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本發明涉及一種印章校驗方法及其裝置，裝置包括：環形分布的n組光源、攝像機、控制處理電路；校驗方法包括如下步驟：n組光源按時序輪流開啟對印章的印模進行閃光曝光，攝像機隨曝光同步拍攝，得到n幅電子圖像Fi，比較n幅電子圖像的明暗程度值，從中選出...
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