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本發明涉及電子設備技術領域，尤其涉及一種晶振負阻抗的檢測電路和方法，通過在設置好頻偏的待檢測芯片的輸入端和輸出端之間串聯可變的電阻及內阻小于該待檢測芯片負性阻抗絕對值的檢測晶振，給待檢測芯片上電后，經過從小至大改變可變電阻阻值，當檢測到待檢...
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