本發明專利技術公開一種耦合腔行波管用損耗紐扣的測試工裝及其測試方法，包括底板和設置在底板兩端上的側板以及設置側板上的蓋板，底板、兩側板以及蓋板構成模擬耦合腔體，在模擬耦合腔體內的兩側板上分別設置有用于放置待側損耗紐扣的吸收腔，模擬耦合腔體的兩端口為標準測試接口，兩標準測試接口直接與標量網絡儀或矢量網絡儀兩個接口連接，通過使用標量網絡分析儀、失量網絡分析儀直接測量S參數得到測量結果。本發明專利技術具有通用性，接口設計為符合國家標準的標準接口，可使用標量網絡儀或矢量網絡儀直接測試S參數，測試結果可在行波管中直接應用，能夠滿足對損耗紐扣特性的精確測量，具有測試通用性，測試方便、精確，提高了損耗紐扣的吸收效果和使用效果。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及的是一種微波真空器件及材料領域，具體涉及一種用于耦合腔行波管的損耗紐扣的測試工裝及其測試方法。
技術介紹
在微波真空器件領域中，行波管是應用最廣泛的器件。行波管根據慢波系統，大致分為兩種，即螺旋線行波管和耦合腔行波管。螺旋線行波管具有帶寬寬的特點，但功率容量小，適用于寬帶中小功率行波管。耦合腔行波管具有大功率容量的優點，但帶寬較窄，一般在10%以下。大功率耦合腔行波管在使用過程中易產生振蕩，克服振蕩成為大功率耦合腔行波管穩定工作的一項重要研究內容。而采用損耗紐扣吸收振蕩微波功率是一種有效的防止耦合腔行波管振蕩的方法，目前被廣泛采用，但目前未有對損耗紐扣的精確測量，因此直接影損耗紐扣的吸收效果和使用效果，故對損耗紐扣的精確測量成為耦合腔行波管慢波設計的一項重要工作內容。
技術實現思路
針對現有技術上存在的不足，本專利技術目的是在于提供一種測試方便、精確的耦合腔行波管用損耗紐扣的測試工裝及其測試方法，提高了損耗紐扣的吸收效果和使用效果。為了實現上述目的，本專利技術是通過如下的技術方案來實現 一種耦合腔行波管用損耗紐扣的測試工裝，其特征在于，其包括底板和設置在底板兩端上的側板以及設置側板上的蓋板，所述底板、兩側板以及蓋板構成模擬耦合腔體，在所述模擬耦合腔體內的兩側板上分別設置有用于放置待側損耗紐扣的吸收腔，所述模擬耦合腔體的兩端口為標準測試接口，兩所述標準測試接口直接與標量網絡儀或矢量網絡儀兩個接口連接，用于測量S參數，通過使用標量網絡分析儀、失量網絡分析儀直接測量S參數得到測量結果。所述標準測試接口可以參考相關國家標準，其中，如X波段為BJ100波導，其標稱尺寸為22. 86X10. 16。測試頻率范圍為8. 2 12. 4GHz。一種耦合腔行波管用損耗紐扣的測試方法，其方法為首先建立模擬損耗紐扣在耦合腔中的工作模式，底板、設置在底板兩端的兩側板以及設置在兩側板上的蓋板構成模擬耦合腔體，該模擬耦合腔體兩側端采用了標準測試接口，在模擬耦合腔體內的兩側板上的吸收腔內放置待測損耗紐扣；然后通過標準測試接口直接與標量網絡分析儀、失量網絡分析儀的兩端口相連接，通過標量網絡分析儀、失量網絡分析儀直接測量S參數，即直接測試損耗紐扣的吸收頻率、吸收量，測試結果可以直接在行波管中應用。作為優選，標準測試接口采用符合國家標準的波導接口。如X波段可以采用BJ100標準波導接口，測量頻率范圍為8. 2 12. 4GHz。模擬耦合腔行波管中TMOl工作模式，可以使用標量網絡分析儀、失量網絡分析儀直接測量S參數得到測量結果。根據測試結果，可以計算吸收紐扣的材料特性，如介電常數和損耗正切值，進一步改進設計。測試結果可以用于修正設計的損耗紐扣。當測試結果與設計要求不吻合時，以測試結果為準，并根據測試結果修正設計，改變損耗紐扣的材料、尺寸等，重新測試，直到測試結果滿足設計要求。本專利技術通過上述測試工裝和測試方法，可以覆蓋所有頻段耦合腔行波管的損耗紐扣，不同的工作頻段僅需改變耦合口和波導尺寸，設計不同尺寸的工裝，測試方法是同樣的，工作頻率和波導尺寸參考相關國家標準；并能夠滿足對損耗紐扣特性的精確測量，具有測試通用性，測試方便、精確，提高了損耗紐扣的吸收效果和使用效果模擬吸收器在耦合腔中的工作模式，直接測試吸收器的吸收頻率、吸收量，測試結果可以直接在行波管中應用。附圖說明下面結合附圖和具體實施方式來詳細說明本專利技術； 圖1為本專利技術的耦合腔行波管用損耗紐扣的測試工裝的結構示意 圖2為圖1的A-A剖視 圖3為本專利技術側板的結構示意圖。具體實施例方式 為使本專利技術實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體實施方式，進一步闡述本專利技術。參見圖1和圖2，本專利技術的一種耦合腔行波管用損耗紐扣的測試工裝，其包括底板I和設置在底板I兩端上的側板2以及設置側板2上的蓋板6，該底板I和蓋板6分別通過固定螺絲4固定在兩側板2的上下兩側邊上，構成一呈“ 口”字形的模擬耦合腔體，本實施例中，兩側板距離為22. 86cm，高度為10.16cm，即形成的“口”字形的模擬耦合腔體的端口尺寸。參見圖3，在所述模擬耦合腔體內的兩側板2上分別設置有用于放置待側損耗紐扣的吸收腔21，所述模擬耦合腔體的兩端口為標準測試接口，標準測試接口為X波段BJ100波導口的標稱尺寸，即22.86X10. 16。兩所述標準測試接口直接與標量網絡儀或矢量網絡儀兩個接口連接，用于測量S參數，得到在要求頻率范圍的S參數，從S參數直接可以得到吸收量、吸收頻率峰值，吸收帶寬等參數。本實施例通過上述測試工裝，測試耦合腔行波管用損耗紐扣的測試方法，其方法為首先建立模擬損耗紐扣在耦合腔中的工作模式，底板1、設置在底板I兩端的兩側板2以及設置在兩側板2上的蓋板6構成模擬耦合腔體，該模擬耦合腔體兩側端采用了標準測試接口，在模擬耦合腔體內的兩側板上的吸收腔內放置待測損耗紐扣；然后通過標準測試接口直接與標量網絡分析儀、失量網絡分析儀的兩端口相連接，通過標量網絡分析儀、失量網絡分析儀直接測量S參數，即直接測試損耗紐扣的吸收頻率、吸收量，測試結果可以直接在行波管中應用。X波段可以采用BJ100標準波導接口，測量頻率范圍為8. 2 12. 4GHz。模擬耦合腔行波管中TMOl工作模式，可以使用標量網絡分析儀、失量網絡分析儀直接測量S參數得到測量結果。根據測試結果，可以計算吸收紐扣的材料特性，如介電常數和損耗正切值，進一步改進設計。測試結果可以用于修正設計的損耗紐扣，當測試結果與設計要求不吻合時，以測試結果為準，并根據測試結果修正設計，改變損耗紐扣的材料、尺寸等，重新測試，直到測試結果滿足設計要求。本實施例的測試方法、工裝與被測的材料無關，不同的吸收材料均可以用同樣的方法測試。本專利技術采用標準波導和接口，在波導內壁設計吸收小腔放入損耗紐扣，模擬耦合腔中的TMOl模式。測試結果可以直接在耦合腔中應用，可以有效防止行波管的振蕩。對吸收紐扣的測試，成為耦合腔行波管慢波設計的一個關鍵環節。本測試方法具有通用性，接口設計為標準接口，可以使用標量網絡儀或矢量網絡儀進行直接測試S參數，測試結果可以在行波管中直接應用；并可以覆蓋所有頻段耦合腔行波管的損耗紐扣，不同的工作頻段僅需改變耦合口和波導尺寸，測試方法是同樣的。以上顯示和描述了本專利技術的基本原理和主要特征和本專利技術的優點。本行業的技術人員應該了解，本專利技術不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本專利技術的原理，在不脫離本專利技術精神和范圍的前提下，本專利技術還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本專利技術范圍內。本專利技術要求保護范圍由所附的權利要求書及其等效物界定。本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種耦合腔行波管用損耗紐扣的測試工裝，其特征在于，其包括底板和設置在底板兩端上的側板以及設置側板上的蓋板，所述底板、兩側板以及蓋板構成模擬耦合腔體，在所述模擬耦合腔體內的兩側板上分別設置有用于放置待側損耗紐扣的吸收腔，所述模擬耦合腔體的兩端口為標準測試接口，兩所述標準測試接口直接與標量網絡儀或矢量網絡儀兩個接口連接，通過測量S參數得到測量結果。
【技術特征摘要】
1.一種耦合腔行波管用損耗紐扣的測試工裝，其特征在于，其包括底板和設置在底板兩端上的側板以及設置側板上的蓋板，所述底板、兩側板以及蓋板構成模擬耦合腔體，在所述模擬耦合腔體內的兩側板上分別設置有用于放置待側損耗紐扣的吸收腔，所述模擬耦合腔體的兩端口為標準測試接口，兩所述標準測試接口直接與標量網絡儀或矢量網絡儀兩個接口連接，通過測量S參數得到測量結果。2.根據權利要求1所述的一種耦合腔行波管用損耗紐扣的測試工裝，其特征在于，所述標準測試接口采用符合國家標準的接口，其中，在X波段選用BJ100標準波導口，測量頻率范圍為8. 2 12. 4GHz。3.一種耦合腔行波管用損耗...
【專利技術屬性】
技術研發人員：沈旭東，王昊，吳磊，余峰，
申請(專利權)人：安徽華東光電技術研究所，
類型：發明
國別省市：
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