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本發(fā)明公開一種耦合腔行波管用損耗紐扣的測(cè)試工裝及其測(cè)試方法，包括底板和設(shè)置在底板兩端上的側(cè)板以及設(shè)置側(cè)板上的蓋板，底板、兩側(cè)板以及蓋板構(gòu)成模擬耦合腔體，在模擬耦合腔體內(nèi)的兩側(cè)板上分別設(shè)置有用于放置待側(cè)損耗紐扣的吸收腔，模擬耦合腔體的兩端口為...該專利屬于安徽華東光電技術(shù)研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過安徽華東光電技術(shù)研究所授權(quán)不得商用。