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本發(fā)明公開了一種包括殼體的存儲設(shè)備測試槽。所述殼體限定用于接納要進(jìn)行測試的存儲設(shè)備的測試室。一個或多個調(diào)諧質(zhì)量阻尼器連接到所述殼體。所述一個或多個調(diào)諧質(zhì)量阻尼器被構(gòu)造為抑制所述殼體以一種或多種預(yù)定頻率振動。...該專利屬于泰拉丁公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過泰拉丁公司授權(quán)不得商用。