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一種制造集成電路的方法,包括:提供半導體襯底并且在該半導體襯底的上方形成柵極電介質(例如,高-k電介質)。在半導體襯底和柵極電介質的上方形成金屬柵極結構,并且在該金屬柵極結構的上方形成薄電介質膜。該薄電介質膜包含與金屬柵極的金屬相結合的氮氧...該專利屬于臺灣積體電路制造股份有限公司所有,僅供學習研究參考,未經過臺灣積體電路制造股份有限公司授權不得商用。
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一種制造集成電路的方法,包括:提供半導體襯底并且在該半導體襯底的上方形成柵極電介質(例如,高-k電介質)。在半導體襯底和柵極電介質的上方形成金屬柵極結構,并且在該金屬柵極結構的上方形成薄電介質膜。該薄電介質膜包含與金屬柵極的金屬相結合的氮氧...