用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備和方法技術(shù)

本發(fā)明專(zhuān)利技術(shù)涉及用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備和方法。用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備包括校正子確定器（110）、測(cè)試序列提供器（120）和分析電路（130）。校正子確定器（110）基于編碼二進(jìn)制字確定誤差校正子比特序列。在此，誤差校正子比特序列表明編碼二進(jìn)制字是否是用于對(duì)編碼二進(jìn)制字進(jìn)行編碼所使用的誤差校正碼的碼字。此外，至少每當(dāng)誤差校正子比特序列表明編碼二進(jìn)制字是誤差校正碼的碼字時(shí)，測(cè)試序列提供器就給待測(cè)試電路（102）提供與所確定的誤差校正子比特序列不同的測(cè)試比特序列。另外分析電路（130）基于待測(cè)試電路（102）的由測(cè)試比特序列引起的測(cè)試輸出信號(hào)來(lái)識(shí)別通過(guò)待測(cè)試電路（102）對(duì)測(cè)試比特序列的有誤差的處理。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

根據(jù)本專(zhuān)利技術(shù)的實(shí)施例涉及二進(jìn)制信號(hào)中的誤差校正和誤差識(shí)別領(lǐng)域并且尤其是涉及。
技術(shù)介紹
由于集成電路的器件進(jìn)一步縮小和與之相關(guān)聯(lián)的較小的電壓值和電流值越來(lái)越多地在集成電路中和特別是也在用于誤差校正或用于誤差識(shí)別的電路中出現(xiàn)誤差。這種誤差可能導(dǎo)致，進(jìn)行錯(cuò)誤校正，即使在校正電路的輸出端處根本不存在有誤差的碼字，這是不利的。如果由于有誤差的誤差識(shí)別電路而有誤差地表明誤差，則可能不必要地觸發(fā)系統(tǒng)層面上的措施，這同樣是不利的。通過(guò)添加冗余，在電子電路中可以識(shí)別電路中的靜態(tài)的或暫時(shí)的誤差。但是在此應(yīng)該在高識(shí)別概率的情況下將附加的硬件耗費(fèi)保持得盡可能小。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專(zhuān)利技術(shù)的任務(wù)是實(shí)現(xiàn)一種用于測(cè)試電路的改善的方案，所述方案使得能夠在小附加硬件耗費(fèi)和/或小附加計(jì)算時(shí)間的情況下提高誤差識(shí)別特性。該任務(wù)通過(guò)根據(jù)權(quán)利要求I的設(shè)備、根據(jù)權(quán)利要求21的方法或者根據(jù)權(quán)利要求22的計(jì)算機(jī)程序來(lái)解決。實(shí)施例實(shí)現(xiàn)一種用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備，具有校正子確定器(Syndrombestimmer)、測(cè)試序列提供器和分析電路。校正子確定器被設(shè)計(jì)用于基于編碼二進(jìn)制字來(lái)確定誤差校正子比特序列。誤差校正子比特序列表明，編碼二進(jìn)制字是否是用于對(duì)編碼二進(jìn)制字進(jìn)行編碼所使用的誤差校正碼的碼字。此外，測(cè)試序列提供器被設(shè)計(jì)用于至少每當(dāng)誤差校正子比特序列表明編碼二進(jìn)制字是誤差校正碼的碼字時(shí)，就給待測(cè)試電路提供與所確定的誤差校正子比特序列不同的測(cè)試比特序列。另外，分析電路被設(shè)計(jì)用于基于待測(cè)試電路的通過(guò)測(cè)試比特序列引起的測(cè)試輸出信號(hào)識(shí)別通過(guò)待測(cè)試電路對(duì)測(cè)試比特序列的有誤差的處理。通過(guò)在編碼二進(jìn)制字不具有誤差和從而是誤差校正碼的碼字的時(shí)刻提供測(cè)試比特序列，可以使用不需要校正編碼二進(jìn)制字的時(shí)間用來(lái)測(cè)試待測(cè)試電路。由此，可以在僅小的附加計(jì)算時(shí)間情況下或者在沒(méi)有附加計(jì)算時(shí)間情況下檢驗(yàn)待測(cè)試電路的無(wú)誤差性。附加地，可以將為此所需要的硬件耗費(fèi)保持得小，因?yàn)闇y(cè)試序列提供器和分析電路可以以小的耗費(fèi)實(shí)現(xiàn)。附圖說(shuō)明下面參考附圖闡述實(shí)施例。其中 圖I示出用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備的框 圖2示出用于校正在編碼二進(jìn)制字中的比特誤差的設(shè)備的框圖；圖3示出用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備的框 圖4示出用于測(cè)試待測(cè)試電路的另一設(shè)備的框 圖5示出用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備的框 圖6示出測(cè)試序列提供器的一部分的框 圖7示出用于利用用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備來(lái)校正在編碼二進(jìn)制字中的比特誤差的設(shè)備的框 圖8示出用于利用用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備來(lái)校正在編碼二進(jìn)制字中的比特誤差的設(shè)備的框 圖9示出用于利用用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備來(lái)校正在編碼二進(jìn)制字中的比特誤差的設(shè)備的框 圖10示出用于利用用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備來(lái)校正在編碼二進(jìn)制字中的比特誤差的設(shè)備的框 圖11示出用于利用用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備來(lái)校正在編碼二進(jìn)制字中的比特誤差的設(shè)備的框圖；和 圖12示出用于測(cè)試待測(cè)試電路的方法的流程圖。具體實(shí)施例方式下面描述的方案一般地涉及編碼數(shù)據(jù)的處理，所述編碼數(shù)據(jù)是在使用代碼C的情況下被編碼的。下面的導(dǎo)言尤其是用于闡述這里如何使用編碼理論的常見(jiàn)概念。如果C例如是線性(n, k)代碼,也即長(zhǎng)度為η的具有k個(gè)信息比特和n_k=m個(gè)校驗(yàn)比特的線性代碼，則代碼C可以通過(guò)(m，η)奇偶校驗(yàn)矩陣H和(k，η)生成矩陣G來(lái)描述。如果待編碼數(shù)據(jù)比特或信息比特通過(guò)U = I]:, …Ua描述，則碼字V= Vi , …t Vr,由信息比特U按照關(guān)系V = u . G 構(gòu)成。通過(guò)W = //', 將校正子< r11 .... s ,(rf.—.... I分配給η位字r ...... r; < ,其或者是代碼C的碼字或者是代碼C的非碼字。在此P表示行矢量V’的轉(zhuǎn)置列矢量并且s(v’)T表示行矢量S,:/)的轉(zhuǎn)置列矢量。如果其校正子等于0，也即Π - = <1 適用，則字V’正好是碼字。如果碼字V被干擾成非碼字V’并且V — I·.; ·.…Vlj — Cj . (..I ,,…Vu -..Ir C11 — Γ 二. V 適用，則e = ei，· · ·，％稱(chēng)為誤差矢量。e的等于I的分量表明受干擾的比特。于是對(duì)于校正子s (V’ )適用的是 并且誤差校正子從誤差矢量中來(lái)確定。在通過(guò)校正誤差的代碼C對(duì)字Z — V Θ €.的誤差的通常執(zhí)行的校正時(shí)，首先在校正子發(fā)生器中確定誤差校正子S (V’ )。如果誤差校正子等于0，則不存在可識(shí)別的誤差。如果誤差校正子不等于0，則誤差可以被識(shí)別。根據(jù)誤差校正子因此可以以簡(jiǎn)單的方式通過(guò)檢驗(yàn)校正子是否為O來(lái)確定是否存在可以通過(guò)所觀察的代碼C識(shí)別的誤差。于是解碼器(解碼單元)給誤差校正子s (V’ )分配在V’中應(yīng)被校正的比特。這正好是誤差矢量的等于I的比特。如果所出現(xiàn)的誤差可以通過(guò)所選擇的代碼校正，則該行為方式是成功的。此外，誤差校正電路也具有用于確定誤差類(lèi)型的電路，所述電路表明何種類(lèi)型的誤差出現(xiàn)。例如，誤差類(lèi)型顯示器可以表明，出現(xiàn)I比特誤差、2比特誤差、3比特誤差或者其他多比特誤差。基于誤差校正子來(lái)進(jìn)行誤差類(lèi)型的確定。在誤差很少在校正子發(fā)生器的輸入端處出現(xiàn)的情況下，實(shí)際上值O總是施加在校正子發(fā)生器的輸出端處。如果現(xiàn)在例如在校正子發(fā)生器的輸出線路處存在永久固定O(stuck-at-Ο)誤差，則只要在校正子發(fā)生器的輸入端處不施加非碼字，則這樣的誤差不產(chǎn)生影響。但是該永久誤差可以使通過(guò)所施加的非碼字確定的有誤差的校正子失真為0，使得于是不能從校正子發(fā)生器的輸入值來(lái)識(shí)別誤差并且通過(guò)解碼器也不對(duì)錯(cuò)誤的比特進(jìn)行校正。此外，只要在校正子發(fā)生器的輸入線路上不出現(xiàn)誤差，則總是在諸如解碼器、誤差類(lèi)型確定器的其他子電路處在其輸入中施加值O。如果這種誤差非常少地出現(xiàn)，則實(shí)際上總是將相同的值(這里為O)輸入到解碼器中和誤差類(lèi)型確定器中，使得在這些電路部分中存在的誤差在持續(xù)的運(yùn)行中不能在這些子電路的輸出端處產(chǎn)生影響并且也不能被識(shí)別，這是不利的。為了避免實(shí)際上值O總是出現(xiàn)在校正子發(fā)生器的輸出端處的這樣的情形，可以將代碼C的H矩陣修改成矩陣Hmod，其方式是例如逐分量地對(duì)代碼C的H矩陣的列求逆(invertieren)0如果H矩陣的第i列被求逆，則其第i分量等于O的碼字vi0導(dǎo)致誤差校正子 = //,,W I:= h^ V ~， 而其第i分量等于I的碼字Vn導(dǎo)致誤差校正子 'V. = //,W =丨 I-·'.. D7 OI i也即只要在校正子發(fā)生器的輸入端處施加代碼C的碼字并且校正子發(fā)生器正確地工作，則所述校正子發(fā)生器輸出或者值或者值:U':。甚至也在僅將正確的碼字輸入到校正子發(fā)生器中時(shí)，校正子發(fā)生器的輸出端處的固定0/1誤差可以通過(guò)這種方式被識(shí)別。一般地，可以逐分量地對(duì)H矩陣的列的子集求逆。如果逐分量地對(duì)H矩陣的第I1列、第“列、…、第仁列求逆，則如果對(duì)于碼字^ % ...，匕為權(quán)利要求1.用于測(cè)試待測(cè)試電路(102，13，24，44，54，641，642，742，86)的設(shè)備(100，200，300，400，500，600，700，800，900，1000，1100)，具有以下特征 校正子確定器(110，11，21，41，51，61，81 )，其被設(shè)計(jì)用于基于編碼二進(jìn)制本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
用于測(cè)試待測(cè)試電路（102,?13,?24,?44,?54,?641,?642,?742,?86）的設(shè)備（100,?200,?300,?400,?500,?600,?700,?800,?900,?1000,?1100），具有以下特征：校正子確定器（110,?11,?21,?41,?51,?61,?81），其被設(shè)計(jì)用于基于編碼二進(jìn)制值（v’）確定誤差校正子比特序列（s(v“）)，其中誤差校正子比特序列（s(v“)）表明，編碼二進(jìn)制字（v’）是否是用于對(duì)編碼二進(jìn)制字（v’）進(jìn)行編碼所使用的誤差校正碼（C）的碼字；測(cè)試序列提供器（120），其被設(shè)計(jì)用于至少每當(dāng)誤差校正子比特序列（s(v“)）表明編碼二進(jìn)制字（v’）是誤差校正碼（C）的碼字時(shí)，就給待測(cè)試電路（102,?13,?24,?44,?54,?641,?642,?742,?86）提供與所確定的誤差校正子比特序列（s(v“)）不同的測(cè)試比特序列（Ti）；和分析電路（130,?14,?25,?58,?89），其被設(shè)計(jì)用于基于待測(cè)試電路（102,?13,?24,?44,?54,?641,?642,?742,?86）的通過(guò)測(cè)試比特序列（Ti）引起的測(cè)試輸出信號(hào)（R(Ti)“）識(shí)別通過(guò)待測(cè)試電路（102,?13,?24,?44,?54,?641,?642,?742,?86）對(duì)測(cè)試比特序列（Ti）的有誤差的處理。...

【技術(shù)特征摘要】
...

【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：U巴克豪森，M格塞爾，T克恩，T拉貝納爾特，
申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人：英飛凌科技股份有限公司，
類(lèi)型：發(fā)明
國(guó)別省市：