溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
一種集成電路測試數據的處理方法，根據指定的測試項目、變化量極限及極限單位對任意兩份文件進行相應測試項目變化量計算、判別。根據記錄的各項參數值，在指定的兩份文件里自動進行搜索，生成所有器件相應測試項目變化量總匯報表，并根據極限值進行判斷；若有...該專利屬于北京時代民芯科技有限公司; 北京微電子技術研究所所有，僅供學習研究參考，未經過北京時代民芯科技有限公司; 北京微電子技術研究所授權不得商用。