樣本分析裝置及樣本分析系統制造方法及圖紙

提供一種能夠高效地處理樣本的樣本分析裝置及樣本分析系統。樣本分析裝置1具有：用于測定樣本的第一測定裝置11和第二測定裝置12；以及運送安放有數個樣本容器51的樣架50的運送裝置20。運送裝置20中設有用于向第一測定裝置11供應樣本的第一供應位置26a和用于向第二測定裝置12供應樣本的第二供應位置26b。第一供應位置26a和第二供應位置26b的距離設定為安放在樣架50上的相鄰的樣本容器51之間的間距的倍數。以此，樣架50的兩個不同的安放部件中安放的樣本容器51能夠同時放置到第一供應位置26a和第二供應位置26b，因此，能夠同時處理兩個樣本，從而可以高效地進行樣本處理。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及一種對尿液或血液等樣本進行檢查、分析等一定處理的樣本分析裝置及樣本分析系統。
技術介紹
已知有一種樣本分析系統，該樣本分析系統具有數個分析裝置、以及向該數個分析裝置運送樣本的運送裝置。上述這種樣本分析系統比如有專利文獻I中公開的尿沉渣檢查系統，該尿沉渣檢查系統具有尿中成分檢查裝置、尿沉渣檢查裝置、以及向這些裝置直線運送樣本的試樣運送裝置。尿中成分檢查裝置和尿沉渣檢查裝置分別對位于試樣運送裝置上的一定位置的樣本進行處理。 現有技術文獻 專利文獻 專利文獻I :特開(日本專利公開)平7 — 49346號公報。
技術實現思路
專利技術要解決的課題 在上述專利文獻I所記述的尿沉渣檢查系統中，在試樣運送裝置中的一定位置上被尿中成分檢查裝置處理過的樣本在運送裝置上運送，然后，在試樣運送裝置中的一定位置上由下游一側的尿沉渣檢查裝置對其進行處理。此時，在上游一側的尿中成分檢查裝置進行樣本處理的同時，如果下游一側的尿沉渣檢查裝置能夠進行其他樣本的處理的話，將能夠更有效率地對樣本進行處理。然而，專利文獻I中并未公開具有如此功能的結構。本專利技術正是針對這一課題，本專利技術的目的在于提供一種能夠有效率地對樣本進行處理的樣本分析裝置及樣本分析系統。解決課題的方法 本專利技術的第一方式涉及以下運送安放有數個樣本容器的樣架，并對樣本進行分析的樣本分析裝置。本方式的樣本分析裝置具有用于測定樣本的第一測定裝置；配置在所述第一測定裝置的運送方向下游一側，用于測定樣本的第二測定裝置；以及運送裝置，該運送裝置用于向給所述第一測定裝置供應樣本的第一供應位置和給所述第二測定裝置供應樣本的第二供應位置運送樣本。在此，所述運送裝置從所述第一供應位置向所述第二供應位置直線運送樣架，同時，所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離是安放在樣架上的相鄰的樣本容器之間的間距的倍數。在本方式的樣本分析裝置中，第一供應位置和第二供應位置的距離是安放在樣架上的相鄰的樣本容器的間距的倍數，因此，將一個樣本運送到第一供應位置后，可以同時將另一樣本放置到第二供應位置。因此，可以同時處理兩個樣本，能夠高效地進行樣本處理。在本方式的樣本分析裝置中，所述運送裝置可以如下通過一個共同的運送構件向所述第一供應位置運送一個樣本，同時向所述第二供應位置運送另一個樣本。如此一來，可以簡化樣本分析裝置的結構。此外，本方式的樣本分析裝置可以如下所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離小于從安放在一個樣架上的一端的樣本容器到另一端的樣本容器的距離。如此可以縮短第一供應位置和第二供應位置的距離，可以迅速地獲得第二測定裝置的測定結果或分析結果。還可以實現樣本分析裝置的小型化。此外，本方式的樣本分析裝置可以如下還具備判斷部分，該判斷部分根據所述第一測定裝置的測定結果判斷是否需要由所述第二測定裝置進行測定。此時，所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離可以設定為大于以下距離從樣本供給所述第一測定裝置開始，到所述判斷部分能夠進行判斷為止，該樣本所運送的距離。如此，當樣本到達第二供應位置時，所述判斷部分能夠進行判斷，所以可以快捷且順利地在第二供應位置進行樣本處理。 或者，在此情況下，所述運送裝置可以如下在所述判斷部分判斷是否需要由所述第二測定裝置進行測定之前，不向所述第二供應位置的下游運送判斷對象的樣本。如此，當樣本到達第二供應位置時，即使判斷部分不能進行判斷，也可以防止以下情況放置在第二供應位置的樣本中，需要在第二測定裝置進行測定的樣本在未經吸移的情況下被運送到下游一側。此外，在本方式的樣本分析裝置中，所述第一測定裝置可以如下吸移位于所述第一供應位置的樣本，所述第二測定裝置可以如下吸移位于所述第二供應位置的樣本。此外，在本方式的樣本分析裝置中，所述第一測定裝置為尿定性測定裝置，所述第二測定裝置為尿沉渣測定裝置。本專利技術的第二方式涉及一種樣本分析系統。本方式的樣本分析系統具有運送安放有數個樣本容器的樣架并分析樣本的樣本分析裝置、以及能夠與所述樣本分析裝置通信的計算機。所述樣本分析裝置具有用于測定樣本的第一測定裝置；配置在所述第一測定裝置的運送方向下游一側，且用于測定樣本的第二測定裝置；以及運送裝置，該運送裝置向給所述第一測定裝置供應樣本的第一供應位置和給所述第二測定裝置供應樣本的第二供應位置運送樣本。在此，所述運送裝置從所述第一供應位置向所述第二供應位置直線運送樣架，同時，所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離是安放在樣架上的相鄰的樣本容器之間的間距的倍數。所述計算機具有根據所述第一測定裝置的測定結果判斷是否需要由所述第二測定裝置進行測定的判斷部分。通過本方式的樣本分析系統，與第一方式的樣本分析裝置一樣，可以高效地進行樣本處理。在第二方式的樣本分析系統中，所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離可以設定為大于以下距離從樣本供應給所述第一測定裝置開始，到所述判斷部分完成判斷為止，該樣本所運送的距離。如此，當樣本到達第二供應位置時，判斷部分已經完成了判斷，因此可以快捷且順利地在第二供應位置進行樣本處理。在上述各方式中，所謂“所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離是安放在樣架上的相鄰的樣本容器之間的間距的倍數”并非指所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離是安放在樣架上的相鄰的樣本容器之間的間距的嚴格的倍數。由于樣架和樣本容器的尺寸的誤差等，導致第一供應位置和第二供應位置的距離與樣架上所安放的相鄰的樣本容器之間的間距的倍數不能嚴格地一致，但只要能夠在第一供應位置和第二供應位置同時處理兩個樣本即可，這種情況也包含在“所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離是安放在樣架上的相鄰的樣本容器之間的間距的倍數”這一概念中。本專利技術的第三方式涉及一種運送安放有數個樣本容器的樣架，并分析樣本的樣本分析裝置。本方式的樣本分析裝置具有用于測定樣本的第一測定裝置；配置在所述第一測定裝置的運送方向下游一側，且用于測定樣本的第二測定裝置；以及運送裝置，該運送裝置向給所述第一測定裝置供應樣本的第一供應位置和給所述第二測定裝置供應樣本的第二供應位置運送樣本。在此，所述運送裝置從所述第一供應位置向所述第二供應位置直線運送樣架，同時，所述第一供應位置和所述第二供應位置的距離小于一個樣架上安放的一端的樣本容器到另一端的樣本容器之間的距離。在本方式的樣本分析裝置中，第一供應位置和第二供應位置的距離小于安放在一個樣架上的一端的樣本容器到另一端的樣本容器之間的距離，從而可以縮短 第一供應位置和第二供應位置之間的距離，能夠盡快地獲得第二測定裝置的測定結果或分析結果。 本專利技術的第四方式涉及一種運送安放有數個樣本容器的樣架并分析樣本的樣本分析裝置。本方式的樣本分析裝置具有用于測定樣本的第一測定裝置；配置在所述第一測定裝置的運送方向下游一側，且用于測定樣本的第二測定裝置；以及運送裝置，該運送裝置向給所述第一測定裝置供應樣本的第一供應位置和給所述第二測定裝置供應樣本的第二供應位置運送樣本。在此，所述運送裝置在數個樣架相鄰的狀態下，將該樣架從所述第一供應位置向所述第二供應位置直線運送，此外，所述運送裝置將所述數個樣架中的第一個樣架上安放的樣本放置到所述第一供應位置，同時，將所述數個樣架中位于所述第一個樣架的運送方向下游一側的第二個樣架上安放的樣本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...

【專利技術屬性】
技術研發人員：水本徹，泉幸慶，堤田惠介，中島真也，
申請(專利權)人：希森美康株式會社，愛科來株式會社，
類型：
國別省市：