存儲設備測試系統內的阻尼振動技術方案

本發明專利技術公開了一種包括殼體的存儲設備測試槽。所述殼體限定用于接納要進行測試的存儲設備的測試室。一個或多個調諧質量阻尼器連接到所述殼體。所述一個或多個調諧質量阻尼器被構造為抑制所述殼體以一種或多種預定頻率振動。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】存儲設備測試系統內的阻尼振動相關專利申請的交叉引用本專利申請要求提交于2010年6月17日的美國專利申請No. 12/817，614的優先權，所述專利申請的內容據此全文以引用方式并入。
本公開涉及存儲設備測試系統中的阻尼振動。
技術介紹
存儲設備制造商通常會測試所制造的存儲設備是否符合一系列要求。存在串行或并行測試大量存儲設備的測試設備和技術。制造商往往會同時或分批地測試大量存儲設備。儲設備測試系統通常包括一個或多個測試器支架，所述一個或多個測試器支架具有接納要進行測試的存儲設備的多個測試槽。在一些情況下，存儲設備設置在托架中，所述托架用于將存儲設備裝載至測試支架和從測試支架卸載存儲設備。調節緊鄰存儲設備的測試環境。對于精確的測試條件和存儲設置的安全性而言， 測試環境中的最小溫度波動可為至關重要的。另外，具有較高容量、較快旋轉速度和較小磁頭間隙的最新代磁盤驅動器對振動較為敏感。過度振動可影響測試結果的可靠性和電連接的 完整性。在測試條件下，驅動器自身可通過支承結構或固定裝置將振動傳播到相鄰單元。 此振動“串擾”和外部振動源一起會造成碰撞故障、磁頭松動和非重復性脫離磁道(NRRO)， 從而可能導致較低的產量和增加的制造成本。當前的存儲設備測試系統采用自動化和結構化支承系統，所述自動化和結構化支承系統會造成系統中的過度振動并且/或者需要大的占用空間。
技術實現思路
整體上，本專利技術涉及測試槽托架以及相關的設備、系統和方法。在一個方面，存儲設備測試槽包括殼體。殼體限定用于接納要進行測試的存儲設備的測試室。測試槽還包括連接(如，使用粘合劑、緊固件等一體地形成或耦合)到殼體的一個或多個調諧質量阻尼器。一個或多個調諧質量阻尼器被構造為抑制殼體以一種或多種預定頻率振動。實施例可包括以下一個或多個特征。在一些情況下，一個或多個調諧質量阻尼器包括連接到殼體的橫梁。橫梁一體地連接到殼體(如，與殼體一起模制、加工或以其他方式成形)。橫梁包括被構造為相對于彼此滑動的兩個或更多個層。橫梁包括懸臂梁。一個或多個調諧質量阻尼器還包括耦合到橫梁的重物。該重物與橫梁成一整體。一個或多個調諧質量阻尼器還包括設置在橫梁與重物之間的一層吸能材料。吸能材料包括彈性體、粘彈性粘合劑和/或粘滯液體。一個或多個調諧質量阻尼器還包括固定到吸能層表面的一層大體剛性的材料。所述大體剛性的材料設置在吸能層與重物之間。一種或多種預定頻率與殼體的一種或多種振動模式相關。測試室被3構造為接納并支承用于攜帶要測試的存儲設備的存儲設備輸送器。一個或多個調諧質量阻尼器連接到殼體的外表面。一個或多個調諧質量阻尼器連接到殼體的內表面。實施例可包括以下一個或多個優點。向存儲設備測試槽中添加一個或多個調諧質量阻尼器可以顯著減小存儲設備測試槽以一種或多種預定頻率的振動。調諧質量阻尼器的總體設計使得可將其設計成對存儲設備測試槽的若干模式進行衰減。可以調整懸臂梁、金屬重物、剛性層和吸能層的尺寸和特性，以使得阻尼器具有的以若干頻率進行振動的振動模式可與存儲設備測試槽的若干棘手的振動模式相匹配。附圖說明圖I為存儲設備測試系統的透視圖。圖2A為測試支架的透視圖。圖2B為得自圖2A的測試支架的托架容器的詳細透視圖。圖3A和3B為測試槽托架的透視圖。圖4為測試槽組件的透視圖。圖5為存儲設備測試系統的俯視圖。圖6為存儲設備測試系統的透視圖。圖7A和7B為存儲設備輸送器的透視圖。圖8A為支承存儲設備的存儲設備輸送器的透視圖。圖SB為接納存儲設備的存儲設備輸送器的透視圖。圖SC為攜帶被對準插入到測試槽內的存儲設備的存儲設備輸送器的透視圖。圖9為測試電路的示意圖。圖10AU0B和11為測試槽的透視圖。圖12為包括調諧質量阻尼器的測試槽的透視圖。圖13為測試槽上的調諧質量阻尼器的放大透視圖。圖14為示出使用和不使用調諧質量阻尼的振動測量的曲線圖。不同附圖中的類似參考符號表示類似的元件。具體實施方式系統概述如圖I所示，存儲設備測試系統10包括多個測試支架100 (如，圖中示出了 10個測試支架)、轉運站200和自動控制裝置300。如圖2A和2B所示，各個測試支架100通常包括底座102。底座102可由多個結構構件104 (如成形的金屬片、擠出的鋁、鋼管材、和/或復合構件)來構造，所述多個結構構件104被緊固在一起并且共同限定多個托架容器106。每個托架容器106可支承一個測試槽托架110。如圖3A和3B所示，各個測試槽托架110均支承多個測試槽組件120。測試槽托架110中的不同者可被構造為進行不同類型的測試和/或測試不同類型的存儲設備。測試槽托架110彼此也可在測試系統10內的多個托架容器106中互換，由此允許例如基于測試需要來修改和/或定制測試系統10。在圖 2A所示的例子中，空氣導管101提供相應測試支架100的各個測試槽組件120與空氣熱交換器103之間的氣動連通。空氣熱交換器103設置在遠離所接納測試槽托架110的托架容器106的下方。可與本文所述的那些相結合的測試支架基礎構造和特征的其他細節也可存在于提交于 2010 年 2 月 2 日、名稱為 “STORAGE DEVICE TESTING SYSTEM COOLING” (存儲設備測試系統冷卻)、代理人檔案號18523-0103001、專利技術人Brian S. Merrow并具有分配的序列號12/698，575的美國專利申請中。如本文所用的存儲設備包括磁盤驅動器、固態驅動器、存儲器設備以及受益于異步測試的任何設備。磁盤驅動器通常為在具有磁性表面的快速轉動盤片上存儲數字編碼數據的非易失性存儲設備。固態驅動器(SSD)為使用固態存儲器存儲永久性數據的數據存儲設備。使用SRAM或DRAM (而非閃存)的SSD通常稱為RAM驅動器。術語“固態”一般來講用于區分固態電子器件和機電器件。如圖4所示，各個測試槽組件120包括存儲設備輸送器400、測試槽500和相關的空氣移動裝置組件700。存儲設備輸送器400可用于捕集存儲設備600 (如從轉運站200) 以及將存儲設備600輸送至測試槽500中的一個來進行測試。參見圖5和6，自動控制裝置300包括機械臂310和設置在機械臂310遠端的機械手312 (圖5)。機械臂310限定了垂直于地板表面316的第一軸線314 (圖6)，可操作機械臂310以在自動控制裝置操作區域318內按預定弧線圍繞第一軸線314旋轉以及從第一 軸線314徑向延伸。機械臂310被構造為通過在轉運站200與測試支架100之間輸送存儲設備600來獨立地為每個測試槽500提供服務。在一些實施例中，機械臂310被構造為使用機械手312從測試槽500中的一個移出存儲設備輸送器400，然后使用存儲設備輸送器400 從轉運站200獲取存儲設備600，接著將存儲設備輸送器400及其中的存儲設備600返回到測試槽500以測試存儲設備600。測試之后，機械臂310從測試槽500中的一個取回存儲設備輸送器400及支承的存儲設備600，然后通過操縱存儲設備輸送器400 (即，使用機械手 312)將其返回到轉運站200 (或將其移至測試槽500中的另一個)。在一些實施例中，機械臂310被構造為使用機械手312從轉運站200獲取存儲設備600，然后將存儲本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】2010.06.17 US 12/817,6141.一種存儲設備測試槽，包括殼體，其限定用于接納要進行測試的存儲設備的測試室；以及連接到所述殼體的一個或多個調諧質量阻尼器，所述一個或多個調諧質量阻尼器被構造為抑制所述殼體以一種或多種預定頻率振動。2.根據權利要求I所述的存儲設備測試槽，其中所述一個或多個調諧質量阻尼器包括連接到所述殼體的橫梁。3.根據權利要求2所述的存儲設備測試槽，其中所述橫梁一體地連接到所述殼體。4.根據權利要求2所述的存儲設備測試槽，其中所述橫梁包括被構造為相對于彼此滑動的兩個或更多個層。5.根據權利要求2所述的存儲設備測試槽，其中所述橫梁包括懸臂梁。6.根據權利要求2所述的存儲設備測試槽，其中所述一個或多個調諧質量阻尼器還包括連接到所述橫梁的重物。7.根據權利要求6所述的存儲設備測試槽，其中所述重物一體地連接到所述橫梁(如...

【專利技術屬性】
技術研發人員：彼得·馬蒂諾，
申請(專利權)人：泰拉丁公司，
類型：
國別省市：