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一種分析儀器特別是分光光度計(jì)的樣本標(biāo)示用的樣本全部信息讀寫記憶芯片卡環(huán)。它由帶彈性部分的卡環(huán)，內(nèi)嵌24系列記憶芯片的部分，以及記憶芯片讀寫的I2C總線的外接信號(hào)插頭部分組成。它用于記錄單個(gè)樣本的全部測(cè)試信息，如名稱，序號(hào)，方法，方法參數(shù)，以...該專利屬于劉可滇所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過劉可滇授權(quán)不得商用。