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本發(fā)明提供一種應(yīng)用于內(nèi)存模組在主板上測試的供電電壓的調(diào)整方法，主要解決了現(xiàn)有技術(shù)不具備電壓調(diào)節(jié)功能或現(xiàn)有調(diào)節(jié)方法已損壞主板、不穩(wěn)定、無法進(jìn)行性能調(diào)試的問題。該應(yīng)用于內(nèi)存模組在主板上測試的供電電壓的調(diào)整方法主要包括連線、測試以及上電檢測等步驟...該專利屬于西安華芯半導(dǎo)體有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過西安華芯半導(dǎo)體有限公司授權(quán)不得商用。