溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。

本發明提供一種具有多個探頭單元的陣列檢測裝置，其中在陣列檢測裝置中安裝有多個探頭單元，從而一個探頭單元檢測特定的玻璃模型，另一個探頭單元交換探針卡用來對具有不同圖案線寬的另一個LCD玻璃進行檢測，以便能夠減少由于交換探針卡而產生的裝置的空置...
該專利屬于陽電子系統株式會社所有，僅供學習研究參考，未經過陽電子系統株式會社授權不得商用。

詳細技術文檔下載地址

溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。