用于光學元件的加速老化系統及透光度測試方法技術方案

本發明專利技術公開了一種用于光學元件的加速老化系統及透光度測試方法。其中，該方法包括：控溫臺或溫箱，用于在老化過程中，為放置在其中的待老化光學元件提供滿足預定溫度條件的溫度環境；溫度控制器，用于在預設時間段內控制控溫臺上或溫箱中的環境溫度，使環境溫度滿足預定溫度條件。本發明專利技術解決了相關技術中由于并沒有統一的設備及標準用于實現LED光學元件加速老化，導致測試結果受不同老化環境的影響嚴重的技術問題。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及光學領域，具體而言，涉及一種用于光學元件的加速老化系統及透光度測試方法。
技術介紹
在光學產品的全壽命周期中，光學產品中的光學元件會由于老化導致光效降低、光譜偏離以及壽命縮短。以大功率白光LED封裝為例，它是由一系列部件所構成的復雜產品，包括：半導體芯片，焊線，引線框架、散熱板以及光學元件。LED封裝老化的機理與芯片，焊接材料，光學材料等因素相關。其中，LED封裝的光效降低的一個重要原因是，在使用過程中，半導體芯片產生的熱以及光輻射導致LED封裝中的光學元件不斷老化。最新研究顯示，密封材料及光學材料的老化程度與光效密切相關。在與之相關的各種老化機理中，光學材料的變色和黃化直接導致光學元件的透明度降低，進而使LED封裝的光效降低。而光學材料老化的主要受溫度、短波段光照輻射，以及熒光粉與光學材料的相互作用的影響。LED封裝內部會由于結溫和環境溫度升高，以及散熱條件不好而形成高溫環境，同時，熒光粉以及反射層中的能量轉換會進一步導致環境溫度升高。高溫環境又會直接影響光學材料的老化程度及進程。研究表明，在達到150攝氏度時，光學部件的透明度就會受到顯著影響。對于光學產品(如LED封裝)而言，光效的重要性十分顯著。在測試標準中已明確提出，當某一批次中LED的光效低到一定值時，即表示產品不合格。由于光效測試針對的是老化的光學產品，因此，加速光學元件老化的重要性也越來越顯著。目前，在光效測試時，并沒有統一的設備及標準用于實現LED光學元件加速老化，導致測試結果受不同測試環境的影響嚴重。針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。
技術實現思路
本專利技術實施例提供了一種用于光學元件的加速老化系統及透光度測試方法，以至少解決相關技術中由于并沒有統一的設備及標準用于實現LED光學元件加速老化，導致測試結果受不同老化環境的影響嚴重的技術問題。根據本專利技術實施例的一個方面，提供了一種用于光學元件的加速老化系統，包括：控溫臺或溫箱，用于在老化過程中，為放置在其中的待老化光學元件提供滿足預定溫度條件的溫度環境；溫度控制器，用于在預設時間段內控制上述控溫臺上或上述溫箱中的環境溫度，使上述環境溫度滿足上述預定溫度條件。進一步地，上述加速老化系統還包括：光源，用于產生光照，為老化過程中的上述待老化光學元件提供滿足預定輻射照度條件的光照環境；輻射照度控制器，用于在上述預設時間段內控制上述光源照射到上述待老化光學元件上的輻射照度，使上述輻射照度滿足上述預定輻射照度條件。進一步地，上述加速老化系統還包括：平行光控制器，用于控制上述光源產生的光照能夠平行照射到上述待老化光學元件上。進一步地，上述加速老化系統還包括：光學透鏡，安裝在上述平行光控制器上，用于進一步控制上述光源產生的光照能夠平行照射到上述待老化光學元件上。進一步地，上述輻射照度控制器通過以下方式調節照射到上述待老化光學元件上的輻射照度：上述輻射照度控制器檢測照射到上述待老化光學元件上的輻射照度是否滿足上述預定輻射照度條件；若不滿足，則校正上述光源以調節照射到上述待老化光學元件上的輻射照度。進一步地，上述平行光控制器內設置有第一測試點和第二測試點，上述輻射照度控制器通過以下方式確定透過上述待老化光學元件的輻射照度：上述輻射照度控制器檢測照射到上述第一測試點上的輻射照度，得到第一輻射照度檢測值；上述輻射照度控制器檢測照射到上述第二測試點上的輻射照度，得到第二輻射照度檢測值；上述輻射照度控制器根據上述第一輻射照度檢測值和上述第二輻射照度檢測值確定上述待老化光學元件的透光度。進一步地，上述加速老化系統還包括：位置控制器，用于調節上述待老化光學元件的位置和/或上述待老化光學元件與上述光源之間的距離。進一步地，在應用上述溫箱時，上述加速老化系統還包括：夾具，用于固定上述待老化光學元件。進一步地，上述控溫臺上或上述溫箱內具有多個區域，上述溫度控制器包括多個區域溫度控制器，每個區域溫度控制器用于控制上述多個區域中的一個區域的環境溫度，使上述多個區域中每個區域的環境溫度滿足各自的預定溫度條件；和/或上述輻射照度控制器包括多個區域輻射照度控制器，每個區域輻射照度控制器用于控制光源照射到上述多個區域中的一個區域內的待老化光學元件上的輻射照度，使照射到上述多個區域中每個區域內的待老化光學元件上的輻射照度滿足各自的預定輻射照度條件。進一步地，上述控溫臺上或上述溫箱包括多個，上述溫度控制器包括多個，每個上述溫度控制器用于控制一個上述控溫臺上或上述溫箱中的環境溫度，使每個上述控溫臺上或上述溫箱中的環境溫度滿足各自的預定溫度條件；和/或上述輻射照度控制器包括多個，每個上述輻射照度控制器用于控制光源照射到每個上述控溫臺上或上述溫箱內的待老化光學元件上的輻射照度，使照射到每個上述控溫臺上或上述溫箱內的待老化光學元件上的輻射照度滿足各自的預定輻射照度條件。根據本專利技術實施例的另一方面，還提供了一種用于光學元件的透光度測試方法，包括：獲取光學元件老化后的透光度，其中，上述光學元件通過使用任一項上述的用于光學元件的加速老化系統進行老化處理；獲取上述光學元件老化前的透光度；根據獲取的老化后的透光度和老化前的透光度測試上述光學元件的屬性參數。在本專利技術實施例中，采用控溫臺或溫箱為光學元件營造一個不受外部環境因素影響的老化環境的方式，通過使用控溫臺或溫箱，在老化過程中，為放置在其中的待老化光學元件提供滿足預定溫度條件的溫度環境；并使用溫度控制器，在預設時間段內控制控溫臺上或溫箱中的環境溫度，使環境溫度滿足預定溫度條件，達到了將老化環境與外界環境相隔離的目的，從而實現了降低光效測試結果受不同老化環境的影響的技術效果，進而解決了相關技術中由于并沒有統一的設備及標準用于實現LED光學元件加速老化，導致測試結果受不同老化環境的影響嚴重的技術問題；同時該設備能夠在老化過程中實時監測待測元件的透光度，解決了相關技術中無法實現老化進程中測試的困難。附圖說明此處所說明的附圖用來提供對本專利技術的進一步理解，構成本申請的一部分，本專利技術的示意性實施例及其說明用于解釋本專利技術，并不構成對本專利技術的不當限定。在附圖中：圖1(a)是根據本專利技術實施例的一種可選的控溫臺系統的第一視圖；圖1(b)是根據本專利技術實施例的一種可選的控溫臺系統的第二視圖；圖2是根據本專利技術實施例的一種可選的溫箱系統的結構示意圖；圖3是根據本專利技術實施例的一種可選的輻射照度控制器的控制流程的示意圖；圖4是根據本專利技術實施例的一種可選的使用溫箱系統測試輻射照度的示意圖；圖5(a)是根據本專利技術實施例的一種可選的同一個溫箱中包含多個區域的示意圖；圖5(b)是根據本專利技術實施例的一種可選的同一個老化系統中包含多個溫箱的示意圖；圖6(a)是根據本專利技術實施例的一種可選的溫箱系統中光源與樣品的示意圖；圖6(b)是根據本專利技術實施例的一種可選的溫箱系統中樣品與夾具的示意圖；圖6(c)是根據本專利技術實施例的一種可選的溫箱系統中光源的示意圖；圖6(d)是根據本專利技術實施例的一種可選的溫箱系統中平行光控制筒的示意圖；圖7是根據本專利技術實施例的一種可選的用于光學元件的透光度測試方法的流程圖；以及圖8是根據本專利技術實施例的另一種可選的用于光學元件的透光度測試方法的流程圖。具體實施方式為了使本
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【技術保護點】
一種用于光學元件的加速老化系統，其特征在于，包括：控溫臺或溫箱，用于在老化過程中，為放置在其中的待老化光學元件提供滿足預定溫度條件的溫度環境；溫度控制器，用于在預設時間段內控制所述控溫臺上或所述溫箱中的環境溫度，使所述環境溫度滿足所述預定溫度條件。

【技術特征摘要】
1.一種用于光學元件的加速老化系統，其特征在于，包括：控溫臺或溫箱，用于在老化過程中，為放置在其中的待老化光學元件提供滿足預定溫度條件的溫度環境；溫度控制器，用于在預設時間段內控制所述控溫臺上或所述溫箱中的環境溫度，使所述環境溫度滿足所述預定溫度條件。2.根據權利要求1所述的加速老化系統，其特征在于，所述加速老化系統還包括：光源，用于產生光照，為老化過程中的所述待老化光學元件提供滿足預定輻射照度條件的光照環境；輻射照度控制器，用于在所述預設時間段內控制所述光源照射到所述待老化光學元件上的輻射照度，使所述輻射照度滿足所述預定輻射照度條件。3.根據權利要求2所述的加速老化系統，其特征在于，所述加速老化系統還包括：平行光控制器，用于控制所述光源產生的光照能夠平行照射到所述待老化光學元件上。4.根據權利要求3所述的加速老化系統，其特征在于，所述加速老化系統還包括：光學透鏡，安裝在所述平行光控制器上，用于進一步控制所述光源產生的光照能夠平行照射到所述待老化光學元件上。5.根據權利要求3所述的加速老化系統，其特征在于，所述輻射照度控制器通過以下方式調節照射到所述待老化光學元件上的輻射照度：所述輻射照度控制器檢測照射到所述待老化光學元件上的輻射照度是否滿足所述預定輻射照度條件；若不滿足，則校正所述光源以調節照射到所述待老化光學元件上的輻射照度。6.根據權利要求3所述的加速老化系統，其特征在于，所述平行光控制器內設置有第一測試點和第二測試點，所述輻射照度控制器通過以下方式確定透過所述待老化光學元件的輻射照度：所述輻射照度控制器檢測照射到所述第一測試點上的輻射照度，得到第一輻射照度檢測值；所述輻射照度控制器檢測照射到所述第二測試點上的輻射照度，得到第二輻射照度檢測值；所述輻射照度控制器根據所述第一輻射照度檢測值和所述第二輻射照度檢測值確定所...

【專利技術屬性】
技術研發人員：瑪麗亞姆·雅思丹梅爾，威廉·凡德爾，葉懷宇，范供齊，錢誠，張國旗，
申請(專利權)人：常州市武進區半導體照明應用技術研究院，
類型：發明
國別省市：江蘇;32