一種固定齒偏差補償方法及其系統技術方案

本發明專利技術公開了一種固定齒偏差補償方法及其系統，其包括掃描所述全自動生化儀反應盤的齒數與齒寬并記錄，選取所述全自動生化儀反應盤的任意齒為基準齒，以所述基準齒為基準位置計算每個齒與所述基準齒的偏差，按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和轉動所述反應盤，以及執行該方法的系統。采用先掃描反應盤選定一個基準齒，然后根據該基準齒確定每個齒與基準齒的偏差，最后根據全自動生化儀電機步數與所述偏差的和來轉動反應盤，消除了定位齒機械加工過程中存在固有偏差的缺陷，提高了反應盤的定位精度，從而使反應盤上的比色杯能準確的到達指定位置，提高了全自動生化分析儀的測量效率。

【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及用于全自動生化分析儀承載比色杯的反應盤，尤其涉及一種固定齒偏差的補償方法及其系統。
技術介紹
全自動生化分析儀是根據光電比色原理來測量體液中某種特定化學成分的儀器。由于其測量速度快、準確性高、消耗試劑量小，現已在各級醫院、防疫站、計劃生育服務站得到廣泛使用。但由于反應盤的定位齒機械加工存在固有偏差，例如反應盤轉動一個固定齒時，控制步進電機轉動的理論步數為N步，但由于機械加工存在誤差，導致位置光耦檢測到·固定齒信號時所轉動的步數為M步，從而產生了(N — M)步的誤差，使反應盤停止定位時存在一定誤差，進而影響加樣、加試劑及攪拌的位置，一定程度上限制了儀器的性能，降低了其測量效率。因此，現有技術還有待于改進和發展。
技術實現思路
鑒于上述現有技術的不足，本專利技術的目的在于提供一種固定齒偏差補償方法及其系統，以提高反應盤的定位精度，提高全自動生化分析儀的測量效率。本專利技術的技術方案如下 一種固定齒偏差的補償方法，其包括以下步驟 A、掃描所述全自動生化儀反應盤的齒數與齒寬并記錄，選取所述全自動生化儀反應盤的任意齒為基準齒，以所述基準齒為基準位置計算每個齒與所述基準齒的偏差，按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和轉動所述反應盤。所述的固定齒偏差補償方法，其中，所述步驟A具體的包括:Al、所述全自動生化儀上電后，反應盤控制板掃描所述反應盤的所有齒數與齒寬，并將所述齒數與齒寬記錄在所述全自動生化儀的隨機存儲器內。所述的固定齒偏差補償方法，其中，所述步驟Al具體的包括所述反應盤控制板按測試方向勻速旋轉進行掃描，每個齒從低電平到高電平，齒計數的位置與所述偏差的位置為從高電平到低電平。所述的固定齒偏差補償方法，其中，所述步驟A具體的包括 A2、所述基準齒的齒計數為一，剩余齒的齒計數按照離所述基準齒的距離依次加一；所述偏差等于對應齒之齒計數減一乘以齒寬，然后再減去所述全自動生化儀電機步數。所述的固定齒偏差補償方法，其中，所述步驟A2具體的包括將所有齒的偏差記錄在所述全自動生化儀的隨機存儲器內。所述的固定齒偏差補償方法，其中，所述步驟A具體的包括 A3、啟動電機將所述全自動生化儀預計將所述反應盤轉到某一齒處；A4、檢測所述某一齒的齒計數，然后按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和確定執行步數； A5、所述電機減速執行所述執行步數直至停止。所述的固定齒偏差補償方法,其中,所述齒寬為齒的寬度與齒縫的寬度。一種固定齒偏差補償系統，其包括用于控制電機運行的控制單元，其中，所述固定齒偏差補償系統還包括用于記錄齒數、齒寬與偏差的隨機存儲器以及用于根據全自動生化儀電機步數與所述偏差執行反應盤轉動步數的執行單元，所述隨機存儲器與所述執行單元均與所述控制單元通信連接。本專利技術提供的一種固定齒偏差補償方法及其系統，采用先掃描反應盤選定一個基 準齒，然后根據該基準齒確定每個齒與基準齒的偏差，最后根據全自動生化儀電機步數與所述偏差的和來轉動反應盤，消除了定位齒機械加工過程中存在固有偏差的缺陷，提高了反應盤的定位精度，從而使反應盤上的比色杯能準確的到達指定位置，提高了全自動生化分析儀的測量效率。附圖說明圖I為本專利技術中固定齒偏差補償方法的流程示意 圖2為本專利技術中反應盤轉動時的流程結構示意 圖3為本專利技術中掃描齒與基準齒之偏差的流程示意 圖4為本專利技術中實施例一的具體流程示意 圖5為本專利技術中固定齒偏差補償方法的具體流程示意 圖6為本專利技術中固定齒偏差補償系統的結構示意圖。具體實施例方式本專利技術提供一種固定齒偏差補償方法及其系統，為使本專利技術的目的、技術方案及效果更加清楚、明確，以下對本專利技術進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。本專利技術提供了一種固定齒偏差的補償方法，如圖I所示的，其包括以下步驟 步驟101 :掃描所述全自動生化儀反應盤的齒數與齒寬并記錄，選取所述全自動生化儀反應盤的任意齒為基準齒，以所述基準齒為基準位置計算每個齒與所述基準齒的偏差，按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和轉動所述反應盤。在本專利技術的另一較佳實施例中，所述步驟101具體的包括所述全自動生化儀上電后，反應盤控制板掃描所述反應盤的所有齒數與齒寬，并將所述齒數與齒寬記錄在所述全自動生化儀的隨機存儲器內。更進一步的，所述步驟101具體的包括所述反應盤控制板按測試方向勻速旋轉進行掃描，每個齒從低電平到高電平，齒計數的位置與所述偏差的位置為從高電平到低電平。在本專利技術的另一較佳實施例中，如圖3所示的，所述步驟101具體的包括所述基準齒的齒計數為一，剩余齒的齒計數按照離所述基準齒的距離依次加一；所述偏差等于對應齒之齒計數減一乘以齒寬，然后再減去所述全自動生化儀電機步數。更進一步的，所述步驟101具體的包括將所有齒的偏差記錄在所述全自動生化儀的隨機存儲器內。在本專利技術的另一較佳實施例中，如圖2、圖4與圖5所示的，所述步驟101具體的包括 步驟102 :設定某一齒為所述基準齒，掃描所述全自動生化儀反應盤的齒數與齒寬并記錄，以所述基準齒為基準位置計算每個齒與所述基準齒的偏差； 步驟103 :啟動電機將所述全自動生化儀預計將所述反應盤轉到某一齒處； 步驟104 :檢測所述某一齒的齒計數，然后按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和確定執行步數； 步驟105 :所述電機減速執行所述執行步數直至停止。 其中，圖2與圖4中，A表示一個整齒的電機步數，C表示齒計數，D表示全自動生化儀電機步數，E表示偏差，F表示反應盤上的總齒數，G表示電機的執行步數，P表示每個齒行走的距離。并且上述的所述齒寬為齒的寬度與齒縫的寬度,更進一步提高了齒在轉動時的精確度。實施例一 為了更進一步的描述本專利技術，以下列舉一更具體的實施例進行更詳盡的說明，例如反應盤上的齒數為一百六十個。上電后反應盤控制板立刻執行齒差掃描，并將掃描的各位置齒差數據保存在隨機存儲器中； 啟動電機按測試方向勻速旋轉，如圖2所示的，每個齒從低電平開始到高電平結束，齒計數位置和齒偏差位置為從高電平到低電平的邊沿位置；每個齒的縫和齒按1:1配置，如果不是這個比例時按實際情況計算；建立字符型數組，使用1-160為對應齒的偏差，并初始化為零； 選取轉動方向上所述全自動生化儀電機歸零點后的第一個齒作為基準齒，所述基準齒的基準位置之偏差為E [I] =0,齒計數C=I,電機步數D=O ； 檢測到計數信號時，C加I，同時計算出齒C的偏差為E[C] = 300* (C-I)-D,例如果第一個齒的寬度步數即所述全自動生化儀電機步數D=295步，那么E [2] =300* (C-I)-D=300* (2-1)-295 = 5;如果第一個齒的寬度步數即所述全自動生化儀電機步數 D=307 步，那么 E[2]=300*(C-l)-D=300*(2-l)-307 = -7; 按上述步驟重復記錄，直到一百六十個齒的位置全部記錄完成為止； 所述全自動生化儀電機停止位置在第一個齒的齒峰中間位置，例如C=I,齒寬為150,則距齒開始位置為齒縫+齒/2 =150+150/2 = 275步，則停止定位時的所述全自動生化儀電機步數的理論值275步。其更加具體的為所述全自動生化儀進行測試時，所述全自動生化儀本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種用于全自動生化分析儀反應盤的固定齒偏差補償方法，其包括以下步驟：A、掃描所述全自動生化儀反應盤的齒數與齒寬并記錄，選取所述全自動生化儀反應盤的任意齒為基準齒，以所述基準齒為基準位置計算每個齒與所述基準齒的偏差，按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和轉動所述反應盤。

【技術特征摘要】
1.一種用于全自動生化分析儀反應盤的固定齒偏差補償方法，其包括以下步驟 A、掃描所述全自動生化儀反應盤的齒數與齒寬并記錄，選取所述全自動生化儀反應盤的任意齒為基準齒，以所述基準齒為基準位置計算每個齒與所述基準齒的偏差，按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和轉動所述反應盤。2.根據權利要求I所述的固定齒偏差補償方法，其特征在于，所述步驟A具體的包括Al、所述全自動生化儀上電后，反應盤控制板掃描所述反應盤的所有齒數與齒寬，并將所述齒數與齒寬記錄在所述全自動生化儀的隨機存儲器內。3.根據權利要求2所述的固定齒偏差補償方法，其特征在于，所述步驟Al具體的包括所述反應盤控制板按測試方向勻速旋轉進行掃描，每個齒從低電平到高電平，齒計數的位置與所述偏差的位置為從高電平到低電平。4.根據權利要求I所述的固定齒偏差補償方法，其特征在于，所述步驟A具體的包括 A2、所述基準齒的齒計數為一,剩余齒的齒計數按照離所述基準齒的距離依次加一；所述偏差等于對應齒...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張力沖，汪博，劉寒冰，白曉亮，鐘維峰，王兆申，
申請(專利權)人：長春迪瑞醫療科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：