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本發(fā)明涉及用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備和方法。用于測(cè)試待測(cè)試電路的設(shè)備包括校正子確定器（110）、測(cè)試序列提供器（120）和分析電路（130）。校正子確定器（110）基于編碼二進(jìn)制字確定誤差校正子比特序列。在此，誤差校正子比特序列表明編碼二進(jìn)制...該專利屬于英飛凌科技股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過英飛凌科技股份有限公司授權(quán)不得商用。