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本發(fā)明公開了一種磁盤陣列測試方法：確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；獲取每個磁盤分別對應(yīng)的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應(yīng)的磁盤中的信號處理部分；用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；向所述磁盤陣列發(fā)送測試信號，并獲取所述磁盤陣...該專利屬于創(chuàng)新科存儲技術(shù)有限公司;創(chuàng)新科存儲技術(shù)（深圳）有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過創(chuàng)新科存儲技術(shù)有限公司;創(chuàng)新科存儲技術(shù)（深圳）有限公司授權(quán)不得商用。