一般優選的修改。在一個一般優選的實施方案中，樣品容納在反應容器中，而支架被構造成容納多個反應容器。更優選地，反應容器選自試管和多孔板的孔。在另一個一般優選的實施方案中，光學檢測機構包括選自光度計和熒光計的檢測器。更優選地，檢測器為光度計。在又一個一般優選的實施方案中，處理器為包含軟件查表的計算機(如獨立計算機)。 在再一個一般優選的本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...

【專利技術屬性】
技術研發人員：SA朱，JM多克特，
申請(專利權)人：簡探針公司，
類型：
國別省市：