芯片模組電阻測試插座制造技術

本實用新型專利技術公開了一種芯片模組電阻測試插座，包括固定連接的上蓋組件以及底座，該上蓋組件包括上蓋主體、上蓋框架和壓板等，該上蓋主體兩端分別與上蓋框架一端和一卡扣鉸接，該卡扣與上蓋主體之間及壓板與上蓋主體之間均設有若干彈簧，該底座包括底座主體、復數滑塊和探針等，底座主體下部設有若干滑塊，每一滑塊內均設有一探針，且每一探針頭部均伸入設于底座主體上端面的容置槽內，同時，每一滑塊頭部與底座主體之間還均設有若干彈簧。本實用新型專利技術結構簡單，易于操作，能用于對多種規格的模組進行測試，并能有效保護模組結構，同時能大幅延長探針的壽命，節約測試費用，且測試效果穩定精確，單機、單人的測試效率高。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種芯片模組測試裝置，尤其涉及一種攝像頭芯片模組電阻測試插座。
技術介紹
SOC(System-On-Chip)系列攝像頭芯片模組是一種新型的CMOS芯片成像集成系統，它使用數字圖像信號處理器(ISP)和SOC的算法，定義良好的一步一步的指示、調整，使處理后的圖像或視頻，比原來的美觀，更直觀的圖像傳感器收集的原始數據。SOCS是在單一芯片上強大的處理的S0C，內置圖像傳感器芯片級，易于集成，能降低整體系統成本。目前由于大多數的CMOS成像模組的鏡頭外殼均需進行電鍍鎳處理，以將芯片及 內部結構進行電流屏蔽，使芯片功能不被外界電磁干擾。相應所催生的現有模組電阻測試插座是對鏡頭外殼所做的電鍍層進行電阻值進行檢驗，以確保電鍍的鎳層能達到設計要求。但現有的模組電阻測試插座中一般是采用氣缸帶動ICT探針去接觸模組，其結構復雜，容易產生開路和短路現象，而且穩定性較差，測試效率低。
技術實現思路
本技術的目的在于提出一種芯片模組電阻測試插座，其結構簡單，操作方便，能確保測試的穩定性和可靠性，且測試效率高，從而克服了現有技術中的不足。為實現上述技術目的，本技術采用了如下技術方案一種芯片模組電阻測試插座，包括上蓋組件以及底座，其特征在于所述上蓋組件包括上蓋主體、上蓋框架和壓板，所述上蓋主體兩端分別經一轉軸與上蓋框架一端和一卡扣連接，所述上蓋框架固定疊設在底座上，所述卡扣上部與上蓋主體上端面之間設有復數第一彈性元件，所述上蓋框架另一端設有可與卡扣配合的固定機構，所述壓板與上蓋主體下端面固定連接，且壓板與上蓋主體之間還分布有復數第二彈性元件；所述底座包括底座主體、復數滑塊和復數探針，所述底座主體下部對稱分布有復數插槽，每一插槽內設有一滑塊，每一滑塊內均插設有一探針，且每一探針頭部均伸入設于底座主體上端面的容置槽內，同時,每一滑塊頭部與底座主體之間還均設有第三彈性元件。優選的，所述壓板經復數滑塊下壓銷釘與上蓋主體下端面固定連接。優選的，所述固定機構采用固定設置于底座另一端的水平滑管。優選的，所述卡扣上部具有一平面部以及一傾斜上突部，下部具有一卡鉤部，所述復數第一彈性元件對稱設于上蓋主體上端面與卡扣的平面部之間，所述第一彈性元件優選采用扭簧。優選的，所述壓板上端面四角處對稱設有復數安裝孔，每一安裝孔內設有一第二彈性元件，所述第二彈性元件優選采用彈簧。優選的，所述滑塊內沿軸向設有安裝孔，所述探針插設于該安裝孔內。優選的，所述滑塊頭部對稱分布有復數容置孔，每一容置孔內設有一第三彈性元件，所述第三彈性元件優選采用復位彈簧。優選的，所述滑塊還經復數鉚釘與底座主體固定連接。優選的，所述底座下端面還連接有復數支腳，所述支腳上均套設有彈簧。優選的，所述探針優選采用ICT探針。附圖說明圖I是本技術一較佳實施例中芯片模組電阻測試插座的分解結構示意圖；圖2是本技術一較佳實施例中芯片模組電阻測試插座上蓋的分解結構示意 圖；圖3a是圖2所示芯片模組電阻測試插座上蓋的立體圖；圖3b是圖2所示芯片模組電阻測試插座上蓋的俯視圖；圖3c是圖2所示芯片模組電阻測試插座上蓋的剖面結構示意圖；圖3d是圖2所示芯片模組電阻測試插座上蓋的仰視圖；圖4a是圖I所示芯片模組電阻測試插座底座的仰視圖；圖4b是圖I所示芯片模組電阻測試插座底座的俯視圖；圖4c是圖I所示芯片模組電阻測試插座底座于測試時的剖面結構示意圖；圖4d是圖4c所示芯片模組電阻測試插座底座的局部放大結構示意圖；圖4e是圖I所示芯片模組電阻測試插座底座于非測試時的剖面結構示意圖；圖4f是圖4e所示芯片模組電阻測試插座底座的局部放大結構示意圖；圖5是本技術一較佳實施例中芯片模組電阻測試插座于完全打開狀態時的結構示意圖；圖中各組件及其附圖標記分別為上蓋組件I、軸銷101、滑塊下壓銷釘102、上蓋框架103、上蓋主體104、卡扣105、壓板106、螺釘107、銷軸套108、螺釘109、滑管110、彈簧111、底座2、底座主體201、銷釘202、銷釘203、螺套204、包裝205、滑塊206、支腳207、鉚釘208、復位彈簧209、探針210。具體實施方式針對此種現狀，本案專利技術人經長期研究和實踐，提出了本技術的技術方案，以下結合附圖及一較佳實施例該技術方案作進一步的說明。請參閱圖1-5，該芯片模組電阻測試插座包括上蓋組件I以及底座2，其中所述上蓋組件包括上蓋主體104、上蓋框架103和壓板106，所述上蓋主體兩端分別經一轉軸與上蓋框架一端和一卡扣105連接，所述上蓋框架固定疊設在底座上，所述卡扣上部與上蓋主體上端面之間設有復數第一彈性元件，所述上蓋框架另一端設有可與卡扣配合的固定機構110，所述壓板106與上蓋主體104下端面固定連接，且壓板與上蓋主體之間還分布有復數第二彈性元件111 ;所述底座包括底座主體201、復數滑塊206和復數探針207，所述底座主體下部對稱分布有復數插槽，每一插槽內設有一滑塊206，每一滑塊內均插設有一探針210，且每一探針頭部均伸入設于底座主體上端面的容置槽內，同時，每一滑塊頭部與底座主體之間還均設有第三彈性元件209。優選的，壓板(經復數滑塊下壓銷釘102與上蓋主體104下端面固定連接，且前述滑塊206上具有與下壓銷釘下端配合的斜面。優選的，所述固定機構采用固定設置于底座另一端的水平滑管。優選的，所述卡扣上部具有一平面部以及一傾斜上突部，下部具有一卡鉤部，所述復數第一彈性元件對稱設于上蓋主體上端面與卡扣的平面部之間，所述第一彈性元件優選采用扭簧。優選的，所述壓板上端面四角處對稱設有復數安裝孔，每一安裝孔內設有一第二 彈性元件，所述第二彈性元件優選采用彈簧。優選的，所述滑塊內沿軸向設有安裝孔，所述探針插設于該安裝孔內。優選的，所述滑塊頭部對稱分布有復數容置孔，每一容置孔內設有一第三彈性元件，所述第三彈性元件優選采用復位彈簧。優選的，所述滑塊還經復數鉚釘與底座主體固定連接。優選的，所述底座下端面還連接有復數支腳，所述支腳上均套設有彈簧。優選的，所述探針優選采用ICT探針。參閱圖4c_4f，該測試插座在測試狀態時上蓋組件下壓，卡扣卡住，補償彈簧將被壓縮，滑塊銷釘接觸滑塊，保證對浮動板和模組的下壓力，使探針完全接觸模組外殼，確保電路的聯通；而在非測試狀態時卡扣松弛，下壓銷釘不接觸滑塊，保證處于非工作狀態。且在打開上蓋組件時，上蓋組件與底座自然形成110度的夾角，符合人體操作視角和手法，使操作極為方便。具體而言，在測試狀態下上壓塊滑塊銷釘下壓，下頂滑塊斜面，使滑塊帶動ICT探針前移，ICT探針前部完全解除模組面，預期設定的壓縮值會使彈簧和模組外表面的鍍鎳面充分接觸，確保IC上的電路和PCB上的電路接通，同時確保模組外殼表面鍍鎳面不被損壞；而在非測試狀態下滑塊銷釘退出，復位彈簧使滑塊復位，帶動ICT探針復位，模組不被探針接觸，探針(P0G0 PIN)在沒受到外力壓制的情況下，保持松弛狀態，確保探針處于非受壓狀態，保證探針的使用壽命和壽命期內的導通功能正常。通過采用前述集成化的設計方案，使得該芯片模組電阻測試插座至少具有如下優點(1)結構簡單，使用方便，適用于個人手動PC測試操作，單機、單人的測試效率大大提升，測試頻度可以和測試簡單的芯片測試保本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種芯片模組電阻測試插座，包括上蓋組件(1)以及底座(2)，其特征在于：所述上蓋組件包括上蓋主體(104)、上蓋框架(103)和壓板(106)，所述上蓋主體兩端分別經一轉軸與上蓋框架一端和一卡扣(105)連接，所述上蓋框架(103)固定疊設在底座(2)上，所述卡扣(105)上部與上蓋主體(104)上端面之間設有復數第一彈性元件，所述上蓋框架(103)另一端設有可與卡扣(105)配合的固定機構(110)，所述壓板(106)與上蓋主體(104)下端面固定連接，且壓板與上蓋主體之間還分布有復數第二彈性元件(111)；所述底座(2)包括底座主體(201)、復數滑塊(206)和復數探針(207)，所述底座主體(201)下部對稱分布有復數插槽，每一插槽內設有一滑塊(206)，每一滑塊內均插設有一探針(210)，且每一探針頭部均伸入設于底座主體上端面的容置槽內，同時，每一滑塊頭部與底座主體之間還均設有第三彈性元件(209)。

【技術特征摘要】
1.一種芯片模組電阻測試插座，包括上蓋組件(I)以及底座(2)，其特征在于 所述上蓋組件包括上蓋主體(104)、上蓋框架(103)和壓板(106)，所述上蓋主體兩端分別經一轉軸與上蓋框架一端和一卡扣(105)連接，所述上蓋框架(103)固定疊設在底座(2)上，所述卡扣(105)上部與上蓋主體(104)上端面之間設有復數第一彈性元件，所述上蓋框架(103)另一端設有可與卡扣(105)配合的固定機構(110)，所述壓板(106)與上蓋主體(104)下端面固定連接，且壓板與上蓋主體之間還分布有復數第二彈性元件(111)； 所述底座(2)包括底座主體(201)、復數滑塊(206)和復數探針(207)，所述底座主體(201)下部對稱分布有復數插槽，每一插槽內設有一滑塊(206)，每一滑塊內均插設有一探針(210)，且每一探針頭部均伸入設于底座主體上端面的容置槽內，同時，每一滑塊頭部與底座主體之間還均設有第三彈性元件(209)。2.根據權利要求I所述的芯片模組電阻測試插座，其特征在于，所述壓板(106)經復數滑塊下壓銷釘(102)與上蓋主體(104)下端面固定連接。3.根據權利要求I所述的芯片模組電阻測試插座，其特征在于，所述固定機構(110)采用固定設置于底座另一端的水平滑管。4...

【專利技術屬性】
技術研發人員：朱小剛，
申請(專利權)人：蘇州創瑞機電科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：