【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于檢漏
，具體來說，涉及一種，可以用于現場對正壓標準漏孔的校準。
技術介紹
正壓標準漏孔在吸槍法檢漏測試中起著“基準”的作用，如果正壓標準漏孔在現場使用時其真實漏率值較其標稱值相差較大，則會極大地降低檢漏測試結果的可靠性。目前正壓標準漏孔的校準均是由計量站完成，給出校準結果(即正壓標準漏孔的標稱值)及合成標準不確定度。但正壓標準漏孔在現場使用時，由于各種因素的影響(如運輸環(huán)境、保存、使用環(huán)境等)，使得正壓標準漏孔的真實漏率值較其標稱值或多或少的存在變化。如在工程實踐中，會發(fā)現某些正壓標準漏孔在現場使用時堵了，即此時該正壓標準漏孔的真實漏率值為O。該種情形由于是極限情形，故很容易辨別；但如果正壓標準漏孔的真實漏率在現場時，較計量站校準時(即正壓標準漏孔的標稱值)提高或降低了 I個或2個數量級，如某正壓標準漏孔的標稱值為7. 05X IO-6Pa · mY1，而由于保存不當，現場使用時，其真實漏率值變?yōu)榱?8. 03X IO-7Pa · Hi3s'此時在現場是根本無法區(qū)分的。因此，就迫切需要一種能。本專利技術即給出了一種，方便且成本低廉，對提高檢漏測試結果的可靠性具有重要的意義。
技術實現思路
本專利技術的目的是提供一種，以便提高檢漏測試結果的可靠性。本專利技術所提供的具體方案如下本專利技術的一種，包括以下步驟I)試驗準備a.準備好若干計量過的正壓標準漏孔，且這些正壓標準漏孔的標稱值應在較為接近的量程內，如_5到_7量級，正壓標準漏孔的數量應該在6個以上，優(yōu)選10個以上；b.將吸槍裝配在氦質譜檢漏儀上，啟動氦質譜檢漏儀。2)試驗測試a.用吸槍檢...
【技術保護點】
現場校準正壓標準漏孔的方法，該方法包括以下步驟：1)試驗準備：a.準備好若干計量過的正壓標準漏孔，且這些正壓標準漏孔的標稱值在？5到？7量級的量程內，正壓標準漏孔的數量在6個以上；b.將吸槍裝配在氦質譜檢漏儀上；c.啟動氦質譜檢漏儀；2)試驗測試：a.用吸槍檢漏法的測試工藝分別測試正壓標準漏孔；b.在測試的同時，實時記錄檢漏儀的漏率反應值，并對檢漏儀的漏率反應值采取多次測量取平均值的方法；3)數據處理及校準：a.處理檢漏儀的漏率反應值與正壓標準漏孔的標稱值的數據，并做y＝kx+b形式的線性擬合，由于測試數據通常跨越幾個數量級，因此建議采用對數坐標系；b.觀察該線性擬合曲線的擬合質量，此曲線即為正壓標準漏孔的校準曲線；c.根據校準曲線和檢漏儀對各個正壓標準漏孔的漏率反應值，分別計算出各個正壓標準漏孔的真實漏率值，并用該真實漏率值作為吸槍檢漏法的基準值。
【技術特征摘要】
1.現場校準正壓標準漏孔的方法，該方法包括以下步驟1)試驗準備a.準備好若干計量過的正壓標準漏孔，且這些正壓標準漏孔的標稱值在_5到-7量級的量程內，正壓標準漏孔的數量在6個以上；b.將吸槍裝配在氦質譜檢漏儀上；c.啟動氦質譜檢漏儀；2)試驗測試a.用吸槍檢漏法的測試工藝分別測試正壓標準漏孔；b.在測試的同時，實時記錄檢漏儀的漏率反應值，并對檢漏儀的漏率反應值采取多次測量取平均值的方法；3)數據處理及校準a.處理檢漏儀...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：王勇，閆榮鑫，孫立臣，黃錫寧，
申請(專利權)人：北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所，
類型：發(fā)明
國別省市：
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