分析儀器試管及比色皿樣本信息讀寫記憶芯片卡環制造技術

一種分析儀器特別是分光光度計的樣本標示用的樣本全部信息讀寫記憶芯片卡環。它由帶彈性部分的卡環，內嵌24系列記憶芯片的部分，以及記憶芯片讀寫的I2C總線的外接信號插頭部分組成。它用于記錄單個樣本的全部測試信息，如名稱，序號，方法，方法參數，以及檢測過程數據及檢測結果，包括記憶連續時間檢測及全頻譜掃描的全部數據。它可以重復使用，也可以長期保存測試結果。它克服了條形碼信息及文字印刷信息的局限性和缺點。用于存儲樣本的全部測試信息，包括條形碼及文字印刷所不能反映的全部樣本檢測信息。在分析儀器上用以替代以往傳統的樣本條形碼信息及樣本文字印刷信息技術。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及各種分析儀器試管和比色皿的樣本信息讀寫記憶芯片卡環(后簡稱記憶芯片卡環)，適用于各種分光光度計及分析儀的試管及比色皿的樣本全部信息讀寫存儲。技術背景目前，分析類儀器特別是各種分光光度計的樣本試管及比色皿的標識信息都是使用條形碼，這些條碼由打印機打印，再由條碼掃描設備讀出。由于條形碼的信息很有限，最多十余個字母和數字，之后的檢測結果也不可以反映于其上。并且，條形碼的讀出設備對于儀器整體來說造價高，體積大，條碼標準也不統一，諸多原因，使得條形碼在試管及比色皿 的標識信息上有極大的局限性，特別是在今天的信息時代的技術應用更顯得性能落后和缺失。使用更有效率的信息標示技術的存儲芯片代替條形碼是目前最高性價比的解決方案。
技術實現思路
為了克服現有的試管及比色皿的標識信息都是使用條形碼的多方面的缺點和局限性，本技術所專利技術的技術方案是一個卡環帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內置24系列記憶芯片，以及記憶芯片讀寫的I2C總線的外接信號插頭部分。本技術的技術方案為解決條形碼的使用局限，缺陷及低性能，本技術采用一種分析儀器試管及比色皿樣本信息讀寫記憶芯片卡環，其技術方案是憶芯片卡環帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內置24系列記憶芯片，以及記憶芯片讀寫的I2C總線的外接信號插頭部分，可以重復使用，可以長期保存測試結果，用以替代以往傳統的條形碼信息及文字印刷 目息。本技術其技術特征是用于記錄樣本的全部測試信息，名稱，序號，方法，方法參數，以及用以記憶每個樣本的檢測過程數據及檢測結果，其包括連續時間檢測及全頻譜掃描的全部數據。24系列集成電路記憶芯片(例如24C02，24C512等等型號)，將其嵌入具有彈性的卡環，做成外露插頭的一體卡環。使用時卡在樣本試管及比色皿上。使用前由操作者通過計算機將樣本信息寫入記憶芯片，檢測時芯片卡與樣本器皿放置的同時插街道在儀器內置的接口插座。儀器自動讀出識別樣本的標示信息，根據其要求進行檢測，待檢測結束后結果由儀器自動存入記憶芯片。取出樣本器皿時，記憶卡同時拔出。其可以由樣本用戶自己重新讀出結果，轉存，分析和長期保存。記憶片的讀寫設備或接口技術非常簡單，通用，成本低，常用I2C總線。記憶芯片的信息容量從128字節到64Κ字節甚至更大范圍可選。滿足幾乎所有樣本及檢測方法的信息存儲需要。本技術的有益效果是不同于條形碼所反映的簡單名稱序號信息，本技術使得全部完整的樣本檢測前后的全量信息可因其得以全面記錄和使用。并且省略了分析類儀器為條形碼讀取所設計安裝的復雜的機械，光學電子裝置，為此極大地節省了儀器的空間和由條形碼所引入的儀器多方面的制造和使用成本。附圖說明以下結合附圖和實施例對本技術進一步說明。圖I是本技術的原理圖。圖2是樣本信息讀寫記憶芯片卡環示意圖。具體實施方式圖I中I.樣本試管或比色皿，2.內嵌24系列記憶芯片，具外插頭的卡環，3.對外·信號插頭，4. I2C總線插座，5.儀器(分光光度計)的電子電路部分。圖2中I.記憶芯片卡環的彈性部分，2.內嵌24系列記憶芯片的部分，3.內置記憶芯片的I2C總線的外接信號插頭部分。在圖I中記憶芯片卡環⑵內置24系列記憶芯片，樣本檢測之前，將該樣本的序號，名稱及方法參數寫入內置24系列記憶芯片中，將其卡在(I)樣本試管或比色皿一起。將樣本試管或比色皿放置分析儀器的檢測位，同時記憶芯片卡環的信號插頭正確插入(4)儀器的I2C總線插座中，以連接電路。儀器開始自動或手動檢測該樣本。檢測結束后，全部結果信息寫入記憶芯片卡環內，連同樣本試管或比色皿一同取出，以備用戶長期存儲和讀取。權利要求1.一種分析儀器試管及比色皿樣本信息讀寫記憶芯片卡環，其技術特征是記憶芯片卡環帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內置24系列記憶芯片，以及記憶芯片讀寫的I2C總線的外接信號插頭部分。專利摘要一種分析儀器特別是分光光度計的樣本標示用的樣本全部信息讀寫記憶芯片卡環。它由帶彈性部分的卡環，內嵌24系列記憶芯片的部分，以及記憶芯片讀寫的I2C總線的外接信號插頭部分組成。它用于記錄單個樣本的全部測試信息，如名稱，序號，方法，方法參數，以及檢測過程數據及檢測結果，包括記憶連續時間檢測及全頻譜掃描的全部數據。它可以重復使用，也可以長期保存測試結果。它克服了條形碼信息及文字印刷信息的局限性和缺點。用于存儲樣本的全部測試信息，包括條形碼及文字印刷所不能反映的全部樣本檢測信息。在分析儀器上用以替代以往傳統的樣本條形碼信息及樣本文字印刷信息技術。文檔編號G01N21/31GK202711714SQ201220046639公開日2013年1月30日 申請日期2012年2月14日 優先權日2012年2月14日專利技術者劉可滇 申請人:劉可滇本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種分析儀器試管及比色皿樣本信息讀寫記憶芯片卡環，其技術特征是：記憶芯片卡環帶有用于卡在樣本試管或比色皿上的彈性部分，內置24系列記憶芯片，以及記憶芯片讀寫的I2C總線的外接信號插頭部分。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：劉可滇，
申請(專利權)人：劉可滇，
類型：實用新型
國別省市：