基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺制造技術

本實用新型專利技術公開了一種基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺，旨在提供一種測試精度高和測試效率高的基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺。本實用新型專利技術包括測試箱，所述測試箱上安裝有平臺板，所述平臺板上安裝有若干個測試平臺機構，所述測試平臺機構包括產品定位夾具、上壓頭自對準模塊、B2B模塊、下壓頭調整機構和光學定位模組，所述產品定位夾具安裝在所述平臺板，所述上壓頭自對準模塊安裝在所述平臺板上，所述上壓頭自對準模塊與B2B模塊相連接，所述下壓頭調整機構安裝在所述平臺板下端面且位于所述產品定位夾具下方，所述下壓頭調整機構和所述光學定位模組相連接。本實用新型專利技術應用于軟線排功能測試的技術領域。

Alignment test platform for soft cable alignment based on optical positioning

The utility model discloses a soft line alignment adjusting test platform based on optical positioning, which aims to provide a soft line alignment adjusting test platform based on optical positioning, which has high testing precision and high testing efficiency. The utility model comprises a test box, a platform board installed in the test box, the platform plate is provided with a plurality of testing platform, the test platform including product positioning fixture, head alignment module pressure head adjusting mechanism and optical positioning module, B2B module, and the product positioning the fixture is installed on the platform board, the head of self alignment module installed on the platform board, the head of self alignment module is connected with the B2B module, the pressure head adjusting mechanism is arranged on the lower end plate and positioned in the product positioning fixture below the under the pressure head adjustment mechanism and the optical positioning module is connected. The utility model is applied to the technical field of the functional test of the flexible cord.

【技術實現步驟摘要】
基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺
本技術涉及軟線排功能測試的
,特別涉及一種基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺。
技術介紹
FPC排線具有配線密度高、重量輕、厚度薄的特點,目前軟排線廣泛應用于各種打印機打印頭與主板之間的連接，繪圖儀、掃描儀、復印機、音響、液晶電器、傳真機、手機、平板、電腦、等產品的信號傳輸及板板連接。在現代電器設備中，幾乎無處不在，隨著行業的發展及人們對于產品品質要求的日益提高，對軟排線的性能要求也越來越高。現今針對FPC軟排線功能測試主要采用純機械夾具測試，夾具測試是員工將產品放入夾具中用產品外形或孔位機械定位進行測試，然而現有的FPC夾具測試由于產品雙面PIN位誤差、產品的形變誤差、機械定位偏差等造成測試的穩定性不高，易出現誤測、損傷產品等現象，現測試方式存在效率低下、測試精度低、誤測率高、測試檢驗標準不統一和測試主觀性高等缺點，無法符合快速、準確、高效的精益工業化生產,不能高效的測試產品。
技術實現思路
本技術所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供了一種測試精度高和測試效率高的基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺。本技術所采用的技術方案是：本技術包括測試箱，所述測試箱上安裝有平臺板，所述平臺板上安裝有若干個測試平臺機構，所述測試平臺機構包括產品定位夾具、上壓頭自對準模塊、B2B模塊、下壓頭調整機構和光學定位模組，所述產品定位夾具安裝在所述平臺板，所述上壓頭自對準模塊安裝在所述平臺板上，所述上壓頭自對準模塊與B2B模塊相連接，所述下壓頭調整機構安裝在所述平臺板下端面且位于所述產品定位夾具下方，所述下壓頭調整機構和所述光學定位模組相連接。進一步的，所述產品定位夾具包括模擬夾具，所述模擬夾具上設有產品放置區、手指避讓位和兩個導套，所述模擬夾具的兩側的分別安裝有真空發生器，所述產品放置區上設置有若干個產品限位鍵和若干個與所述真空發生器相連通的吸孔。進一步的，所述上壓頭自對準模塊包括安裝在所述平臺板上的水平滑軌，所述水平滑軌上安裝有與所述水平滑軌相適配的滑塊和與所述滑塊相連接的驅動裝置，所述滑塊上固定安裝有機械手，所述機械手上安裝有所述B2B模塊，所述B2B模塊上還安裝有旋轉平臺。進一步的，所述光學定位模組包括CCD相機、CCD滑臺和光源器，所述CCD相機安裝在所述CCD滑臺上，所述光源器安裝在所述CCD相機的一端。進一步的，所述下壓頭調整機構包括所述CCD滑臺相連接的水平移動裝置，所述水平移動裝置上設置有豎直移動裝置，所述豎直移動裝置上設置有下壓頭模組。進一步的，所述B2B模塊包括與所述機械手相連接的安裝架和固定板，所述安裝架上安裝有滑臺氣缸，所述固定板與所述滑臺氣缸相連接，所述固定板下端設置有上壓板，所述固定板與所述上壓板之間的四端設有導向軸，所述上壓板下端設置有上壓頭、B2B連接器和探針模塊，所述B2B連接器的兩端設有兩個與兩個所述導套相適配的導柱，所述上壓頭下端設置有上金手指，所述上壓頭內部設有軟膠。進一步的，所述下壓頭模組包括下壓板和設置在所述下壓板上的下壓頭，所述下壓頭上設置有下金手指，所述下壓頭內設有軟膠。進一步的，所述機械手與所述固定板之間設置有隔板。進一步的，所述測試箱上設置有保護罩，所述測試箱的前端面設有控制面板，所述控制面板上設有啟動按鈕和急停按鈕，所述測試箱內設置有電氣控制裝置。本技術的有益效果是：由于本技術包括測試箱，所述測試箱上安裝有平臺板，所述平臺板上安裝有兩個測試平臺機構，使本技術能同時測試兩個產品軟排線，使其測試效率高，所述測試平臺機構包括安裝在所述平臺板上的產品定位夾具，安裝在所述平臺板上的上壓頭自對準模塊，安裝在所述平臺板下端面且位于所述產品定位夾具下方的下壓頭調整機構和與所述下壓頭調整機構相連接的光學定位模組,通過所述上壓頭自對準模塊和所述光學定位模組使本技術能精準的對接產品軟排線，使其測試精度高。附圖說明圖1是本技術的立體結構示意圖；圖2是測試平臺機構安裝在平臺板上的結構示意圖；圖3是下壓頭調整機構和光學定位模組的連接結構示意圖；圖4是上壓頭自對準模塊、B2B模塊和隔板的連接結構示意圖；圖5是B2B模塊結構示意圖；圖6是產品定位夾具的立體結構示意圖；圖7是產品定位夾具的俯視圖；圖8是下壓頭模組的立體結構示意圖。具體實施方式如圖1至圖8所示，在本實施例中，本技術包括測試箱1，所述測試箱1上安裝有平臺板2，所述平臺板2上安裝有若干個測試平臺機構3，所述測試平臺機構3包括產品定位夾具4、上壓頭自對準模塊5、B2B模塊6、下壓頭調整機構7和光學定位模組8，所述產品定位夾具4安裝在所述平臺板2，所述上壓頭自對準模塊5安裝在所述平臺板2上，所述上壓頭自對準模塊5與B2B模塊6相連接，所述下壓頭調整機構7安裝在所述平臺板2下端面且位于所述產品定位夾具4下方，所述下壓頭調整機構7和所述光學定位模組8相連接。在本實施例中，所述產品定位夾具4包括模擬夾具41，所述模擬夾具41上設有產品放置區42、手指避讓位43和兩個導套44，所述模擬夾具41的兩側的分別安裝有真空發生器45，所述產品放置區42上設置有若干個產品限位鍵46和若干個與所述真空發生器45相連通的吸孔，產品通過所述產品限位鍵46準確的放置于所述產品放置區42，再通過與所述真空發生器45相連通的所述吸孔吸住產品，確保產品的平面度。在本實施例中，所述上壓頭自對準模塊5包括安裝在所述平臺板2上的水平滑軌21，所述水平滑軌21上安裝有與所述水平滑軌21相適配的滑塊和與所述滑塊相連接的驅動裝置22，所述滑塊上固定安裝有機械手23，所述機械手23上安裝有所述B2B模塊6，所述B2B模塊6上還安裝有旋轉平臺24，進一步的，所述B2B模塊6包括與所述機械手23相連接的安裝架61和固定板62，所述安裝架61上安裝有滑臺氣缸63，所述固定板62與所述滑臺氣缸63相連接，所述固定板62下端設置有上壓板64，所述固定板62與所述上壓板64之間的四端設有導向軸65，所述上壓板64下端設置有與所述產品放置所述產品放置區42相適配的上壓頭、B2B連接器和探針模塊，所述B2B連接器設有靈活的轉出接口方式，可適用于不同間距不同PIN數的PFC/FFC軟排線測試，使本技術的通用程度高，所述B2B連接器的兩端設有兩個與兩個所述導套44相適配的導柱，所述上壓頭下端設置有上金手指，所述上壓頭內部設有軟膠。在本實施例中，所述光學定位模組8包括CCD相機81、CCD滑臺82和光源器83，所述CCD相機81安裝在所述CCD滑臺82上，所述光源器83安裝在所述CCD相機81的一端,所述CCD相機81上設有CCD，所述CCD為電荷耦合元件，可以稱為CCD圖像傳感器,也叫圖像控制器；所述CCD是一種半導體器件，能夠把光學影像轉化為電信號；所述CCD上植入的微小光敏物質稱作像素。一塊所述CCD上包含的像素數越多，其提供的畫面分辨率也就越高；所述CCD的作用就像膠片一樣，但它是把光信號轉換成電荷信號。所述CCD上有許多排列整齊的光電二極管，能感應光線，并將光信號轉變成電信號，經外部采樣放大及模數轉換電路轉換成數字圖像信號。在本實施例中，所述下壓頭調整機構7包括所述CCD滑臺82相連接的水平本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺，其特征在于：它包括測試箱（1），所述測試箱（1）上安裝有平臺板（2），所述平臺板（2）上安裝有若干個測試平臺機構（3），所述測試平臺機構（3）包括產品定位夾具（4）、上壓頭自對準模塊（5）、B2B模塊（6）、下壓頭調整機構（7）和光學定位模組（8），所述產品定位夾具（4）安裝在所述平臺板（2），所述上壓頭自對準模塊（5）安裝在所述平臺板（2）上，所述上壓頭自對準模塊（5）與B2B模塊（6）相連接，所述下壓頭調整機構（7）安裝在所述平臺板（2）下端面且位于所述產品定位夾具（4）下方，所述下壓頭調整機構（7）和所述光學定位模組（8）相連接。

【技術特征摘要】
1.一種基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺，其特征在于：它包括測試箱（1），所述測試箱（1）上安裝有平臺板（2），所述平臺板（2）上安裝有若干個測試平臺機構（3），所述測試平臺機構（3）包括產品定位夾具（4）、上壓頭自對準模塊（5）、B2B模塊（6）、下壓頭調整機構（7）和光學定位模組（8），所述產品定位夾具（4）安裝在所述平臺板（2），所述上壓頭自對準模塊（5）安裝在所述平臺板（2）上，所述上壓頭自對準模塊（5）與B2B模塊（6）相連接，所述下壓頭調整機構（7）安裝在所述平臺板（2）下端面且位于所述產品定位夾具（4）下方，所述下壓頭調整機構（7）和所述光學定位模組（8）相連接。2.根據權利要求1所述的基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺，其特征在于：所述產品定位夾具（4）包括模擬夾具（41），所述模擬夾具（41）上設有產品放置區（42）、手指避讓位（43）和兩個導套（44），所述模擬夾具（41）的兩側的分別安裝有真空發生器（45），所述產品放置區（42）上設置有若干個產品限位鍵（46）和若干個與所述真空發生器（45）相連通的吸孔。3.根據權利要求2所述的基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺，其特征在于：所述上壓頭自對準模塊（5）包括安裝在所述平臺板（2）上的水平滑軌（21），所述水平滑軌（21）上安裝有與所述水平滑軌（21）相適配的滑塊和與所述滑塊相連接的驅動裝置（22），所述滑塊上固定安裝有機械手（23），所述機械手（23）上安裝有所述B2B模塊（6），所述B2B模塊（6）上還安裝有旋轉平臺（24）。4.根據權利要求1所述的基于光學定位的軟排線對位調整測試平臺，其特征在于：所述光學定位模組（8）包括CCD相機（81）、CCD滑臺（82）和光源器（83），所述CCD相機（81）安裝在...

【專利技術屬性】
技術研發人員：楊小敏，
申請(專利權)人：珠海市運泰利自動化設備有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東,44