一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列技術

本發明專利技術公開了一種磁盤陣列測試方法：確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；獲取每個磁盤分別對應的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分；用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；向所述磁盤陣列發送測試信號，并獲取所述磁盤陣列對接收到的測試信號進行處理后返回的測試結果。本發明專利技術同時公開了一種磁盤陣列。應用本發明專利技術所述方案，能夠提高測試結果的準確性。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及測試技術，特別涉及一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列。
技術介紹
磁盤陣列(RAID,Redundant Arrays of Inexpensive Disks)是指由一系列價格較便宜、容量較小、穩定性較高、速度較慢的磁盤組合而成的一個大型的磁盤組。利用同樣的一系列磁盤，如4個磁盤，通過不同的組合方式，可以得到不同的磁盤陣列，對于得到的各不同磁盤陣列，通常還需要對其進行測試，以確定其性能是否符合要求坐寸ο可以看出，如果要對組合得到的各不同磁盤陣列的性能進行測試，上述4個磁盤就會被不斷的重復利用，即上述4個磁盤將一直處于高速運轉狀態，從而可能導致出現以下問題I)磁盤的溫度不斷升高，從而可能影響到磁頭的電阻感應靈敏度，進而產生讀寫錯誤;2)磁盤在高速運轉過程中，由于振動等原因，磁頭可能會撞擊到盤片，從而導致盤片壞軌或磁頭損壞；無論出現上述哪種情況，均會影響測試結果，導致測試結果不準確。
技術實現思路
有鑒于此，本專利技術提供了一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列，能夠提高測試結果的準確性。為達到上述目的，本專利技術的技術方案是這樣實現的一種磁盤陣列測試方法，包括確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；獲取每個磁盤分別對應的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分；用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；向所述磁盤陣列發送測試信號，并獲取所述磁盤陣列對接收到的測試信號進行處理后返回的測試結果。一種磁盤陣列，包括兩個以上磁盤模擬卡；每個磁盤模擬卡，分別用于替代對應的磁盤得到所述磁盤陣列，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分?？梢?，采用本專利技術所述方案，可利用磁盤模擬卡來替代磁盤得到待測試的磁盤陣列，磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分，即去除了磁頭、電機、電機驅動芯片等機械部件，從而避免了出現現有技術中的問題，進而提高了測試結果的準確性。附圖說明圖1為本專利技術磁盤陣列測試方法實施例的流程圖。圖2為現有磁盤的組成結構示意圖。圖3為本專利技術磁盤模擬卡的組成結構示意圖。具體實施例方式針對現有技術中存在的問題，本專利技術中提出一種改進后的磁盤陣列測試方法以及一種改進后的磁盤陣列，相比于現有技術，能夠提高測試結果的準確性。為了使本專利技術的技術方案更加清楚、明白，以下參照附圖并舉實施例，對本專利技術所述方案作進一步地詳細說明。圖1為本專利技術磁盤陣列測試方法實施例的流程圖。如圖1所示，包括步驟11 :確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤。本步驟中，確定要得到待測試的磁盤陣列，需要用到哪些磁盤，其具體實現為現有技術。步驟12 :獲取每個磁盤分別對應的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分。圖2為現有磁盤的組成結構示意圖。如圖2所示，包括接口、微處理器、高速緩存、數字信號處理器、前置信號處理器、電機驅動芯片、主軸電機、音圈電機、磁頭等。其中，接口、微處理器、高速緩存、數字信號處理器和前置信號處理器為信號處理部分，主要用于進行信號處理；電機驅動芯片、主軸電機、音圈電機和磁頭等為機械部分，主要用于進行數據的存儲及讀取?？舍槍γ總€磁盤，分別生成一個對應的磁盤模擬卡，其中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分，即去除了機械部分。圖3為本專利技術磁盤模擬卡的組成結構示意圖?？梢钥闯?，相比于圖2所示磁盤，去除了虛線框內的組成部分，即將圖2中除虛線框內的組成部分之外的其它組成部分均集成到了磁盤模擬卡中。步驟13 :用獲取到的各磁盤模擬卡得到待測試的磁盤陣列。在實際應用中，可將各磁盤模擬卡設置在待測試的磁盤陣列主板的背板上，如果未用磁盤模擬卡替代磁盤的話，磁盤也應該設置在該位置。步驟14 向待測試的磁盤陣列發送測試信號，并獲取待測試的磁盤陣列對接收到的測試信號進行處理后返回的測試結果。本步驟中，測試設備如計算機向待測試的磁盤陣列發送測試信號，待測試的磁盤陣列接收到測試信號后，對其進行處理，并將處理結果即測試結果返回給測試設備。另外，測試設備在獲取到測試結果之后，還可進一步進行以下處理確定獲取到的測試結果是否為所需的測試結果，如果是，則利用獲取到的測試結果對待測試的磁盤陣列的性能進行評估，否則，報告產生故障。對于測試設備來說，針對其發出的測試信號，其預先知道如果是磁盤組合而成的磁盤陣列的話，應該返回什么測試結果，所以如何獲取到的測試結果和預期的測試結果不一致，則可報告產生故障。測試設備獲取到所需的測試結果后，可利用其對待測試的磁盤陣列的性能進行評估，如評估待測試的磁盤陣列處理信號所用的時長等?；谏鲜鼋榻B，本專利技術同時公開了一種磁盤陣列，其中包括兩個以上磁盤模擬卡。每個磁盤模擬卡，分別用于替代對應的磁盤得到所述磁盤陣列，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分。 每個磁盤模擬卡均位于所述磁盤陣列主板的背板上?？傊?，采用本專利技術所述方案，可利用磁盤模擬卡來替代磁盤得到待測試的磁盤陣列，磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分，即去除了磁頭、電機、電機驅動芯片等機械部件，從而避免了出現現有技術中的問題，進而提高了測試結果的準確性。而且，通常來說，磁盤本身質量較大，因此如果磁盤陣列中包括很多磁盤的話，磁盤陣列的質量就會很大，從而不便于進行測試，而磁盤模擬卡的質量則較小，從而更加便于進行測試。以上所述僅為本專利技術的較佳實施例而已，并不用以限制本專利技術，凡在本專利技術的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本專利技術保護的范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種磁盤陣列測試方法，其特征在于，包括：確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；獲取每個磁盤分別對應的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分；用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；向所述磁盤陣列發送測試信號，并獲取所述磁盤陣列對接收到的測試信號進行處理后返回的測試結果。

【技術特征摘要】
1.一種磁盤陣列測試方法，其特征在于，包括確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；獲取每個磁盤分別對應的磁盤模擬卡，每個磁盤模擬卡中僅保留有對應的磁盤中的信號處理部分；用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；向所述磁盤陣列發送測試信號，并獲取所述磁盤陣列對接收到的測試信號進行處理后返回的測試結果。2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述測試結果之后，進一步包...

【專利技術屬性】
技術研發人員：李文杰，
申請(專利權)人：創新科存儲技術有限公司，創新科存儲技術深圳有限公司，
類型：發明
國別省市：