本實用新型專利技術公開了一種自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統，其包括恒溫溫箱、頻率測試設備、控制裝置以及外部控制設備，所述控制裝置設置有一級控制電路，所述恒溫溫箱內設置有用于控制所述恒溫溫箱內部環境的恒溫溫箱控制表頭及若干設置有待測晶振節點的測試板，每個所述測試板上還設置有二級控制電路，所述二級控制電路與所述一級控制電路相連，所述一級控制電路與所述外部控制設備相連。本實用新型專利技術的測試系統可以對批量晶體振蕩器進行溫度特性方面的測試，全程自動化進行，減少了人工參與程度，大大的提高了測試效率，保證了測試的準確度。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及晶體振蕩器的測試技術，更具體地涉及ー種自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測 試系統。
技術介紹
目前的恒溫溫箱，有些型號有溫度點程序設定，可以在某個溫度點設定保溫時間長度，當保溫時間完成后，自動進入下一個設置溫度點。對于少量的晶振樣品溫度特性測試，現有的測試方式一般是采用人エ測試，溫箱運行也人工控制，晶振的頻率也是人工測試，效率低下，也容易出錯。對于批量的晶振溫度特性測試，由于晶振的數量是變化的，由于測試所需要的時間長度不固定，因此恒溫溫箱的保溫時間長度也不能固定，然而現有技術沒有將測試情況實時反映到恒溫溫箱表頭上，兩者脫節，不能實現自動化測試，因此也同樣存在效率低下，容易出錯等缺陷。鑒于此，有必要提供一種高效率、高準確度的自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統。
技術實現思路
本技術的目的是提供自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統以提高測試效率和測試結果的準確度。為了實現上述目的，本技術所采用的技術方案為提供一種自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統，其包括放置有批量待測晶體振蕩器的恒溫溫箱、用于測試晶體振蕩器晶振頻率的頻率測試設備、與所述恒溫溫箱和頻率測試設備相連以控制所述恒溫溫箱和頻率測試設備的控制裝置以及與所述控制裝置相連以控制所述控制裝置的外部控制設備，所述控制裝置設置有ー級控制電路，所述恒溫溫箱內設置有用于控制所述恒溫溫箱內部環境的恒溫溫箱控制表頭及若干設置有待測晶振節點的測試板，每個所述測試板上還設置有ニ級控制電路，所述ニ級控制電路與所述ー級控制電路相連。其進ー步技術方案為所述ー級控制電路包括ー級總控單片機、信號驅動電路、TTL/485信號轉換電路、第一和第二 RS232/TTL電平轉換裝置、第一和第二八選一通道開關及若干開關Kl K8，所述開關Kl K8均受控于所述ー級總控單片機，所述ー級總控單片機的信號輸入端通過開關Kl和第一 RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述外部控制設備，通過開關K3和所述第一八選一通道開關連接至所述ニ級控制電路的輸出端，通過開關K7和所述TTL/485信號轉換電路連接至所述恒溫溫箱控制表頭，通過開關K6和第二 RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述頻率測試設備，所述ー級總控單片機的信號輸出端通過開關K4和所述第一 RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述外部控制設備，通過開關K2和所述信號驅動電路連接至所述ニ級控制電路的輸入端，通過開關K8和所述TTL/485信號轉換電路連接至所述恒溫溫箱控制表頭，作為所述第二八選一通道開關的地址片選信號以控制下級各路頻率有選擇地輸入至所述頻率測試設備。其進ー步技術方案為所述ニ級控制電路包括ニ級總控單片機、地址驅動電路、地址片選電路、與非門、第一和第二三八譯碼裝置以及第三和第四八選一通道開關，所述ニ級總控單片機受控于來自所述一級控制電路的TTL信號，所述ニ級總控單片機的輸出端與所述地址片選電路相連，所述地址片選電路的輸出端同時與所述地址驅動電路、第一三八譯碼裝置以及第三八選一通道開關相連，所述第一三八譯碼裝置的輸出端同時與所述第二三八譯碼裝置和第四八選一通道開關相連，所述第二三八譯碼裝置的輸出端連接至所述與非門的ー輸入端，所述與非門的另一輸入端與被測晶體振蕩器相連，所述與非門的輸出端通過所述第四八選一通道開關與所述第三八選一通道開關相連，所述地址驅動電路的輸出端連接至所述第二三八譯碼裝置和第四八選一通道開關。其進ー步技術方案為所述ー級總控單片機為帶有EEPROM的單片機，該EEPROM內存儲有用于指定所述ー級總控單片機所管轄晶體振蕩器范圍的ID編碼。其進ー步技術方案為所述第一和第二 RS232/TTL電平轉換裝置均采用 MAX232CPE芯片來實現。其進ー步技術方案為所述ニ級總控單片機為帶有EEPROM的單片機，該EEPROM內存儲有用于指定該ニ級總控單片機所管轄晶體振蕩器范圍的ID編碼。其進ー步技術方案為所述第一、第二、第三和第四八選一通道開關均采用CD74HC4051E芯片來實現。其進ー步技術方案為所述信號驅動電路和地址驅動電路均采用74LS244芯片來實現。其進ー步技術方案為所述第一和第二三八譯碼器均采用⑶74HC4051E芯片來實現。其進ー步技術方案為所述ー級控制電路連接有IXD顯示屏以顯示測試狀態。與現有技術相比，本技術提供的測試系統設置有兩級控制電路，所有待測試晶振均可看成一個個節點，其中，ー級控制電路可根據外部控制設備(計算機)的選擇節點信息轉發至ニ級控制電路，根據上位機的讀取溫箱狀態或設置溫箱操作等信息與溫箱控制表頭通信而完成恒溫溫箱內部環境的控制(例如設置溫箱溫度點、讀取溫箱當前溫度、控制溫箱開/關制冷等操作)，控制頻率測試設備選擇性地對晶振頻率進行測試并將測試信息有選擇的放行至上位機?；诖?，本測試系統可以對批量晶體振蕩器進行溫度特性方面的測試，全程自動化進行。自動控制溫箱達到預定的溫度點，在保溫預定長的時間后，開始對各節點的晶振進行頻率測試，本溫度點各節點測試完畢后，控制溫箱進入下ー個溫度點，準備進行下ー輪測試。使用本系統，減少了人工參與程度，大大的提高了測試效率，保證了測試的精確度。通過以下的描述并結合附圖，本技術將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本技術的實施例。附圖說明圖I為本技術自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統ー實施例的系統框圖。圖2為圖I所示自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統中ー級控制電路的電路框圖。圖3為圖I所示自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統中二級控制電路的電路框圖。圖中各附圖標記說明如下自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統10恒溫溫箱 11控制裝置12外部控制設備 13—級控制電路14一級總控單片機 141信號驅動電路142TTL/485信號轉換電路 143第一 RS232/TTLL電平轉換電路144第二 RS232/TTLL電平轉換電路145第一八選一通道開關146第二八選一通道開關 147頻率測試設備15恒溫溫箱控制表頭 16測試板17ニ級控制電路 18ニ級總控單片機181地址片選電路 182地址驅動電路183與非門 184第一三八譯碼裝置185第二三八譯碼裝置 186第三八選一通道開關187第四八選一通道開關 188晶振節點189具體實施方式下面將結合本技術實施例中的附圖，對實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，附圖中類似的組件標號代表類似的組件。顯然，以下將描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒炯夹g中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。首先請參照圖1，圖I展示了本技術自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統一實施例的系統框圖。如圖I所示，本實施例的測試系統10包括放置有批量待測晶體振蕩器(圖未示)的恒溫溫箱11、用于測試晶體振蕩器晶振頻率的頻率測試設備15、與所述恒溫溫箱11及頻率測試設備15相連以控制所述恒溫溫箱11及頻率測試設備15的控制裝置12以及與所述控制裝置12相連以控制所述控制裝置12的外部控制設備13，所述控制裝置12設置有ー級控制電路14，所述恒溫溫箱11內設置有用于本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統，其特征在于：包括放置有批量待測晶體振蕩器的恒溫溫箱、用于測試晶體振蕩器晶振頻率的頻率測試設備、與所述恒溫溫箱和頻率測試設備相連以控制所述恒溫溫箱和頻率測試設備的控制裝置以及與所述控制裝置相連以控制所述控制裝置的外部控制設備，所述控制裝置設置有一級控制電路，所述恒溫溫箱內設置有用于控制所述恒溫溫箱內部環境的恒溫溫箱控制表頭及若干設置有待測晶振節點的測試板，每個所述測試板上還設置有二級控制電路，所述二級控制電路與所述一級控制電路相連。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：佘國源，
申請(專利權)人：廣州市三才通訊科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。