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本實(shí)用新型的一種自動(dòng)檢測(cè)扎針的設(shè)備，包括支架、扎針裝置、第一待測(cè)元件，第二待測(cè)元件、電阻，量測(cè)儀器和統(tǒng)計(jì)裝置，所述第一待測(cè)元件通過(guò)所述電阻與所述第二待測(cè)元件連接，第一待測(cè)元件和第二待測(cè)元件設(shè)于所述支架上，所述扎針裝置設(shè)于所述支架一端的一側(cè)，...該專利屬于上海華力微電子有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)上海華力微電子有限公司授權(quán)不得商用。