本發(fā)明專利技術(shù)提供一種用以檢測三維感測器的系統(tǒng)及方法。根據(jù)本發(fā)明專利技術(shù)，光源被控制發(fā)射具有已知相位的光，并且該發(fā)射光的已知相位被改變?yōu)橹辽賰梢阎辔恢怠ＨS感測器被驅(qū)動感測檢測空間反射光源所發(fā)射的光，以擷取圖像。根據(jù)擷取的圖像及其每一像素的相對角度與相對亮度以及預(yù)存的多個參考數(shù)據(jù)，關(guān)于三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)被計算出。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及一種用以檢測三維感測器(three-dimensional sensor)的系統(tǒng)及方法，并且特別地，本專利技術(shù)涉及便利、安全且可應(yīng)用于檢測大量三維感測器的缺陷像素 (defect pixel)及敏感度(sensitivity)等品質(zhì)數(shù)據(jù)的檢測系統(tǒng)及檢測方法。關(guān)于本專利技術(shù)的相關(guān)技術(shù)背景，請參考以下所列的技術(shù)文獻[1]美國專利公告號第7，471，376號專利；[2]美國專利公告號第7，408，627專利；以及[3]美國專利公告號第73，75，083號專利。
技術(shù)介紹
已有越來越多電子產(chǎn)品采用三維感測器，來提高產(chǎn)品的功能與特性。對于電子產(chǎn)品制造商而言，在大量采用三維感測器的同時，如何檢測三維感測器的可靠性及穩(wěn)定性，是個相當重要的問題。畢竟三維感測器比一般的二維感測器多一維空間，檢測三維感測器的性能與特性的困難度也相對地提高。尤其是，如何便利、安全且檢測大量三維感測器，是電子產(chǎn)品制造商亟需解決的問題。因此，本專利技術(shù)的一范圍在于提供一種。并且特別地，根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)即檢測方法具有便利、安全且可應(yīng)用于檢測大量三維感測器的缺陷像素及敏感度等品質(zhì)數(shù)據(jù)，等優(yōu)點。
技術(shù)實現(xiàn)思路
根據(jù)本專利技術(shù)的一較佳具體實施例的檢測系統(tǒng)，其用以檢測三維感測器。根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)包含盒體(casing)、光源(light source)、存儲裝置(storage device)以及控制/處理裝置(controlling/processing device) 0盒體其結(jié)構(gòu)是構(gòu)成不泄光的檢測空間(inspecting space)。三維感測器安置于盒體內(nèi)。光源固定于盒體內(nèi)。存儲裝置存儲多個參考數(shù)據(jù)(reference data)。控制/處理裝置分別電連接至三維感測器、光源以及存儲裝置。控制/處理裝置用以控制光源發(fā)射具有已知相位的光，并且改變發(fā)射光的已知相位為至少兩已知相位值。控制/處理裝置并且驅(qū)動三維感測器感測檢測空間反射光源所發(fā)射的光，以擷取圖像。控制/處理裝置根據(jù)至少兩已知相位值、擷取的圖像的相位信息計算并修正擷取圖像，以獲得擷取的圖像的每一像素的相對角度(relative angle)以及相對亮度 (active brightness)。控制/處理裝置并且根據(jù)擷取的圖像及其每一像素的相對角度與相對亮度以及多個參考數(shù)據(jù)計算出關(guān)于三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)(quality data)。在一具體實施例中，關(guān)于三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)包含二維敏感度 (two-dimensional sensitivity)。多個參考數(shù)據(jù)包含平均灰階值標準范圍。控制/處理裝置計算擷取的圖像的平均灰階值，并且根據(jù)擷取的圖像的平均灰階值以及平均灰階值標準范圍計算出二維敏感度。在一具體實施例中，關(guān)于三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)包含缺陷像素數(shù)據(jù)。多個4參考數(shù)據(jù)包含通過理想感測器(golden sensor)所獲得關(guān)于擷取的圖像的亮度門限值。控制/處理裝置根據(jù)擷取的圖像以及關(guān)于擷取的圖像的亮度門限值選擇性地決定缺陷像素數(shù)據(jù)。 在一具體實施例中，多個參考數(shù)據(jù)包含通過理想感測器所獲得Z軸校正數(shù)據(jù)以及 XY軸校正數(shù)據(jù)。控制/處理裝置并且根據(jù)Z軸校正數(shù)據(jù)以及XY軸校正數(shù)據(jù)處理、轉(zhuǎn)換擷取的圖像及其每一像素的相對角度與相對亮度成多組全域坐標值(world coordinates) 0在一具體實施例中，關(guān)于三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)包含多組直線兩點之間的誤差(linear displacement error)、多組平面兩點之間的誤差(squareness error)以及多組空間兩點之間的誤差(volumetric error)。多個參考數(shù)據(jù)包含關(guān)于理想感測器的多組全域坐標。控制/處理裝置并且根據(jù)關(guān)于擷取的圖像的多組全域坐標值以及關(guān)于理想感測器的多組全域坐標計算出多組直線兩點之間的誤差、多組平面兩點之間的誤差以及多組空間兩點之間的誤差。根據(jù)本專利技術(shù)的一較佳具體實施例的檢測方法，其用以檢測三維感測器。密閉的檢測空間被提供。光源安置于檢測空間內(nèi)。多個參考數(shù)據(jù)被事先存儲。根據(jù)本專利技術(shù)的檢測方法首先是將三維感測器安置于密閉的檢測空間內(nèi)。接著，根據(jù)本專利技術(shù)的檢測方法是控制光源發(fā)射具有已知相位的光，并且改變發(fā)射光的已知相位為至少兩已知相位值。接著，根據(jù)本專利技術(shù)的檢測方法是驅(qū)動三維感測器感測檢測空間反射光源所發(fā)射的光，以擷取圖像。接著， 根據(jù)本專利技術(shù)的檢測方法根據(jù)至少兩已知相位值、擷取的圖像的相位信息計算并修正以獲得擷取的圖像的每一像素的相對角度以及相對亮度。最后，根據(jù)本專利技術(shù)的檢測方法根據(jù)擷取的圖像及其每一像素的相對角度與相對亮度以及多個參考數(shù)據(jù)計算出關(guān)于三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)。關(guān)于本專利技術(shù)的優(yōu)點與精神可以通過以下的專利技術(shù)詳述及附圖得到進一步的了解。 附圖說明圖1根據(jù)本專利技術(shù)的一較佳具體實施例的檢測系統(tǒng)的必要組成-盒體的外觀示意圖。圖2是繪示根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)的功能區(qū)塊圖。圖3根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)的控制/處理裝置執(zhí)行的演算法與處理原理的示意圖。圖4A顯示模擬方法對于已知的一個正確位置的點附近產(chǎn)生10個亂數(shù)的點針對于空間上的分布。圖4B為圖4A的所有點投影到每一軸(X軸、Y軸與Z軸)的分布。圖4C為圖4A的所有點投影到每一平面(XY平面、)(Z平面與H平面)的分布。圖5A模擬的點進行直線兩點之間的誤差的測量結(jié)果。圖5B模擬的點進行平面兩點之間的誤差的測量結(jié)果。圖5C模擬的點進行空間兩點之間的誤差的測量結(jié)果。圖6A模擬對于三敏感測試對于軸上的測試結(jié)果。圖6B模擬對于三敏感測試對于平面上的測試結(jié)果。圖6C模擬對于三敏感測試對于空間上的測試結(jié)果。圖7是繪示根據(jù)本專利技術(shù)的一較佳具體實施例的檢測方法的流程圖,主要元件符號說明1 檢測系統(tǒng) 10 盒體104 盒體的上半部分 12 光源16 控制/處理裝置 3 檢測方法102 檢測空間 106 蓋體 14 存儲裝置 2 三維感測器S30 S50 流程步驟具體實施例方式本專利技術(shù)提供一種具有。并且特別地，根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)及檢測方法具有便利、安全等優(yōu)點。并且，根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)及檢測方法可應(yīng)用于檢測大量三維感測器的缺陷像素及敏感度等品質(zhì)數(shù)據(jù)。以下將詳述本專利技術(shù)的較佳具體實施例，藉以充分解說本專利技術(shù)的特征、精神、優(yōu)點以及實施上的可行性。請參閱圖1及圖2，圖1根據(jù)本專利技術(shù)的一較佳具體實施例的檢測系統(tǒng)1的必要組成-盒體10的外觀示意圖。圖2根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)1的功能區(qū)塊圖。根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)1用以檢測三維感測器2。如圖1及圖2所示，根據(jù)本專利技術(shù)的檢測系統(tǒng)1包含盒體10、光源12、存儲裝置14 以及控制/處理裝置16。在一具體實施例中，光源12是雷射二極管(laser diode)。如圖1所示，盒體10其結(jié)構(gòu)構(gòu)成不泄光的檢測空間102。三維感測器2安置于盒體10內(nèi)。光源12固定于盒體10內(nèi)。在一實施例中，盒體10大體上區(qū)分為上半部分104以及下半部102，并且具有樞接于上半部分104的蓋體106，如圖1所示。三維感測器2固定于蓋體106內(nèi)側(cè)。光源12固定于盒體10的上半部分104上。當蓋體106蓋上時，盒體10 的下半部102即成不泄光的檢測空間。在三維感測器2的檢測過程中，不泄光的檢測空間 102可以避免雷射漏光與三維感測器2或雷射二極管(光源)12過熱所導致的傷害，這樣本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護點】
１．一種檢測系統(tǒng)，該檢測系統(tǒng)用以檢測一三維感測器，該檢測系統(tǒng)包含：一盒體，該盒體其結(jié)構(gòu)構(gòu)成一不泄光的檢測空間，該三維感測器安置于該盒體內(nèi)；一光源，該光源固定于該盒體內(nèi)；一存儲裝置，該存儲裝置存儲多個參考數(shù)據(jù)；以及一控制／處理裝置，該控制／處理裝置分別電連接至該三維感測器、該光源以及該存儲裝置，該控制／處理裝置用以控制該光源發(fā)射一具有已知相位的光并改變該發(fā)射光的已知相位為至少兩已知相位值，并且驅(qū)動該三維感測器感測該檢測空間反射該光源所發(fā)射的光以擷取一圖像，該控制／處理裝置根據(jù)該至少兩已知相位值、該擷取的圖像的相位信息計算并修正該擷取的圖像以獲得該擷取的圖像的每一像素的相對角度以及相對亮度，該控制／處理裝置并且根據(jù)該擷取的圖像及其每一像素的相對角度與相對亮度以及該多個參考數(shù)據(jù)計算出關(guān)于該三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種檢測系統(tǒng)，該檢測系統(tǒng)用以檢測一三維感測器，該檢測系統(tǒng)包含一盒體，該盒體其結(jié)構(gòu)構(gòu)成一不泄光的檢測空間，該三維感測器安置于該盒體內(nèi)；一光源，該光源固定于該盒體內(nèi)；一存儲裝置，該存儲裝置存儲多個參考數(shù)據(jù)；以及一控制/處理裝置，該控制/處理裝置分別電連接至該三維感測器、該光源以及該存儲裝置，該控制/處理裝置用以控制該光源發(fā)射一具有已知相位的光并改變該發(fā)射光的已知相位為至少兩已知相位值，并且驅(qū)動該三維感測器感測該檢測空間反射該光源所發(fā)射的光以擷取一圖像，該控制/處理裝置根據(jù)該至少兩已知相位值、該擷取的圖像的相位信息計算并修正該擷取的圖像以獲得該擷取的圖像的每一像素的相對角度以及相對亮度，該控制 /處理裝置并且根據(jù)該擷取的圖像及其每一像素的相對角度與相對亮度以及該多個參考數(shù)據(jù)計算出關(guān)于該三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)。2.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其中關(guān)于該三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)包含一二維敏感度，該多個參考數(shù)據(jù)包含一平均灰階值標準范圍，該控制/處理裝置計算該擷取的圖像的平均灰階值，并且根據(jù)該擷取的圖像的平均灰階值以及該平均灰階值標準范圍計算出該二維敏感度。3.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其中關(guān)于該三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)包含一缺陷像素數(shù)據(jù)，該多個參考數(shù)據(jù)包含通過一理想感測器所獲得關(guān)于該擷取的圖像的亮度門限值，該控制/處理裝置根據(jù)該擷取的圖像以及關(guān)于該擷取的圖像的亮度門限值選擇性地決定該缺陷像素數(shù)據(jù)。4.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其中該多個參考數(shù)據(jù)包含通過一理想感測器所獲得一 Z軸校正數(shù)據(jù)以及一 XY軸校正數(shù)據(jù)，該控制/處理裝置并且根據(jù)該Z軸校正數(shù)據(jù)以及該 XY軸校正數(shù)據(jù)處理、轉(zhuǎn)換該擷取的圖像及其每一像素的相對角度與相對亮度成多組全域坐標值。5.如權(quán)利要求4所述的檢測系統(tǒng)，其中關(guān)于該三維感測器的至少兩品質(zhì)數(shù)據(jù)包含多組直線兩點之間的誤差、多組平面兩點之間的誤差以及多組空間兩點之間的誤差，該多個參考數(shù)據(jù)包含關(guān)于該理想感測器的多組全域坐標，該控制/處理裝置并且根據(jù)關(guān)于該擷取的圖像的多組全域坐標值以及關(guān)于該理想感測器的多組全域坐標計...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：洪新光，鐘玉圻，李信宏，
申請(專利權(quán))人：廣達電腦股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：71
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