縮放手勢判斷方法及觸控感應控制芯片技術

本發明專利技術公開了一種縮放手勢判斷方法，用于一觸控感應裝置，其包括檢測一第一觸控點及一第二觸控點；判斷該第一觸控點及一第二觸控點之間的一位置差值；以及根據該位置差值的變化，決定該第一觸控點與該第二觸控點所代表的一縮放手勢。

【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種縮放手勢判斷方法及觸控感應控制芯片，特別涉及一種可用于一自容式(self-capacitative)觸控感應裝置的縮放手勢判斷方法,及相關觸控感應控制芯片。
技術介紹
觸控裝置具有操作方便、反應速度快及節省空間的優點，能提供使用者更直覺與便利的操控方式，因而成為重要的輸入介面，廣泛地用于各式的消費性電子產品中。具體而言，觸控裝置是由一感測電路及多條以矩陣方式排列的走線，感測電路可感測這些走線的電氣信號，并將之轉換為數位形式的感應數據值，以判讀觸碰事件。然而，現有觸控裝置主要適用于單點觸控，若針對多點觸控的情況時，將可能面臨誤判的問題。 舉例來說，請參考圖1，圖I為現有一投射電容感應裝置10的示意圖。投射電容感應裝置10包括有感應電容串列X1 Xm與Y1 Yn，每一感應電容串列是由多個感應電容所串接成的一維結構。現有觸控檢測方式為檢測每一感應電容串列的電容值，來判斷是否有觸控事件發生。假設感應電容串列X1有a個感應電容，每一感應電容的電容值為C，則正常情況下，感應電容串列X1的電容值為aC。若人體(例如手指)接觸到感應電容串列X1上的某一感應電容時的電容變化量為AC，當檢測到感應電容串列X1的電容值為(aC+AC)時，即表示目前手指正接觸于感應電容串列X1上的某處。然而，針對多點觸控的情況，如圖I所示，由于同時有兩只手指接觸到投射電容感應裝置10，感應電容串列XpX1^YyYlri會同時感應到電容變化，因而將會判斷成在(X3，Y3)、(x3，Ylri)、(Xm+ Y3)、(Xm-!, Ylri)處有觸控事件發生。但是，實際上，僅有(Χ3，γ3)與(Xm-PYlri)為真實觸控點，而(XyYn-HpY3)并非真實觸控點。在此情況下，投射電容感應裝置10發生錯誤判斷的結果，而使檢測結果誤報了兩個非真實觸控點，也就是導致了所謂幽靈鍵(ghost key)的情況。因此，當有多點觸控的情形時(如進行縮放手勢時)，僅能得知有哪些感應電容串列的交會處可能有觸控事件發生，而無法確實判斷出真實觸控點及縮放手勢。
技術實現思路
本專利技術的主要目的在于提供一種縮放手勢判斷方法及一種觸控感應控制芯片。為達成上述目的，本專利技術公開一種縮放手勢判斷方法，用于一觸控感應裝置。該縮放手勢判斷方法包括有檢測一第一觸控點及一第二觸控點，判斷該第一觸控點及一第二觸控點之間的一位置差值，以及根據該位置差值的變化，決定該第一觸控點與該第二觸控點所代表的一縮放手勢。為達成上述目的，本專利技術還公開一種觸控感應控制芯片，用于一觸控感應裝置。該觸控感應控制芯片包括有一檢測單元，用來檢測一第一觸控點及一第二觸控點，一判斷單元，用來判斷該第一觸控點及一第二觸控點之間的一位置差值，以及一決定單元，用來根據該位置差值的變化，決定該第一觸控點與該第二觸控點所代表的一縮放手勢。附圖說明圖I為現有一投射電容感應裝置的示意圖。圖2為依據一實施例的一觸控感應系統的方塊架構圖。圖3為圖2中的觸控感應控制芯片檢測兩觸控點之間的一位置差值的示意圖。 圖4A、4B為圖2中的觸控感應芯片搭配自容感應的觸控感應裝置時可能出現誤判情形的示意圖。圖5為依據一實施例的一縮放手勢判斷流程。圖6為依據一實施例的一反彈跳機制流程。圖7為依據一實施例的一計算機系統的方塊架構圖。其中，附圖標記說明如下10投射電容感應裝置20觸控感應系統70計算機系統200觸控感應裝置202觸控感應控制芯片206檢測單元208判斷單元210決定單元704主機CX1 CXm、CY1 CYn檢測信號T1、T2、T1’、T2’觸控點D位置差值Δ X水平位置差值Δ Y垂直位置差值ZG縮放手勢X1 Xm、Y1 Yn感應電容串列Pac分組具體實施例方式請參考圖2，圖2為本專利技術實施例的一觸控感應系統20的方塊架構圖。觸控感應系統20是由一觸控感應裝置200及一觸控感應控制芯片202所組成。觸控感應控制芯片202包括有一檢測單元206、一判斷單元208及一決定單元210。檢測單元206用來根據來自觸控感應裝置200的檢測信號CX1 CXmXY1 CYn，以檢測一第一觸控點Tl及一第二觸控點T2。判斷單元208進而判斷第一觸控點Tl及一第二觸控點T2之間的一位置差值D。最后，決定單元210根據位置差值D的變化，決定第一觸控點Tl與第二觸控點T2所代表的一縮放手勢ZG。其中，檢測單元206根據來自觸控感應裝置200的檢測信號CX1 CXm、CY1 CYn，以檢測第一觸控點Tl及第二觸控點T2的方法與現有投射電容感應裝置10類似。然而，不同于現有電容感應裝置在多點觸控的情形下會產生幽靈鍵的情況，以致造成縮放手勢的誤判，決定單元210是通過第一觸控點Tl及第二觸控點T2之間的位置差值D的變化，以決定縮放手勢ZG。因此,觸控感應控制芯片202可搭配自容(self-capacitance)或互容(mutual-capacitance)等兩種感應方式的觸控感應裝置200,以判斷縮放手勢ZG。詳細而言，請參考圖3，圖3為圖2中的觸控感應控制芯片202檢測兩觸控點Tl、T2之間的位置差值D的示意圖。如圖3所示，觸控感應控制芯片202的判斷單元是分別判斷第一觸控點Tl及第二觸控點T2之間的一水平位置差值Λ X及一垂直位置差值Λ Y，以判斷第一觸控點Tl與第二觸控點Τ2之間的位置差值D。當位置差值D呈現連續遞增或遞減時，觸控感應控制芯片202可分別決定第一觸控點Tl及第二觸控點Τ2所代表的縮放手勢ZG是一放大(Zoom-in)或一縮小(Zoom-out)手勢。利用位置差值D呈連續遞增或遞減以判斷縮放手勢ZG的目的在于避免縮放手勢操作過程當中，發生座標彈跳(bounce)現象，導致誤判。以圖3為例，當第一觸控點Tl及第二觸控點T2分別往左上及右下方向移動時，第一觸控點Tl及第二觸控點T2之間的水平位置差值ΛΧ及垂直位置差值ΛΥ分別遞增，而位置差值D也隨之遞增。因此，決定單元210可據以決定第一觸控點Tl及第二觸控點T2所代表的縮放手勢ZG為放大(Zoom-in)手勢。然而，若在過程中，第一觸控點Tl及第二觸 控點T2其中的一離開觸控感應裝置200，則決定單元210判斷位置差值D非呈現連續變化，因而決定縮放手勢ZG沒有發生。此外，當使用自容(self-capacitance)感應方式時,有可能出現雙指接觸觸控感應裝置200的斜對角，使得決定單元210誤判為兩水平觸控點或兩垂直觸控點。請參考第4A、4B圖，第4A、4B圖為圖2中的觸控感應芯片202搭配自容感應的觸控感應裝置時，可能出現誤判情形的示意圖。在圖4A中，有兩只手指分別觸碰觸控感應裝置200上(Xm+ Y3)、(X3, Υη+ι)兩點，然而其中一指的垂直座標Υη+1已超出觸控感應裝置200的垂直感應電容串列Y1 Yn的一檢測范圍。因此，此時僅有感應電容串列XyXm-PY3會同時感應到電容變化，因而錯誤判斷在(X3，Y3)、(Xffl-!, Y3)兩點有觸控事件發生。也就是說，判斷單元208于判斷該兩點觸控點之間的一位置差值時，將誤判兩點間的垂直位置差值△ Y為零，如此將造成后續判斷縮放手勢時也發生誤判。同理，請參考圖4Β，當兩指分別觸碰觸控感應裝置200上(X。，Ylri)、(Xm^本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種縮放手勢判斷方法，用于一觸控感應裝置，其特征在于，該縮放手勢判斷方法包括：檢測一第一觸控點及一第二觸控點；判斷該第一觸控點及一第二觸控點之間的一位置差值；以及根據該位置差值的變化，決定該第一觸控點與該第二觸控點所代表的一縮放手勢。

【技術特征摘要】
1.一種縮放手勢判斷方法，用于一觸控感應裝置，其特征在于，該縮放手勢判斷方法包括: 檢測一第一觸控點及一第二觸控點； 判斷該第一觸控點及一第二觸控點之間的一位置差值；以及 根據該位置差值的變化，決定該第一觸控點與該第二觸控點所代表的一縮放手勢。2.如權利要求I的縮放手勢判斷方法，其特征在于，根據該位置差值的變化，決定該第一觸控點及該第二觸控點所代表的該縮放手勢的步驟，包括 當該位置差值呈現連續遞增或遞減時，決定第一觸控點及該第二觸控點所代表的該縮放手勢是一放大或一縮小手勢。3.如權利要求I的縮放手勢判斷方法，其特征在于，判斷該第一觸控點與該第二觸控點之間的位置差值的步驟，包括 判斷該第一觸控點與該第二觸控點之間的一水平位置差值及一垂直位置差值。4.如權利要求3的縮放手勢判斷方法，其特征在于，該縮放手勢判斷方法還包括有 當該水平位置差值或該垂直位置差值為零時，利用一反彈跳機制來決定該第一觸控點及該第二觸控點是否為水平或垂直排列。5.如權利要求4的縮放手勢判斷方法，其特征在于，利用該反彈...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張輝宏，賴志章，
申請(專利權)人：聯詠科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：