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本實(shí)用新型公開了一種基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺(tái)，旨在提供一種測試精度高和測試效率高的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺(tái)。本實(shí)用新型包括測試箱，所述測試箱上安裝有平臺(tái)板，所述平臺(tái)板上安裝有若干個(gè)測試平臺(tái)機(jī)構(gòu)，所述測試平臺(tái)機(jī)構(gòu)包括產(chǎn)...該專利屬于珠海市運(yùn)泰利自動(dòng)化設(shè)備有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過珠海市運(yùn)泰利自動(dòng)化設(shè)備有限公司授權(quán)不得商用。