一種印章校驗方法及其裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術涉及一種印章校驗方法及其裝置，裝置包括：環形分布的n組光源、攝像機、控制處理電路；校驗方法包括如下步驟：n組光源按時序輪流開啟對印章的印模進行閃光曝光，攝像機隨曝光同步拍攝，得到n幅電子圖像Fi，比較n幅電子圖像的明暗程度值，從中選出最亮的電子圖像Flight、和最暗的電子圖像Fdark；將最亮的電子圖像Flight與最暗的電子圖像Fdark對齊進行圖像像素疊加合成；將合成電子圖像Ftarget與所存儲的目標圖像和目標參數進行校驗核對，發出校驗通過或校驗拒絕的信號。本發明專利技術能夠大幅縮減每日校驗印章的人工操作的工作量，極大提升印章校驗效率，降低校驗出錯幾率，簡化操作，大幅推進辦公無紙化和降低紙張的日常消耗。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及電子監控設備，更具體地說，本專利技術涉及一種識別和監控管理印章的電子設備。
技術介紹
印章的使用一般都牽涉到有關單位、企業、個人的重大財產利益甚至人身安全，對于涉及國家公共安全及國家利益的邊檢、口岸等單位，驗訖章的驗證識別技術就顯得尤為重要。為檢查控制邊檢、口岸出入的海量人員和貨物，每日相關檢驗人員都必須頻繁使用驗 訖章對出入人員、貨物予以簽章驗放。驗訖章上完整和正確的信息，為邊檢、口岸單位實施正確驗放提供了有效憑據。傳統的驗訖章校驗方式為人工校驗即在每日的邊檢、口岸工作開始之前，由邊檢、口岸單位相關人員預先對驗訖章上的月份、日期以及密碼逐個予以校驗，只有完成上述驗訖章的校驗工作，確保驗訖章調整正確后才允許用之進行上勤簽到及后續的驗放工作。驗訖章校驗需要在每日上勤簽到、驗放工作開始之前完成，而且傳統的驗訖章校驗需要在紙上多次試蓋印模，用以檢查校對驗訖章月份、日期以及密碼等內容是否正確有效、乃至保留存檔、備后查詢。隨著驗放工作人員、出入境人員、貨物數量不斷增加，傳統的人工校驗驗訖章的工作方式日感繁重；人工校驗不僅耗時耗力導致工作效率低下，且容易出錯，直接影響到驗放單位的工作質量、公眾形象、甚至危害到公眾利益和安全，而耗費大量的紙張，也嚴重違背了低碳環保的理念，又不便保存、核查。
技術實現思路
針對傳統校驗技術的上述缺陷，本專利技術的目的是要提供一種印章校驗方法及其裝置，可解決如下問題能夠大幅縮減每日校驗印章的人工操作的工作量，極大提升印章校驗效率，降低校驗出錯幾率，簡化操作，大幅推進辦公無紙化和降低紙張的日常消耗。為此，本專利技術的技術解決方案之一是一種印章校驗方法，其采用印章校驗裝置對印章進行校驗，所述印章校驗裝置包括環形分布地向所述印章的印模投射光線的η組光源、對所述印模進行攝像的攝像機、控制η組光源和攝像機協同工作并處理印模圖像的控制處理電路；所述控制處理電路包括微處理器和與之連接的存儲印章參數的存儲模塊，所述校驗方法包括如下步驟XI)穩置所述印章并顯露其印模；Χ2)η組光源按時序輪流開啟對所述印章的印模進行閃光曝光，攝像機隨曝光同步拍攝，得到η幅電子圖像Fi,其中i = 1、2. . . η_1, η ；Χ3)所述控制處理電路比較η幅電子圖像的明暗程度值，從中選出最亮的電子圖像Flight、和最暗的電子圖像Fdart ；Χ4)所述控制處理電路將最売的電子圖像Flight與最暗的電子圖像Fdart對齊,然后進行圖像像素疊加合成，得到克服印模上污垢影像干擾的合成電子圖像Ftawt ；X5)所述控制處理電路將合成電子圖像Ftmget與所存儲的目標圖像和目標參數進行校驗核對，發出校驗通過或校驗拒絕的信號。針對目前國內外在印章智能識別領域，只有對印章在紙張上蓋出的印跡進行檢測鑒別的方法和設備、而沒有對印章本身進行直接識別技術的落后現狀，本專利技術研發過程中首要克服的技術難題是超越僅對蓋到紙張上的印跡信息進行再讀取和識別的傳統技術，要從布滿印油的印章直拍圖片上取得清晰的印模圖像。然而印章的直接拍攝圖片都是印油斑斑的，很難從中穩定地讀取和識別出日期等正確清楚的印跡信息。這就對拍照的技術及識別的方法及算法提出了很高的要求。為此，本專利技術獨創地把光源分割成多組，利用環形分布的多組光源輪流從不同角度照射到印章上，再利用不從同角度得到印模的模糊圖像進行計算、相互去偽存真、圖像合成，終于前所未有地一舉解決了模糊攝影圖像智能化清晰合成的技術難題。由此，本專利技術方法徹底地縮減了每日校驗印章的人工操作的工作量75%，只需原來工作量的1/4，同時極大提升了印章校驗效率，減少了 50%的校驗時間，降低了校驗紕漏幾率至O. 03%，還能大幅簡化驗證數據日后的保存及核查操作，且基本取消了核驗印章 所需的日常紙張消耗、極大推進了辦公無紙化。 為進一步綜合平衡光源設置與處理效果之間關系，本專利技術印章校驗方法還包括如下的改進所述光源的組數η為3-10。為進一步優化智能識別算法的處理過程，提高驗證識別的效率，本專利技術印章校驗方法還包括如下的改進所述步驟Χ3中，任一電子圖像Fi的明暗程度值，是對該幅圖像上全部像素的明暗程度進行代數求和所得；所述步驟Χ4中，Flight與Fdarit的對齊包括如下操作取該2幅電子圖像同一折角為坐標原點，且使該2幅電子圖像相應4邊重合，然后對2幅電子圖像的全部像素進行疊加。為從更多物理信號方面直接、綜合、互相驗證地識別印章，提高智能識別的可靠性和識別的效率，本專利技術印章校驗方法還包括如下的改進所述印章帶有電子標簽RFID ;所述控制處理電路還包括感應讀卡模塊、紅外對射模塊、提示器，所述步驟Xl還包括如下操作即Χ1-1)所述紅外對射模塊檢測所述印章擺放狀況正常或否，如果擺放狀況正常，轉向步驟Χ1-2)即啟動提示器作出正常提示并繼續步驟Χ1-3，否則，轉向步驟Χ1-4)即啟動提示器作出異常提示并制止后續步驟；Χ1-3)感應讀卡模塊主動感應檢測印章內置的電子標簽RFID，并將檢測信號與存儲模塊中的相應數據進行對比識別；Χ1-5)判斷RFID識別通過與否，如果識別通過，轉向步驟Χ2)，否則，轉向步驟Χ1-6)即發出校驗未通過的拒絕信號。相應地，本專利技術的另一技術解決方案是一種用于如上所述印章校驗方法的印章校驗裝置，其包括有為印章的印模作取景的透明視窗，而所述裝置內設有環形分布地向所述印章的印模投射光線的η組光源、對所述印模進行攝像的攝像機、控制η組光源和攝像機協同工作并處理印模圖像的控制處理電路；所述控制處理電路包括微處理器、光源控制模塊、數據通訊模塊、圖像處理模塊、存儲印章參數的存儲模塊、顯示屏；所述光源控制模塊的受控端、攝像機的電子快門受控端、數據通訊模塊相應端口分別連接所述微處理器的相應接口 ；所述攝像機的視頻輸出端、圖像處理模塊的輸入端分別連接數據通訊模塊的相應端口，所述圖像處理模塊的輸出端、存儲模塊的輸出端、顯示屏的輸入端分別直接或間接地連接所述數據通訊模塊的相應端口。(本申請所述器件相應接口或端口是表示該器件具有2以上多個接口或端口，而與某功能電路連接的該器件的某接口或端口即為與某功能電路相應的該器件的相應接口或端口。)本專利技術的印章校驗裝置，采用η組光源環形分布地從不同角度向印章的印模投射光線的結構特點；在此基礎上，以微處理器、光源控制模塊、數據通訊模塊來控制η組光源及攝像機在曝光、抓拍方面的配合，以圖像處理模塊來處理不同角度曝光所得陰影方向不同且印油遮蔽的直拍圖片、進行圖像合成；以微處理器調取存儲模塊中的數據對合成圖像實施比對校驗。本專利技術上述獨特的印章校驗攝影技術，超越了傳統技術必須對先蓋到紙張上的印跡信息進行再讀取和識別的限制，終于前所未有地一舉解決了模糊攝影圖像智能化清晰合成的技術難題，可直接取得清晰的印模圖像、迅速實施印章智能識別。因此，本專利技術 的印章校驗裝置能夠充分順暢地運行本專利技術印章校驗方法的核心步驟，從而大幅縮減每日校驗印章的人工操作的工作量，極大提升印章校驗效率，降低校驗出錯幾率，簡化操作，大幅推進辦公無紙化和降低紙張的日常消耗。為采用多種物理信號輔助提升印章取景效率，多方面直接、綜合、互相驗證地識別印章，提高智能識別的可靠性和識別的效率，本專利技術印章校驗裝置還包括如下的改進所述印章帶有電子標簽即RF本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種印章校驗方法，其采用印章校驗裝置對印章進行校驗，所述印章校驗裝置包括：環形分布地向所述印章的印模投射光線的n組光源、對所述印模進行攝像的攝像機、控制n組光源和攝像機協同工作并處理印模圖像的控制處理電路；所述控制處理電路包括微處理器和與之連接的存儲印章參數的存儲模塊，所述校驗方法包括如下步驟：X1)穩置所述印章并顯露其印模；X2)n組光源按時序輪流開啟對所述印章的印模進行閃光曝光，攝像機隨曝光同步拍攝，得到n幅電子圖像Fi，其中i＝1、2...n？1，n；X3)所述控制處理電路比較n幅電子圖像的明暗程度值，從中選出最亮的電子圖像Flight、和最暗的電子圖像Fdark；X4)所述控制處理電路將最亮的電子圖像Flight與最暗的電子圖像Fdark對齊，然后進行圖像像素疊加合成，得到克服印模上污垢影像干擾的合成電子圖像Ftarget；X5)所述控制處理電路將合成電子圖像Ftarget與所存儲的目標圖像和目標參數進行校驗核對，發出校驗通過或校驗拒絕的信號。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：瞿磊，
申請(專利權)人：深圳市盛視科技有限公司，
類型：發明
國別省市：