一種集成電路測試數據的處理方法技術

一種集成電路測試數據的處理方法，根據指定的測試項目、變化量極限及極限單位對任意兩份文件進行相應測試項目變化量計算、判別。根據記錄的各項參數值，在指定的兩份文件里自動進行搜索，生成所有器件相應測試項目變化量總匯報表，并根據極限值進行判斷；若有未通過項目，自動生成未通過項目匯報表。本發明專利技術極大地縮短了工作時間，提高了變化量計算的準確性，提升了工作效率，并解決了本領域沒有相應數據分析工具的問題。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及，屬于集成電路測試
，適用于集成電路測試數據記錄生產方式。
技術介紹
高等級集成電路生產過程中，集成電路在封裝完畢后獲得唯一的序列號，在各種可靠性試驗后的測試環節或其他所需進行的測試環節測試時，均按照初始獲得的唯一序列號進行數據記錄。集成電路的性能不僅通過測試數據來進行性能的判別，同時，數據變化量對于器件性能的判別也起著重要的作用。解決任意兩批次測試數據相應測試項目測試數值變化量的計算問題，可以對集成電路性能的判別起著進一步的確認作用。早期集成電路設計規模小，測試項目少，每批次器件數量不多，需要對比的測試項目也僅有一項，這種條件下，通常人工進行數據對比:按照器件序列號在實驗前后的兩份收據中尋找相同的測試項目，提取出兩項數值，人工計算出變化量，再根據產品手冊的變化量極限，判斷變化量是否在范圍內。隨著集成電路技術的發展，集成電路規模越來越大，管腳越來越多，測試項目也逐漸豐富，批次器件數量也成幾何方式增加，這種情況下，再使用人工數據提取、計算、判別工作量大的同時也易出現人為錯誤。目前國內在集成電路測試領域使用較多的集成電路測試儀主要是ADVANTEST公司、Teradyne等公司的設備。Teradyne公司的J750超大規模數模混合測試儀由于其資源配置豐富，可實現“零占地”的要求，在集成電路設計、研發、測試企業廣泛使用。J750可生成便于批次數據統計的格式文件，具有進行批次數據統計的功能，但對于兩份數據文件相同測試項目數據的提取、比對、變化量計算則沒有相應的解決工具。
技術實現思路
本專利技術的技術解決問題是:克服現有技術的不足，提供了，解決集成電路生產過程中，需要進行測試項目變化量計算時，人工提取數據并計算變化量效率低、易出錯，同時集成電路測試設備不具備進行此類數據處理的問題。本專利技術的技術解決方案是:，包括以下步驟:( I)對待測批次的集成電路芯片按照各集成電路芯片的器件號進行N次測試，生成N個測試數據文件，N為正整數且N大于等于2 ；(2)將需要進行數據提取的測試數據文件的文件名、進行變化量計算的測試項目、變化量極限值和極限單位一次性記錄在第一臨時文件中；(3)根據所述第一臨時文件中的需要進行數據提取的測試數據文件在步驟(I)中生成的多個測試數據文件找到對應的兩個測試數據文件，在該兩個對應的測試數據文件中，根據第一臨時文件中的需要進行變化量計算的測試項目分別進行數據搜索，將目標數據提取出來；(4)將步驟(3)中提取出來的兩個測試數據文件中的目標數據按照所述第一臨時文件中的極限單位進行測試數據單位的變換，生成統一單位的測試數據并分別保存在第二臨時文件和第三臨時文件中；(5)將所述第二臨時文件和第三臨時文件中相同器件號下的相同測試項目下的數據進行變化量計算，將變化量計算結果寫入第四臨時文件；(6)將所述第一臨時文件中的變化量極限值與第四臨時文件中的變化量計算結果進行比較，若第四臨時文件中的變化量計算結果小于等于所述第一臨時文件中的變化量極限值，則將該變化量計算結果所對應的器件號、測試數據和變化量計算結果本身存儲到總匯報表中；若第四臨時文件的變化量計算結果大于所述第一臨時文件中的變化量極限值，則將該變化量計算結果所對應的器件號、測試數據和變化量計算結果本身同時存儲到總匯報表和未通過項目匯報表，且在總匯報表中相應的變化量計算結果后寫入標志F。所述需要進行數據提取的測試數據文件的文件名為2個。所述步驟(I)中每個集成電路芯片在同一個測試數據文件中最多包含一次測試數據結果。所述步驟(5)將所述第二臨時文件和第三臨時文件中相同器件號下的相同測試項目下的數據進行變化量計算，具體為:先將所述第二臨時文件和第三臨時文件中相同器件號下的相同測試項目下的數據進行求差計算，再取絕對值。本專利技術與現有技術相比的有益效果是:(I)本專利技術數據處理過程中所需的所有參數，包括測試數據文件名、進行變化量計算的測試項目、變化量極限值、變化量極限單位，在初始時進行一次性記錄，在轉換過程中自動進行各類測試數據的提取、計算、判別，不需再次進行人工干預，一次性完成變化量計算及判別的全部任務，具有良好的可操作性。(2)本專利技術對于測試項目的數值提取、變化量計算、極限值判斷完全采用自動進行的方式，避免了人工操作時容易產生人為錯誤，減輕了人工工作量，縮短了工作時間，同時提高了變化量計算的穩定性與準確性；(3)本專利技術所進行的變化量計算方式，不僅針對某一試驗前后的兩次測試數據，同時可以使用多次測試中的任意兩份測試數據進行計算，只要是同一器件同一測試項目，就可進行數據提取、變化量計算，具有通用性。(4)本專利技術對于最終結果自動生成匯報報表，對于每器件的所指定測試項均有準確的變化量，同時若有超過變化量極限值的測試項目，另外還會單獨生成一份未通過項目匯報表，便于數據的后期分析，提高工作效率。(5)本專利技術解決了集成電路測試領域沒有數據變化量計算工具的問題，可以快速、準確地計算數據變化量。附圖說明圖1是本方法生成第一臨時文件的過程示意圖。圖2是本方法在兩份數據文件中尋找相應器件號的過程示意圖。圖3是本方法提取各器件測試項目測試數值的過程示意圖。圖4是本方法進行變化量計算、判別及生成匯總報表及未通過項目匯報表的過程示意圖。具體實施例方式本專利技術提供了一種能夠實現提取不同測試數據文件中相應測試項目數據并計算變化量的方法，特別是針對同一器件不同測試環節下的實際需求，能夠進行多種類測試項目的數據提取及變化量計算，并根據設置的極限值進行通過與否的判斷，屬于集成電路測試
，適用于集成電路測試數據記錄生產方式。該方法按照集成電路器件號提取指定的數據文件中要求的測試項數據，計算變化量、判別極限。本專利技術方法的步驟如下:，其特征在于包括以下步驟:( I)對待測批次的集成電路芯片按照各集成電路芯片的器件號進行N次測試，生成N個測試數據文件，N為正整數且N大于等于2 ;每個集成電路芯片在同一個測試數據文件中最多包含一次測試數據結果。(2)按照圖1所示，根據本方法實施在計算機內的存儲位置，獲取當前的計算機存儲路徑。所有臨時文件及最終結果文件將在此目錄下產生。第一臨時文件中所有變量賦初始值NULL。將需要進行數據提取的測試數據文件的文件名、進行變化量計算的測試項目、變化量極限值和極限單位一次性記錄在第一臨時文件中；所述需要進行數據提取的測試數據文件的文件名為2個。如果退出本方法，則刪除第一臨時文件。(3)按照圖2，根據所述第一臨時文件中的需要進行數據提取的測試數據文件名在步驟(I)中生成的多個測試數據文件找到對應的兩個測試數據文件，在該兩個對應的測試數據文件中，根據第一臨時文件中的需要進行變化量計算的測試項目分別進行數據搜索，將目標數據提取出來。具體為首先對文件2按行搜索器件號關鍵字“Device”。找到文件2中第一個器件號后，在文件I中進行相同器件號的搜索。因為試驗后的文件2中器件數量通常會少于文件I中的器件數量，所以從文件2開始搜索。按照器件號，分別從文件1、2中提取步驟(I)中指定的測試項目的數值。(4)按照圖3，將步驟(3)中提取出來的兩個測試數據文件中的目標數據按照所述第一臨時文件中的極限單位進行測試數據單位的變換，生成統一單位的測試數據并分別保存在第二臨時文件和第本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種集成電路測試數據的處理方法，其特征在于包括以下步驟：（1）對待測批次的集成電路芯片按照各集成電路芯片的器件號進行N次測試，生成N個測試數據文件，N為正整數且N大于等于2；（2）將需要進行數據提取的測試數據文件的文件名、進行變化量計算的測試項目、變化量極限值和極限單位一次性記錄在第一臨時文件中；（3）根據所述第一臨時文件中的需要進行數據提取的測試數據文件在步驟（1）中生成的多個測試數據文件找到對應的兩個測試數據文件，在該兩個對應的測試數據文件中，根據第一臨時文件中的需要進行變化量計算的測試項目分別進行數據搜索，將目標數據提取出來；（4）將步驟（3）中提取出來的兩個測試數據文件中的目標數據按照所述第一臨時文件中的極限單位進行測試數據單位的變換，生成統一單位的測試數據并分別保存在第二臨時文件和第三臨時文件中；（5）將所述第二臨時文件和第三臨時文件中相同器件號下的相同測試項目下的數據進行變化量計算，將變化量計算結果寫入第四臨時文件；（6）將所述第一臨時文件中的變化量極限值與第四臨時文件中的變化量計算結果進行比較，若第四臨時文件中的變化量計算結果小于等于所述第一臨時文件中的變化量極限值，則將該變化量計算結果所對應的器件號、測試數據和變化量計算結果本身存儲到總匯報表中；若第四臨時文件的變化量計算結果大于所述第一臨時文件中的變化量極限值，則將該變化量計算結果所對應的器件號、測試數據和變化量計算結果本身同時存儲到總匯報表和未通過項目匯報表，且在總匯報表中相應的變化量計算結果后寫入標志F。...

【技術特征摘要】
1.一種集成電路測試數據的處理方法，其特征在于包括以下步驟: (1)對待測批次的集成電路芯片按照各集成電路芯片的器件號進行N次測試，生成N個測試數據文件，N為正整數且N大于等于2 ； (2)將需要進行數據提取的測試數據文件的文件名、進行變化量計算的測試項目、變化量極限值和極限單位一次性記錄在第一臨時文件中； (3)根據所述第一臨時文件中的需要進行數據提取的測試數據文件在步驟(I)中生成的多個測試數據文件找到對應的兩個測試數據文件，在該兩個對應的測試數據文件中，根據第一臨時文件中的需要進行變化量計算的測試項目分別進行數據搜索，將目標數據提取出來； (4)將步驟(3)中提取出來的兩個測試數據文件中的目標數據按照所述第一臨時文件中的極限單位進行測試數據單位的變換，生成統一單位的測試數據并分別保存在第二臨時文件和第三臨時文件中； (5)將所述第二臨時文件和第三臨時文件中相同器件號下的相同測試項目下的數據進行變化量計算，將變化量計算結果寫入第四臨時文件； (6)將所述第一臨時文件中的變化量極限值與第四臨時文件中的變化...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張小孟，李鑫，劉利新，練濱浩，姚全斌，
申請(專利權)人：北京時代民芯科技有限公司， 北京微電子技術研究所，
類型：發明
國別省市：北京;11