驅(qū)動設(shè)備、圖像模糊校正設(shè)備以及攝像設(shè)備制造技術(shù)

驅(qū)動設(shè)備、圖像模糊校正設(shè)備以及攝像設(shè)備。一種驅(qū)動設(shè)備，其能夠以長的行程檢測位置并且確保大的驅(qū)動推力。驅(qū)動設(shè)備包括：固定構(gòu)件；可移動構(gòu)件；線圈；位置檢測器，其檢測所述可移動構(gòu)件的位置；以及第一磁體單元和第二磁體單元，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元以所述線圈置于所述第一磁體單元與所述第二磁體單元之間的方式放置。所述位置檢測器和所述線圈置于所述固定構(gòu)件和所述可移動構(gòu)件中的一者，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元置于另一者。所述第二磁體單元在面對所述位置檢測器的表面的中央部具有凹部。所述位置檢測器被放置成離所述第二磁體單元比離所述第一磁體單元更近。

Driving equipment, image blur correction equipment and camera equipment

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
驅(qū)動設(shè)備、圖像模糊校正設(shè)備以及攝像設(shè)備
本專利技術(shù)涉及驅(qū)動設(shè)備、圖像模糊校正設(shè)備以及攝像設(shè)備，并且特別地涉及具有相對于彼此移動的磁體和磁性傳感器并且使電流經(jīng)過線圈以使磁體和線圈相對于彼此移動的驅(qū)動設(shè)備、配備有該驅(qū)動設(shè)備的圖像模糊校正設(shè)備以及攝像設(shè)備。
技術(shù)介紹
近年來，歸因于攝像設(shè)備性能的增加，需要以長行程精確移動構(gòu)成攝像設(shè)備的光學(xué)部件的驅(qū)動設(shè)備。歸因于尺寸增加，待移動的光學(xué)部件的重量趨向于增加，因此，需要緊湊并且具有大推力的驅(qū)動設(shè)備。這里，攝像設(shè)備中的驅(qū)動設(shè)備為變焦設(shè)備、聚焦設(shè)備、圖像模糊校正設(shè)備等。例如，使用音圈馬達(dá)的方法用于許多圖像模糊校正設(shè)備，該圖像模糊校正設(shè)備在垂直于光軸的方向上移動光學(xué)部件以減少當(dāng)拍攝圖片時因相機(jī)抖動導(dǎo)致的圖像模糊。在使用音圈馬達(dá)的方法中，線圈置于可移動單元和固定單元中的一者中，而磁體置于另一者中。電流經(jīng)過線圈以使磁體和線圈相對于彼此移動。日本特開2017-111183號公報和日本特許6172993號公報中公開了一種具有被設(shè)計成增加驅(qū)動推力的磁體的圖像模糊校正設(shè)備。日本特開2017-111183號公報公開了一種配置，其中使用被稱為海爾貝克陣列(Halbacharray)的磁體陣列的一部分以便有效地增加橫穿線圈的磁通密度。日本特許6172993號公報公開了一種配置，其中磁體置于線圈上方和下方以便有效地增加橫穿線圈的磁通密度。為了以高精度移動可移動單元，在許多情況下檢測可移動單元的行程(即可移動單元的位置)。為了檢測可移動單元的位置，例如存在如下磁性位置檢測方法：通過磁性傳感器(諸如霍爾效應(yīng)裝置或MR(磁阻)裝置)檢測磁體和磁性傳感器的相對位置，將對應(yīng)于隨磁體與磁性傳感器的相對移動的磁通密度變化的電氣信號輸出。一般地，在磁性位置檢測方法中，基于如下假設(shè)計算磁體和磁性傳感器的相對位置：可由磁性傳感器檢測的磁通密度隨磁性傳感器與磁體的相對移動而線性變化。日本特開2007-219338號公報公開了一種具有如下配置的圖像模糊校正設(shè)備：用于檢測可移動單元的位置的磁體也被用作驅(qū)動設(shè)備。日本特開2013-246134號公報公開了一種位置檢測設(shè)備，其通過在磁體中切割出缺口或?qū)⒋朋w分為兩部分而確保了長位置檢測行程。然而，根據(jù)日本特開2007-219338號公報中公開的技術(shù)，由磁性傳感器檢測到的磁通密度如圖13中的曲線Bf地變化，因此在僅可檢測到曲線Bf的線性變化的區(qū)域中的位置的情況下，可檢測行程被限制為大約1mm(±0.5mm)。因此，日本特開2007-219338號公報中公開的技術(shù)的用途被限制于可移動單元的行程短的情況。為了增加可檢測行程，應(yīng)當(dāng)如日本特開2017-111183號公報和日本特許6172993號公報中公開的那樣使用用于驅(qū)動可移動單元的磁體和用于位置檢測的磁體的配置。然而，即使在使用日本特開2017-111183號公報中公開的以海爾貝克陣列配置的磁體的配置中，可檢測行程為大約2mm，如圖13中的曲線Bb所示。在日本特許6172993號公報公開的配置中，磁體置于線圈上方和下方，還需要用于位置檢測的另外的磁體，導(dǎo)致部件數(shù)量的增加并使其難以節(jié)省空間。另一方面，日本特開2013-246134號公報中公開的位置檢測器具有如下問題：在應(yīng)用到驅(qū)動設(shè)備的情況下，由于磁體的體積小而不能確保大的驅(qū)動推力。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)提供了具有長的位置檢測行程并且能夠確保大的驅(qū)動推力的驅(qū)動設(shè)備、圖像模糊校正設(shè)備以及攝像設(shè)備。因此，本專利技術(shù)提供了一種驅(qū)動設(shè)備，其包括：固定構(gòu)件；可移動構(gòu)件；線圈；位置檢測器，其被構(gòu)造為檢測所述可移動構(gòu)件的位置；以及第一磁體單元和第二磁體單元，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元被構(gòu)造為以所述線圈置于所述第一磁體單元與所述第二磁體單元之間的方式放置，其中，所述位置檢測器和所述線圈置于所述固定構(gòu)件和所述可移動構(gòu)件中的一者，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元置于所述固定構(gòu)件和所述可移動構(gòu)件中的另一者，所述第二磁體單元在面對所述位置檢測器的表面的中央部具有凹部，并且位置檢測器被放置成離所述第二磁體單元比離所述第一磁體單元更近。根據(jù)本專利技術(shù)，驅(qū)動設(shè)備具有長的位置檢測行程并且能夠確保大的驅(qū)動推力。從以下參照附圖對示例性實(shí)施方式的說明中，本專利技術(shù)的其它特征將變得明顯。附圖說明圖1A和圖1B是用于說明根據(jù)本專利技術(shù)的實(shí)施方式的攝像設(shè)備的配置的視圖。圖2是攝像設(shè)備具有的根據(jù)第一實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備的分解立體圖。圖3A和圖3B分別是用于說明根據(jù)第一實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備的配置的主視圖和截面圖。圖4A至圖4C是用于說明根據(jù)第一實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備中的位置檢測器與下部磁體之間的位置關(guān)系的視圖。圖5是用于說明根據(jù)第一實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備中的磁體位置與磁通密度之間的關(guān)系的圖。圖6是以簡略的方式示出根據(jù)第二實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備中的驅(qū)動部的視圖。圖7A和圖7B是用于說明根據(jù)第二實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備中的位置檢測器與下部磁體之間的位置關(guān)系的視圖。圖8是用于說明根據(jù)第二實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備中的磁體位置與磁通密度之間的關(guān)系的圖。圖9是以簡略的方式示出根據(jù)第三實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備中的驅(qū)動部的視圖。圖10A和圖10B是用于說明根據(jù)第三實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備中的位置檢測器與下部磁體之間的位置關(guān)系的視圖。圖11是用于說明根據(jù)第三實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備中的磁體位置與磁通密度之間的關(guān)系的圖。圖12A至圖12C是示出具有凹部的磁體的示例的視圖。圖13是用于說明傳統(tǒng)配置中的磁體位置與磁通密度之間的關(guān)系的圖。具體實(shí)施方式現(xiàn)在將參照示出本專利技術(shù)的實(shí)施方式的附圖詳細(xì)說明本專利技術(shù)。這里，將說明被實(shí)施為設(shè)置于攝像設(shè)備的圖像模糊校正設(shè)備的根據(jù)本專利技術(shù)的驅(qū)動設(shè)備的配置。圖1A是示意性示出配備有根據(jù)本專利技術(shù)的實(shí)施方式的圖像模糊校正設(shè)備的攝像設(shè)備的配置的中央截面圖。圖1B是示出攝像設(shè)備的電氣配置的框圖。攝像設(shè)備具有攝像設(shè)備主體1和可以從攝像設(shè)備主體1移除的可更換鏡頭2。攝像設(shè)備主體1具有相機(jī)系統(tǒng)控制電路5、攝像裝置6、圖像處理單元7、存儲裝置8、顯示單元9、操作檢測單元10、圖像模糊校正設(shè)備14、抖動檢測單元15以及快門機(jī)構(gòu)16。顯示單元9包括取景器內(nèi)顯示裝置9a和背面顯示板9b。可更換鏡頭2具有透鏡組3、透鏡系統(tǒng)控制電路12以及透鏡驅(qū)動單元13。在可更換鏡頭2安裝于攝像設(shè)備主體1的情況下，相機(jī)系統(tǒng)控制電路5和透鏡系統(tǒng)控制電路12經(jīng)由電觸點(diǎn)11連接在一起，使得相機(jī)系統(tǒng)控制電路5和透鏡系統(tǒng)控制電路12能夠彼此通信。抖動檢測單元15為例如陀螺儀傳感器。抖動檢測單元15檢測攝像設(shè)備在三個軸向(即攝像光軸4的方向(以下稱為“光軸方向”)以及在與攝像光軸4垂直的平面內(nèi)彼此垂直的第一方向和第二方向)上的抖動，并且將指示抖動量的信號發(fā)送到相機(jī)系統(tǒng)控制電路5。基于從抖動檢測單元15獲得的信號，相機(jī)系統(tǒng)控制電路5計算攝像裝置6的目標(biāo)位置以減少被攝體像的模糊、計算垂直于攝像光軸4的平面內(nèi)的用于將攝像裝置6移動到目標(biāo)位置的驅(qū)動量以及將驅(qū)動量作為控制信號發(fā)送到圖像模糊校正設(shè)備14。圖像模糊校正設(shè)備14是在大致垂直于攝像光軸4的方向(大致平行于攝像裝置6的成像面的方向)上移動攝像裝置6或者使攝像裝置6繞著攝像光軸4轉(zhuǎn)動的機(jī)構(gòu)。圖像模糊校正設(shè)本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種驅(qū)動設(shè)備，其包括：固定構(gòu)件；可移動構(gòu)件；線圈；位置檢測器，其被構(gòu)造為檢測所述可移動構(gòu)件的位置；以及第一磁體單元和第二磁體單元，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元被構(gòu)造為以所述線圈置于所述第一磁體單元與所述第二磁體單元之間的方式放置，其特征在于，所述位置檢測器和所述線圈置于所述固定構(gòu)件和所述可移動構(gòu)件中的一者，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元置于所述固定構(gòu)件和所述可移動構(gòu)件中的另一者，所述第二磁體單元在面對所述位置檢測器的表面的中央部具有凹部，并且所述位置檢測器被放置成離所述第二磁體單元比離所述第一磁體單元更近。

【技術(shù)特征摘要】
2018.04.11 JP 2018-0762751.一種驅(qū)動設(shè)備，其包括：固定構(gòu)件；可移動構(gòu)件；線圈；位置檢測器，其被構(gòu)造為檢測所述可移動構(gòu)件的位置；以及第一磁體單元和第二磁體單元，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元被構(gòu)造為以所述線圈置于所述第一磁體單元與所述第二磁體單元之間的方式放置，其特征在于，所述位置檢測器和所述線圈置于所述固定構(gòu)件和所述可移動構(gòu)件中的一者，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元置于所述固定構(gòu)件和所述可移動構(gòu)件中的另一者，所述第二磁體單元在面對所述位置檢測器的表面的中央部具有凹部，并且所述位置檢測器被放置成離所述第二磁體單元比離所述第一磁體單元更近。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述第一磁體單元的面對所述位置檢測器的表面是平坦的。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述第二磁體單元具有三個磁體在一個方向上并排放置的配置，并且在所述三個磁體中，中央磁體的高度低于位于兩端的磁體的高度以形成所述凹部。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述第二磁體單元具有三個磁體在一個方向上并排放置的配置，并且在所述三個磁體中，中央磁體的磁化方向與位于兩端的磁體的磁化方向交叉。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述第二磁體單元的凹部具有圓弧形、梯形、三角形或矩形的形狀。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述第二磁體單元具有兩個磁體，并且所述兩個磁體彼此分隔開地放置以形成所述凹部。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，在所述兩個磁體之間設(shè)置有間隙或非鐵磁性的間隔件。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述位置檢測器置于所述線圈的卷線內(nèi)部。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述位置檢測器是霍爾效應(yīng)裝置。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述第一磁體單元具有三個磁體在一個方向上并排放置的配置，并且在所述三個磁體中，中央磁體的磁化方向與位于兩端的磁體的磁化方向交叉。11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，所述位置檢測器和所述線圈置于所述固定構(gòu)件。12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動設(shè)備，其中，在所述第一磁體單元和所述第二磁體單元夾持所述線圈的方向上，所述位置檢測器被放置成離所述第二磁體單元比離所述第一磁體單元更近。13.一種圖像模糊校正設(shè)備，其包括：驅(qū)動設(shè)備，其包括固定構(gòu)件、可移動構(gòu)件、線圈、位置檢測器以及第一磁體單元和第二磁體單元，所述位置檢測器被構(gòu)造為檢測所述可移動構(gòu)件的位置，所述第一磁體單元和所述第二磁體單元以所述線圈置于所述第一磁體單元與所述第二磁體單元之間的方式放置；以及透鏡，其被可移動構(gòu)件保持，其特征在于，所述可移動構(gòu)件能夠在與所述透鏡的光軸大致垂直的方向上移動，所述位...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：三好香織，
申請(專利權(quán))人：佳能株式會社，
類型：發(fā)明
國別省市：日本,JP