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本發(fā)明公開(kāi)了一種集成電路最長(zhǎng)可測(cè)路徑選擇測(cè)試方法及系統(tǒng)，涉及數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，本發(fā)明通過(guò)對(duì)集成電路進(jìn)行預(yù)處理，獲得了所述集成電路中的所有b-f段，避免了回溯，降低了在路徑選擇時(shí)，減少了對(duì)部分路徑的測(cè)試次數(shù)，大大提高了集成電路最大路徑...該專利屬于清華大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)清華大學(xué)授權(quán)不得商用。