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公開了用于在非易失性存儲設備中同時驗證或讀取多個狀態的方法和設備。公開了用于有效減小或排除非易失性存儲設備中的交叉耦合效應的方法和設備。公開了用于在多個電壓處有效執行讀取以搜索存儲單元的閾值電壓的方法和設備。在同一時刻讀取的不同NAND串上...
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