一種高精度光學引導局部成像方法技術

本發明專利技術公開了一種高精度光學引導局部成像方法，包括成像相機、成像鏡頭、光軸平移光路組件用于拍攝定位工件；方法包括如下步驟：（1）調整成像相機的像素量和分辨率，使成像相機采用低像素量/低分辨率拍攝定位工件，同時保證拍到定位工件所有的工件特征點；（2）調整成像相機和成像鏡頭，提高定位工件的工件特征點的范圍內的圖像分辨率；（3）調整光軸平移光路組件，得到成像局部區域及成像無效區域，屏蔽掉兩個工件特征點之間的成像無效區域成像到成像相機中；（4）將工件特征點的局部區成像到成像相機，使得工件特征點局部高分辨率成像，提高了定位精度；（5）去除無效區域成像而降低總像素量，得到最終成像，提高了傳輸與圖像處理速度。

A high precision optical guided local imaging method

【技術實現步驟摘要】
一種高精度光學引導局部成像方法
本專利技術涉及光伏太陽能
，具體為一種高精度光學引導局部成像方法，其主要應用于需要光學局部成像定位的場合，如光伏疊瓦串焊機，硅片/電池片激光劃線機，光伏絲網印刷機，串焊機等。
技術介紹
光學成像引是用相機拍攝工件得到工件圖片，通過算法計算得到工件特征點所在的位置坐標從而引導機械動作的一種方法，拍攝視野與相機的像素質個數比值決定了定位的精度。當多個特征點所在位置間距較大時，拍攝視野大定位精度降低。在相同的視野情況下，高精度需要高像素量的相機導致成本高。高像素量導到圖像傳輸與處理時間變長，不利于高速用應場合。相機技術上提高像素量有限，限制工件特征點的定位精度提高。
技術實現思路
為了克服上述問題，本專利技術提供一種高精度光學引導局部成像方法。本專利技術的技術方案是提供一種高精度光學引導局部成像方法，其特征在于，包括成像相機、成像鏡頭、光軸平移光路組件用于拍攝定位工件；所述成像方法包括如下步驟：（1）調整成像相機的像素量和分辨率，使成像相機采用低像素量/低分辨率拍攝所述定位工件，同時保證拍到所述定位工件所有的工件特征點；（2）調整所述成像相機和所述成像鏡頭，提高所述定位工件的工件特征點的范圍內的圖像分辨率；（3）調整所述光軸平移光路組件，得到成像局部區域及成像無效區域，屏蔽掉兩個工件特征點之間的所述成像無效區域成像到所述成像相機中；（4）將工件特征點的局部區成像到所述成像相機，使得工件特征點局部高分辨率成像，提高了定位精度；（5）去除無效區域成像而降低總像素量，得到最終成像提高了傳輸與圖像處理速度。進一步的，所述成像相機內包括有相機傳感器。進一步的，所述光軸平移光路組件包括有平行反光鏡或斜方棱鏡。進一步的，所述步驟（3）中，調整所述光軸平移光路組件包括平移后光軸中心及平移前光軸中心。本專利技術的有益效果是：本專利技術的一種高精度光學引導局部成像方法具有如下優點：①本專利技術的成像方法采用多特征局部成像，從而使相機視野變小，提高了定位精度；②本專利技術的成像方法消除多特征點之間有無效區域在相機中的無效成像，減小了圖像大小，提高了圖像的傳輸和處理速度；③本專利技術的成像方法在相同視野下，對相機的像素總量要求降低，利于成本下降；④本專利技術的成像方法有保證定位精度時圖像的總像素量下降，提高了傳輸與處理時間，更適當高速運行；在現有的相機技術上，可得更高的光學引導定位精度。附圖說明圖1是本專利技術的成像方法的布局示意圖；圖2是本專利技術的成像方法的布局分解示意圖。附圖標記：成像相機1、相機傳感器11、成像鏡頭2、光軸平移光路組件3、平行反光鏡31、斜方棱鏡32、工件特征點4、成像局部區域5、成像無效區域6、定位工件7。具體實施方式為了使本專利技術實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體實施例，進一步闡述本專利技術。如圖1和圖2所示，本專利技術的一種高精度光學引導局部成像方法，其特征在于，包括成像相機1、成像鏡頭2、光軸平移光路組件3用于拍攝定位工件7；所述成像方法包括如下步驟：（1）調整成像相機1的像素量和分辨率，使成像相機1采用低像素量/低分辨率拍攝所述定位工件7，同時保證拍到所述定位工件7所有的工件特征點4；（2）調整所述成像相機1和所述成像鏡頭2，提高所述定位工件7的工件特征點4的范圍內的圖像分辨率；（3）調整所述光軸平移光路組件3，調整所述光軸平移光路組件3包括平移后光軸中心及平移前光軸中心，得到成像局部區域5及成像無效區域6，成像無效區域6不成像到相機中，屏蔽掉兩個工件特征點4之間的所述成像無效區域6成像到所述成像相機1中；（4）將工件特征點4的局部區成像到所述成像相機1，使得工件特征點4局部高分辨率成像，提高了定位精度；（5）去除無效區域成像而降低總像素量，得到最終成像提高了傳輸與圖像處理速度。本專利技術一個較佳實施例中，所述成像相機1內包括有相機傳感器11。本專利技術一個較佳實施例中，所述光軸平移光路組件3包括有平行反光鏡31或斜方棱鏡32。以上實施例僅為本專利技術其中的一種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本專利技術專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本專利技術構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本專利技術的保護范圍。因此，本專利技術專利的保護范圍應以所附權利要求為準。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
1.一種高精度光學引導局部成像方法，其特征在于，包括成像相機、成像鏡頭、光軸平移光路組件用于拍攝定位工件；所述成像方法包括如下步驟：（1）調整成像相機的像素量和分辨率，使成像相機采用低像素量/低分辨率拍攝所述定位工件，同時保證拍到所述定位工件所有的工件特征點；（2）調整所述成像相機和所述成像鏡頭，提高所述定位工件的工件特征點的范圍內的圖像分辨率；（3）調整所述光軸平移光路組件，得到成像局部區域及成像無效區域，屏蔽掉兩個工件特征點之間的所述成像無效區域成像到所述成像相機中；（4）將工件特征點的局部區成像到所述成像相機，使得工件特征點局部高分辨率成像；（5）去除無效區域成像而降低總像素量，得到最終成像。

【技術特征摘要】
1.一種高精度光學引導局部成像方法，其特征在于，包括成像相機、成像鏡頭、光軸平移光路組件用于拍攝定位工件；所述成像方法包括如下步驟：（1）調整成像相機的像素量和分辨率，使成像相機采用低像素量/低分辨率拍攝所述定位工件，同時保證拍到所述定位工件所有的工件特征點；（2）調整所述成像相機和所述成像鏡頭，提高所述定位工件的工件特征點的范圍內的圖像分辨率；（3）調整所述光軸平移光路組件，得到成像局部區域及成像無效區域，屏蔽掉兩個工件特征點之間的所述成像無效區域成像到所述成像相機中；（4）將...

【專利技術屬性】
技術研發人員：徐紅帥，徐康寧，王雅，韋孟銻，
申請(專利權)人：威米深智蘇州工業技術有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇,32